一种碳化硅静电感应器件制造技术

本实用新型专利技术公开了一种碳化硅静电感应器件，目的在于，降低器件开态电阻、提升功率特性，所采用的技术方案为：包括自下而上依次设置的第二N型欧姆接触电极、N型SiC衬底、P型SiC缓冲层、P型SiC漂移层和P型SiC电流增强层，P型SiC电流增强层上刻蚀形成有若干个台阶，相邻台阶之间设有沟槽，台阶顶部设置有P型SiC欧姆接触层，P型SiC欧姆接触层上部设置有P型欧姆接触电极，沟槽内设置有N型SiC欧姆接触区，N型SiC欧姆接触区与台阶侧面、沟槽底部和P型SiC欧姆接触层均接触，位于沟槽底部的N型SiC欧姆接触区的上部设置有第一N型欧姆接触电极。

Silicon carbide electrostatic induction device

The utility model discloses a silicon carbide electrostatic induction device, aims to reduce device on resistance and enhance the power characteristics, the technical proposal is as follows: second from bottom to top are sequentially arranged N type ohmic contact electrode, N type SiC type P substrate, SiC buffer layer, P type and P type SiC SiC drift layer the current enhancement layer, P type SiC current enhancement layer etched to form a plurality of steps, groove is arranged between adjacent steps, the step is arranged on the top of P SiC ohmic contact layer, P type ohmic contact layer is arranged on the upper part of the SiC P type ohmic contact electrode, the groove is arranged inside the N SiC type ohmic contact region, N SiC ohmic contact area and the step side, the bottom of the trench and P type ohmic contact layer are SiC contact, the upper N type SiC ohmic contact area is located at the bottom of the trench is provided with a first N type ohmic contact electrode.

