【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种非挥发性存储器的数据自动比较测试电路，其特征在于，数据自动比较测试电路包括：地址累加器、地址映射选择器、系统控制器、地址边界控制器；所述系统控制器为所述地址累加器、所述地址映射选择器和所述地址边界控制器提供控制信号；所述地址累加器由n位地址寄存器组成，用于完成数据自动比较测试电路的测试电路地址的加减；所述地址映射选择器在所述系统控制器的控制信号的控制下，实现所述地址累加器中的所述测试电路地址和非挥发性存储器中的非挥发性存储器地址之间的映射，并按照映射关系产生所述非挥发性存储器地址；所述地址边界控制器由段地址产生模块和段地址计算模块组成；所述段地址产生模块用于将所述非挥发性存储器分割成多个数据段，所述数据段的个数由所述系统控制器决定；所述段地址计算模块根据所述数据段的划分，计算各所述数据段的地址边界以及产生分段比较的停止条件。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：高璐，赵锋，雷冬梅，
申请(专利权)人：上海华虹NEC电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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