一种NVM内建自测电路的仿真测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种NVM内建自测电路的仿真测试系统，包括有测试主机；多个模拟模块、NVM芯片电路、NVM内建自测电路、自动检测模块。所述自动检测模块具体包括接口信号检测模块、系统状态检测模块、指令执行时序检测模块、测试完整性检测模块、数据输出模块以及测试向量输出模块。通过本发明专利技术的仿真测试系统，可以大大减少对NVM内建自测电路进行检测的工作量，并保证了测试的完整性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种NVM(Non-Volatile Memory,非易失性存储器)的仿真测试系统。
技术介绍
内建自测(Built-1n Self Test，简称BIST)技术是在电路设计中植入提供自我检测功能功能的电路，以此降低器件测试对自动测试设备(ATE)的依赖程度。BIST技术可以应用于几乎所有电路，因此在半导体工业被广泛应用。例如，在NVM中普遍使用的BIST技术包括在NVM电路中植入测试图形发生电路、时序电路、模式选择电路和调试测试电路等，它们被统称为BIST电路。请参阅图1，这是一种现有的NVM的BIST电路的仿真测试系统。该系统包括有测试主机I ;多个模拟模块21、22、23、……；NVM芯片电路31 ；NVM的BIST电路32。该系统对NVM的BIST电路32进行测试的过程如下。测试主机I通过接口总线STROBE、TDIO、TCK向N VM的BIST电路32发送测试指令。所述测试指令包括测试模式(TESTM0DE)等。NVM的BIST电路32执行接收到的指令，对NVM芯片电路31和各模拟模块21、22、23、……进行操作。NVM的BIST电路32再接收NVM芯片电路31和各模拟模块21、22、23、......所生成的仿真波形进行仿真正确性的验证。上述NVM的BIST电路的仿真测试系统具有以下缺点。其一是波形检测效率低。其二是工作量大。其三是调试困难。其四是不能提供硅片测试机台测试向量。其五是不能自动检测测试向量的完整性。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种对NVM的BIST电路进行自动检测的仿真测试系统，该系统可实现测试指令检测、指令执行时序检测、数据正确性检测及信息输出功倉泛。为解决上述技术问题，本专利技术一种NVM的BIST电路的仿真测试系统包括有测试主机；多个模拟模块、NVM芯片电路、NVM的BIST电路、自动检测模块；所述NVM内建自测电路与测试主机、各个模拟模块、NVM芯片电路相连接；所述自动检测模块与测试主机、各个模拟模块、NVM芯片电路、NVM内建自测电路相连接； 所述自动检测模块具体包括:对NVM内建自测电路的接口信号连接的准确性、以及NVM内建自测电路所接收指令的准确性进行检测的接口信号检测模块；对系统状态及各状态下的信号进行检测的系统状态检测模块；对NVM内建自测电路所接收指令的时序、并对各模拟模块和NVM内建自测电路的接口信号的时序进行检测的指令执行时序检测模块；对测试向量进行统计、并对测试向量的完整性进行检测的测试完整性检测模块；输出指令信息、指令执行时序信息、指令执行数据信息、错误信息、错误原因的数据输出模块；以及对NVM内建自测电路所接收指令输出为测试向量的测试向量输出模块。本专利技术实现了对NVM的BIST电路的自动检测、数据输出和测试向量输，具有如下优点:其一，实现了系统的状态检测，自动完成了各状态下的信号检测。其二，实现了 BIST电路的接口信号及指令检测，及各指令执行时序及数据检测。 其三，实现了检测信息的分类详细输出。其四，提供了测试向量的输出，可直接供硅片测试机台用。其五，完成了测试完成性的检测，保证测试向量的完整性。因此，通过 本专利技术的仿真测试系统，可以大大减少对NVM的BIST电路进行检测的工作量，并保证了测试的完整性。附图说明图1是一种现有的NVM的BIST电路的仿真测试系统的结构示意图2是本专利技术的NVM的BIST电路的仿真测试系统的结构示意图。图中附图标记说明:I为测试主机；21、22、23、……为各模拟模块；31为NVN芯片电路；32为NVM的BIST电路；4为自动检测模块；41为接口信号检测模块；42为系统状态检测模块；43为指令执行时序检测模块；44为测试完整性检测模块；45为数据输出模块；46为测试向量输出模块。具体实施方式请参阅图2，这是本专利技术一种NVM的BIST电路的仿真测试系统。该系统包括有测试主机I ;多个模拟模块21、22、23、……;NVM芯片电路31 ；NVM的BIST电路32 ；自动检测模块4。所述NVM的BIST电路32与测试主机1、各个模拟模块21、22、23、……、NVM芯片电路31相连接。测试主机1、多个模拟模块21、22、23、……和NVM芯片电路31构成NVM的BIST电路32的正常工作环境。所述自动检测模块4与测试主机1、各个模拟模块21、22、23、……、NVM芯片电路3UNVM的BIST电路32相连接。该自动检测模块4对所连接的各模块进行检测，实现数据检测和时序检测，并能对相关问题进行分析定位。