用于制造第III族氮化物半导体发光器件的方法技术

技术编号:8745935 阅读:159 留言:0更新日期:2013-05-30 01:15
[问题]为了在制造在绝缘膜上具有反射膜的第III族氮化物半导体发光器件的过程中提高反射膜的耐热性。[解决方案]制造出样品(A)和样品(B),样品(A)具有在蓝宝石衬底(1)上顺序形成的由SiO2形成的第一绝缘膜(2)和反射膜(3),样品B具有在蓝宝石衬底(1)上顺序形成的由SiO2形成的第一绝缘膜(2)、反射膜(3)和由SiO2形成的第二绝缘膜(4),针对样品(A,B)中的每个样品,在热处理之前和在热处理之后,测量反射膜(3)在450nm的波长下的反射率。在600℃下实施三分钟的热处理。如图所示,使用具有至的Al厚度的Al/Ag/Al、具有的Al厚度的Ag/Al以及具有的Al厚度的Al/Ag/Al/Ag/Al,在热处理之后反射率为95%或更大,并且该反射率等于或大于Ag的反射率。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:户谷真悟出口将士守山实希
申请(专利权)人:丰田合成株式会社
类型:
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1