【技术实现步骤摘要】
一种碳化硅静电感应器件
本技术涉及半导体器件以及半导体工艺
，具体涉及一种碳化硅静电感应器件。
技术介绍
随着科学技术的迅猛发展，对功率半导体器件的性能提出了越来越高的要求。目前使用的功率器件主要由硅等传统半导体材料制成，由于受材料性能的限制，器件的电学性能已经难以持续的大幅提高；而且用这些材料制成的器件不能在高温强辐射等恶劣环境下长期工作，特别是在新能源、汽车电子、航空航天等领域中，传统的硅功率器件已经逐渐难以胜任。在众多新型半导体材料中，碳化硅(SiC)材料以其良好的物理和电学性能成为制造新一代半导体功率器件和电路的首选材料。尤其是高温、高压和高频电力电子应用领域，SiC功率器件更具有硅功率器件难以比拟的优势和潜力。近年来，SiC器件的商用化有了很大的进展，包括Cree、英飞凌、罗姆等多家公司可以提供包括SiCSBD、JFET、MOSFET商用产品，但是SiC功率器件的广泛应用还面临着很多的挑战。特别是SiC全控型功率器件的发展相对较慢，目前市场上只有少数国外公司可以提供种类比较单一的SiC全控型功率器件，而且价格高昂，难以广泛应用于民用领域。在众多的SiC功率器件类型中，SiCJFET是电压控制的单极型器件，具有单步制备工艺相对成熟且不存在MOS界面层质量问题等优点，一直是中等额度电压SiC功率器件的研究热点，并成为了首款商用的SiC全控型功率器件，但至今未能广泛推广。其中最大的问题是SiCJFET的正、反向特性都同时敏感的依赖于沟道区域的结构和工艺参数，这给高功率常关型SiCJFET的结构设计和工艺研制带来了困难，提高了器件制备成本，影响了器件的应用。为了解决常关型SiCJFET折中开态电阻和关态特性困难的问题，引入电导调制效应是比较理想的选择，常见的方案有两种：一是将SiCJFET工作于双极模式下(BJFET/BMFET)，让栅源PN结正偏向沟道内注入的少数载流子以调制开态电阻；二是采用类似于SITH(静电感应晶闸管)的结构，在漏极引入一个PN结。其中第一种方案虽然不增加工艺难度，但需要栅极由电压驱动转变为电流驱动，不仅会增大驱动功率、增加驱动电路复杂度；同时由于栅极注入只能调制沟道低掺杂区的电导率，所以该方案的应用价值有限。而静电感应晶闸管可以看出JFET与PIN的串联，即具有SiCJFET工艺成熟、易驱动的优点，又具有更强烈的电导调制效应。与BJFET相比，SITH漏端PN结注入的少子可以有效的调制整个漂移区的电导率，有效降低器件的开态电阻。
技术实现思路
为了解决现有技术中的问题，本技术提出一种有利于降低器件开态电阻、提升功率特性的碳化硅静电感应器件。为了实现以上目的，本技术所采用的技术方案为：包括自下而上依次设置的第二N型欧姆接触电极、N型SiC衬底、P型SiC缓冲层、P型SiC漂移层和P型SiC电流增强层，所述P型SiC电流增强层上刻蚀形成有若干个台阶，相邻台阶之间设有沟槽，所述台阶顶部设置有P型SiC欧姆接触层，P型SiC欧姆接触层上部设置有P型欧姆接触电极，P型欧姆接触电极的形状与P型SiC欧姆接触层相同，所述沟槽内设置有N型SiC欧姆接触区，N型SiC欧姆接触区与台阶侧面、沟槽底部和P型SiC欧姆接触层均接触，位于沟槽底部的N型SiC欧姆接触区的上部设置有第一N型欧姆接触电极，所述P型欧姆接触电极、第一N型欧姆接触电极和第二N型欧姆接触电极均包括依次沉积的Ni层和Pt层。所述N型SiC衬底的掺杂浓度为1×1018～1×1019cm-3。所述P型SiC缓冲层的厚度为0.5～2.0μm，掺杂浓度为1×1016～5×1017cm-3。所述P型SiC漂移层的厚度为材料中空穴扩散长度的0.4～0.9倍，掺杂浓度Ndrift为1×1014～8×1015cm-3。所述P型电流增强层的掺杂浓度NCSL为1×1016～1×1017cm-3，沟槽底部的P型电流增强层的厚度为0.5～2μm。所述台阶高度为1.5～3.5μm，台阶宽度为的1.0～2.0倍。所述P型欧姆接触层的掺杂浓度为1×1018～1×1019cm-3，厚度为0.2～0.5μm。所述P型欧姆接触电极的Ni层厚度为200nm～400nm，Pt层厚度为50nm～200nm；第二N型欧姆接触电极的Ni层厚度为200nm～400nm，Pt层的厚度为50nm～200nm；第一N型欧姆接触电极的Ni层厚度为200nm～400nm，Pt层的厚度为50nm～200nm。与现有技术相比，本技术采用N型SiC衬底，通过与P型SiC漂移层形成PN结提供少子注入以获得电导调制效应，并在N型SiC衬底与P型SiC漂移层之间设置P型SiC缓冲层以避免穿通，在P型SiC漂移层与P型SiC欧姆接触层之间设置P型SiC电流增强层以降低沟道区的阻抗。