一种芯片及测试该芯片的方法技术

本发明专利技术实施例提供一种芯片及测试该芯片的方法，所述方法包括：所述第一发送装置接收所述测试装置发送的第一测试信号，将其转换成第二测试信号，并将所述第二测试信号发送到所述芯片外部；所述第一接收装置接收所述第二测试信号，并将其转发至所述第二发送装置；所述第二发送装置接收所述第二测试信号，将所述第二测试信号转换成第三测试信号，并将其发送到所述芯片外部；所述第二接收装置接收所述第三测试信号，并将其返回至所述测试装置；所述测试装置比较所述第三测试信号与所述第一测试信号是否一致，如果是，则所述芯片功能和性能正确。这样测试信号在芯片外部形成回路，可以采用一条测试路径测试多个装置的功能和性能是否正确。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于CMOS集成电路设计
，具体涉及一种具有转接功能的芯片及测试该芯片的方法。
技术介绍
USB接口是目前比较常用的接口技术，在日常生活中应用非常广泛，例如U盘、鼠标键盘与PC的连接、USB移动硬盘等。USB接口主要有USB1.1、USB2.0以及USB3.0等几种，其中，USB1.1接口主要支持低速(low 8卩66(1，1.51&/8)和全速(扣11 speed, 12Mb/s)USB信号的传输，USB2.0接口支持高速480Mb/sUSB信号的传输，USB3.0支持超速5Gb/sUSB信号的传输。随着USB技术的不断发展，需要对USB信号进行长距离传输。但是，采用USB线传输USB信号时仅能传输5m范围,无法实现长距离传输的目的。一种可行的解决方法是在发送端将USB信号转换成其他类型的信号进行传输，相应地在接收端将这些其他类型的信号再转换成USB信号以满足长距离传输的目的。但是，采用这种方法需要在发送端和接收端采用具有转接功能的芯片，该芯片能够实现USB信号和其他类型的信号之间的转换。因此，为实现USB信号的长距离传输，目前亟需一种具有转接功能的芯片。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种能够实现转接功能的芯片以及测试该芯片的方法。为实现上述目的，本专利技术的一个实施例提供一种芯片，所述芯片包括:第一接收装置，用于通过所述芯片上的第一引脚和第二引脚从所述芯片外部接收第一信号，并转发该第一信号；第二发送装置，用于接收所述第一接收装置发送的第一信号，将该第一信号转换成第二信号，并通过所述芯片上的第三引脚和第四引脚将该第二信号发送至所述芯片外部;第二接收装置，用于通过所述芯片上的所述第三引脚和第四引脚从所述芯片外部接收第三信号，并将该第三信号转发；第一发送装置，用于接收所述第二接收装置发送的第三信号、将第三信号转换成第四信号，并通过所述芯片上的所述第一引脚和第二引脚将该第四信号发送至所述芯片外部。优选地，所述芯片还包括第一时钟数据恢复装置、第一先进先出缓冲装置、第二时钟数据恢复装置、第二先进先出缓冲装置；其中，所述第一时钟数据恢复装置用于接收所述第一接收装置发送的所述第一信号、采样所述第一信号并对该第一信号进行格式转换成第五信号，同时从所述第一信号中恢复出其携带的第一时钟，并将所述第五信号和所述第一时钟一同发送至所述第一先进先出缓冲装置，其中所述第五信号处于第一时钟域；所述第一先进先出缓冲装置用于根据所述第一时钟将接收到的处于所述第一时钟域的所述第五信号同步到所述芯片的本地时钟域从而获得第六信号、并将处于所述本地时钟域的所述第六信号转发至所述第二发送装置；所述第二发送装置用于接收所述第一先进先出缓冲装置发送的处于所述本地时钟域的所述第六信号、对处于所述本地时钟域的所述第六信号进行格式转换成所述第二信号，并通过所述芯片上的所述第三引脚和第四引脚将所述第二信号发送至所述芯片外部；所述第二时钟数据恢复装置用于接收所述第二接收装置发送的所述第三信号、采样所述第三信号并对所述第三信号进行格式转换成第七信号，同时从所述第三信号中恢复出其携带的第二时钟，并将所述第七信号和所述第二时钟一同发送至所述第二先进先出缓冲装置，其中所述第七信号处于第二时钟域；所述第二先进先出缓冲装置用于根据所述第二时钟将接收到的处于所述第二时钟域的所述第七信号同步到所述芯片的本地时钟域从而获得第八信号、并将处于所述本地时钟域的所述第八信号转发至所述第一发送装置；所述第一发送装置用于接收所述第二先进先出缓冲装置发送的处于所述本地时钟域的所述第八信号、对处于所述本地时钟域的所述第八信号进行格式转换成所述第四信号，并通过所述芯片上的所述第一引脚和所述第二引脚将所述第四信号发送至所述芯片外部。