所述自动检测模块4具体包括:——对NVM的BIST电路32的接口信号连接的准确性、以及NVM的BIST电路所接收指令的准确性进行检测的接口信号检测模块41 ；——对系统状态及各状态下的信号进行检测的系统状态检测模块42 ；——对NVM的BIST电路32所接收指令的时序、并对各模拟模块21、22、23、……和NVM的BIST电路32的接口信号的时序进行检测的指令执行时序检测模块43 ；—对测试向量进行统计、并对测试向量的完整性进行检测的测试完整性检测模块44 ；—输出指令信息、指令执行时序信息、指令执行数据信息、错误信息、错误原因的数据输出模块45 ；以及——对NVM的BIST电路32所接收指令输出为测试向量的测试向量输出模块46。该系统对NVM的BIST电路32进行测试的过程如下。测试主机I通过接口总线STROBE、TDIO、TCK向NVM的BIST电路32发送测试指令。所述测试指令包括测试模式(TESTM0DE)等。NVM的BIST电路32执行接收到的指令，对NVM芯片电路31和各模拟模块21、22、23、……进行操作。NVM的BIST电路32再接收NVM芯片电路31和各模拟模块21、22、23、……所生成的仿真波形。与此同时，自动检测模块4进行同步检测:接口信号检测模块41检测NVM的BIST电路32的接口信号，并对NVM的BIST电路32所接收到的指令与测试主机I所发送的指令进行自动比对，检测指令发送的正确性；还检测NVM的BIST电路32与测试主机I的接口信号连接的正确性。系统状态检测模块43检测系统当前的状态是否处于仿真初始、复位开始、复位结束、系统初始、系统执行及测试模式和非测试模式等，并检测各状态下相关信号是否跟设计规格一致。指令执行时序检测模块43根据检测到的有效指令分析其时序，如信号宽度、建立保持时间、信号顺序等，并据此对各模拟模块21、22、23、……和NVM芯片电路31的相关接口信号进行检测，确认其时序正确。`测试完整性检测模块44根据检测到的有效指令，判断当前数据的正确性。还对测试向量进行统计，完成测试向量完整性的检测。自动检测模块4的测试结果通过数据输出模块45进行输出，包括系统状态、当前测试、指令信息(例如当前指令)，指令执行时序信息、指令执行数据信息、错误信息、错误原因、检测完整性等，均分类输出。测试向量输出模块46将测试向量按16进制、8进制、2进制输出，可供硅片测试机台直接使用，方便了硅片测试机台调试。所述NVM的BIST电路的仿真检测系统通过自动检测，可自动检测出NVM的BIST电路32与NVM芯片电路31在连接和执行中存在的问题，并定位到相应的电路和指本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种NVM内建自测电路的仿真测试系统，其特征是，包括有测试主机；多个模拟模块、NVM芯片电路、NVM内建自测电路、自动检测模块；所述NVM内建自测电路与测试主机、各个模拟模块、NVM芯片电路相连接；所述自动检测模块与测试主机、各个模拟模块、NVM芯片电路、NVM内建自测电路相连接；所述自动检测模块具体包括：对NVM内建自测电路的接口信号连接的准确性、以及NVM内建自测电路所接收指令的准确性进行检测的接口信号检测模块；对系统状态及各状态下的信号进行检测的系统状态检测模块；对NVM内建自测电路所接收指令的时序、并对各模拟模块和NVM内建自测电路的接口信号的时序进行检测的指令执行时序检测模块；对测试向量进行统计、并对测试向量的完整性进行检测的测试完整性检测模块；输出指令信息、指令执行时序信息、指令执行数据信息、错误信息、错误原因的数据输出模块；以及对NVM内建自测电路所接收指令输出为测试向量的测试向量输出模块。

【技术特征摘要】
1.一种NVM内建自测电路的仿真测试系统，其特征是,包括有测试主机；多个模拟模块、NVM芯片电路、NVM内建自测电路、自动检测模块； 所述NVM内建自测电路与测试主机、各个模拟模块、NVM芯片电路相连接； 所述自动检测模块与测试主机、各个模拟模块、NVM芯片电路、NVM内建自测电路相连接； 所述自动检测模块具体包括: 对NVM内建自测电路的接口信号连接的准确性、以及NVM内建自测电路所接收指令的准确性进行检测的接口信号检测模块； 对系统状态及各状态下的信号进行检测的系统状态检测模块； 对NVM内建自测电路所接收指令的时序、并对各模拟模块和NVM内建自测电路的接口信号的时序进行检测的指令执行时序检测模块； 对测试向量进行统计、并对测试向量的完整性进行检测的测试完整性检测模块； 输出指令信息、指令执行时序信息、指令执行数据信息、错误信息、错误原因的数据输出丰旲块；以及 对NVM内建自测电路所接收指令输出为测试向量的测试向量输出模块。2.根据权利要求1所述的NVM内建自测电路的仿真测试系统，其特征是，所述接口信号检测模块检测NVM内建自测电路与测试主机的接口信号连接的正确性。3.根据权利要求1所述的NVM内建自测电路的仿真测试系统，其特征是，所述接口信号检测模块还对N...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷冬梅，赵锋，张爱东，
申请(专利权)人：上海华虹NEC电子有限公司，
类型：发明
国别省市：