对于常规结构的SiCJFET，器件的开态电阻和击穿电压都敏感依赖于沟道区的材料参数，难以折中。尤其是对于常关型器件，很难同时获得低开态电阻和高击穿电压。本技术的P沟碳化硅静电感应晶闸管通过采用N型SiC衬底，形成的少子注入调制低掺杂的P型SiC漂移层，通过对结构参数的优化设计让电导调制效应可以覆盖整个漂移区，即少子扩散长度大于漂移区厚度，即可显著削弱漂移区掺杂对开态电阻的影响。对于这种类型的器件，理论上有N沟，即采用N型的沟道和漂移层和P沟，即P型的沟道和漂移层两种技术方案，即分别采用采用空穴和电子作为衬底注入的少子以调制沟道区的电导率。一般情况下电子的扩散长度要比空穴的扩散长度长，比如SiC中电子的少子扩散长度Ln为10～25μm，而空穴的扩散长度Lp为5～12μm。因此，采用P型沟道可以获得更强的电导调制效应，从而可以进一步降低漂移区厚度和掺杂浓度，从而获得高击穿电压。本技术提出的结构能够有效解决传统SiCJFET存在的问题，同时获得低开态电阻和高击穿电压，提高设计灵活度，降低工艺难度，新颖合理，实用性强。进一步，为了获得高的击穿电压，需要降低漂移区掺杂浓度和增加漂移区的厚度，但这都会显著增大开态电阻。由于漂移层的厚度由电导调制效应决定，且开态电阻不再受漂移区掺杂浓度的影响，本技术通过采用低掺杂的漂移区以获得高击穿电压。采用本方案的设计后，开态电阻和击穿电压分别由两个参数决定，大大增加了设计灵活度。进一步，器件关态时，栅耗尽区很容易延伸到衬底，即发生穿通，这会导致器件的击穿特性变差。本技术在N型衬底和P型漂移层之间设置P型缓冲层，以避免穿通的发生，有利于提升击穿电压。进一步，由于采用了低掺杂的漂移层，沟道区的阻抗会显著上升，本技术在P型漂移层与欧姆接触层之间设置P型电流增强层以降低沟道区的阻抗，从而降低漂移层低掺杂对开态电阻的影响，提升器件性能，提高设计的灵活度。进一步，采用了本技术的结构后，设计和研制开态电阻低的常关型器件更为容易，设计方法是沟道宽度(即台阶宽度去掉掺杂深度)小于等于2倍栅耗尽层厚度，根据器件物理的知识，耗尽层厚度为其中VD为自建电势，对于SiC材料和本结构的特点，约等于附图说明图1为本技术的结构示意图；图2为本技术制造方法的流程图；图3a为本技术制造方法步骤一完成后的器件结构示意图，图3b为步骤二完成后的器件结构示意图，图3c为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种碳化硅静电感应器件，其特征在于，包括自下而上依次设置的第二N型欧姆接触电极(9)、N型SiC衬底(1)、P型SiC缓冲层(2)、P型SiC漂移层(3)和P型SiC电流增强层(4)，所述P型SiC电流增强层(4)上刻蚀形成有若干个台阶，相邻台阶之间设有沟槽，所述台阶顶部设置有P型SiC欧姆接触层(5)，P型SiC欧姆接触层(5)上部设置有P型欧姆接触电极(7)，所述沟槽内设置有N型SiC欧姆接触区(6)，N型SiC欧姆接触区(6)与台阶侧面、沟槽底部和P型SiC欧姆接触层(5)均接触，位于沟槽底部的N型SiC欧姆接触区(6)的上部设置有第一N型欧姆接触电极(8)，所述P型欧姆接触电极(7)的形状与P型SiC欧姆接触层(5)相同，所述P型欧姆接触电极(7)、第一N型欧姆接触电极(8)和第二N型欧姆接触电极(9)均包括依次沉积的Ni层和Pt层，所述P型SiC缓冲层(2)的厚度为0.5～2.0μm，所述P型SiC漂移层(3)的厚度为材料中空穴扩散长度的0.4～0.9倍，沟槽底部的P型电流增强层(4)的厚度为0.5～2μm，所述台阶高度为1.5～3.5μm，台阶宽度为

【技术特征摘要】
1.一种碳化硅静电感应器件，其特征在于，包括自下而上依次设置的第二N型欧姆接触电极(9)、N型SiC衬底(1)、P型SiC缓冲层(2)、P型SiC漂移层(3)和P型SiC电流增强层(4)，所述P型SiC电流增强层(4)上刻蚀形成有若干个台阶，相邻台阶之间设有沟槽，所述台阶顶部设置有P型SiC欧姆接触层(5)，P型SiC欧姆接触层(5)上部设置有P型欧姆接触电极(7)，所述沟槽内设置有N型SiC欧姆接触区(6)，N型SiC欧姆接触区(6)与台阶侧面、沟槽底部和P型SiC欧姆接触层(5)均接触，位于沟槽底部的N型SiC欧姆接触区(6)的上部设置有第一N型欧姆接触电极(8)，所述P型欧姆接触电极(7)的形状与P型SiC欧姆接触层(5)相同，所述P型欧姆接触电极(7)、第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨小艳，李佳，葛明，张林，
申请(专利权)人：长安大学，
类型：新型
国别省市：陕西,61