优选地，所述芯片还包括:第一装置断开检测器件，用于检测与所述芯片的第一引脚和第二引脚连接的器件是否断开；第一装置断开检测控制器件，用于控制所述第一装置断开检测器件；第二装置断开检测器件，用于检测与所述芯片的第三引脚和第四引脚连接的器件是否断开；第二装置断开检测控制器件，用于控制所述第二装置断开检测器件。另外，本专利技术实施例还提供一种测试上述芯片的方法，所述芯片还包括测试装置，所述方法包括:所述第一发送装置接收所述测试装置发送的第一测试信号，将所述第一测试信号转换成第二测试信号，并通过所述芯片上的第一引脚和第二引脚将所述第二测试信号发送到所述芯片外部；所述第一接收装置通过所述芯片上的所述第一引脚和第二引脚接收所述第二测试信号，并将所述第二测试信号转发至所述第二发送装置；所述第二发送装置接收所述第二测试信号，将所述第二测试信号转换成第三测试信号，并通过所述芯片上的第三引脚和第四引脚将所述第三测试信号发送到所述芯片外部;所述第二接收装置通过所述芯片上的所述第三引脚和第四引脚接收所述第三测试信号，并将所述第三测试信号返回至所述测试装置；所述测试装置比较所述第三测试信号与所述第一测试信号是否一致，如果是，则所述芯片功能和性能正确。优选地，所述芯片还包括第一时钟数据恢复装置、第一先进先出缓冲装置、第二时钟数据恢复装置、第二先进先出缓冲装置；所述第一接收装置将所述第二测试信号转发至所述第二发送装置，具体为:所述第一接收装置将所述第二测试信号发送至所述第一时钟数据恢复装置；所述第一时钟数据恢复装置采样所述第二测试信号并对所述第二测试信号进行格式转换成第四测试信号，同时从所述第二测试信号中恢复出其携带的第一时钟，并将所述第四测试信号和所述第一时钟一同发送至所述第一先进先出缓冲装置，其中所述第四测试信号处于第一时钟域；所述第一先进先出缓冲装置根据所述第一时钟将接收到的处于所述第一时钟域的所述第四测试信号同步到所述芯片的本地时钟域从而获得第五测试信号、并将处于所述本地时钟域的所述第五测试信号转发至所述第二发送装置；所述第二发送装置接收所述第二测试信号，将所述第二测试信号转换成第三测试信号，并通过所述芯片上的所述第三引脚和第四引脚将所述第三测试信号发送到所述芯片外部，具体为:所述第二发送装置接收处于所述本地时钟域的所述第五测试信号，将处于所述本地时钟域的所述第五测试信号转换成所述第三测试信号，并通过所述芯片上的所述第三引脚和第四引脚将所述第三测试信号发送到所述芯片外部；所述第二接收装置将所述第三测试信号返回至所述测试装置，具体为:所述第二接收装置将所述第三测试信号发送至所述第二时钟数据恢复装置；所述第二时钟数据恢复装置采样所述第三测试信号并对该第三测试信号进行格式转换成第六测试信号，同时恢复出所述第三测试信号携带的第二时钟，并将所述第六测试信号和所述第二时钟发送至所述第二先进先出缓冲装置，此时所述第五测试信号处于第_■时钟域；所述第二先进先出缓冲装置根据所述第二时钟将接收到的处于所述第二时钟域的所述第六测试信号同步到所述芯片的本地时钟域从而获得第七测试信号、并将处于所述本地时钟域的所述第七测试信号返回至所述测试装置；所述测试装置比较所述第三测试信号与所述第一测试信号是否一致，具体为:所述测试装置比较处于所述本地时钟域的所述第七测试信号与所述第一测试信号是否一致。优选地，所述第一发送装置通过所述芯片上的所述第一引脚和第二引脚将所述第二测试信号发送到本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片，其特征在于，所述芯片包括：第一接收装置，用于通过所述芯片上的第一引脚和第二引脚从所述芯片外部接收第一信号，并转发该第一信号；第二发送装置，用于接收所述第一接收装置发送的第一信号，将该第一信号转换成第二信号，并通过所述芯片上的第三引脚和第四引脚将该第二信号发送至所述芯片外部；第二接收装置，用于通过所述芯片上的所述第三引脚和第四引脚从所述芯片外部接收第三信号，并将该第三信号转发；第一发送装置，用于接收所述第二接收装置发送的第三信号、将第三信号转换成第四信号，并通过所述芯片上的所述第一引脚和第二引脚将该第四信号发送至所述芯片外部。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：边慧，付家喜，邰连梁，胡盛泉，任殿升，陈峰，储超群，刘清卫，李广仁，谢长倩，
申请(专利权)人：龙迅半导体科技合肥有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34