【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种用于鳍式场效晶体管(FinFET)器件的栅极应激源,包括:底面,形成在栅极层的第一部分上,所述栅极层设置在浅沟槽隔离(STI)区域上方;第一应激源侧壁,形成在所述栅极层的第二部分上,所述栅极层的第二部分设置在鳍的侧壁上;以及第二应激源侧壁,形成在所述栅极层的第三部分上,所述栅极层的第三部分设置在与所述鳍间隔开的结构的结构侧壁上,所述第一应激源侧壁与所述第二应激源侧壁没有超过所述鳍的高度。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:巫凯雄,奧野泰利,简珮珊,曾伟雄,
申请(专利权)人:台湾积体电路制造股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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