【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及微电子芯片
，更具体而言，涉及一种安全芯片的测试方法及装置。
技术介绍
芯片测试是芯片研发和产品化过程中的一个重要环节，芯片的测试一般要求达到真实反映芯片好坏情况的目的。对于安全类芯片的测试，由于涉及安全性的问题，除了要保证测试覆盖率完整和测试项可测试，还要求在测试过程中没有数据的泄漏，在完成测试后，需要销毁所有的测试代码，而且要求测试电路的功能是不可逆的。现有的芯片测试技术，测试通路采用保险电路连接，芯片即可进入测试状态，缺少准入机制；在测试完成后，采用切断保险电路的方式切断测试电路，而芯片测试包括圆片测试和封装测试两个阶段，在圆片测试完成后，通过物理隔断的方式断开圆片测试电路，而在封装测试阶段还需要进行圆片测试，此时圆片测试电路已经断开，无法恢复测试电路，所以封装测试阶段无法进行圆片测试的测试项目，只能进行部分功能测试，造成封装测试阶段的测试不完整，而且这种通过物理隔断的方式切断测试电路的方式，攻击者通过FIB (聚焦离子束，Focused 1n beam)可以修复芯片的测试功能。因此,现有的芯片测试技术,芯片的安全性差，而且测试覆盖率低...
【技术保护点】
一种安全芯片的测试方法，其特征在于，包括：接收输入的预设测试准入代码；接收进入芯片测试模式的测试准入口令；根据所述测试准入口令计算得到测试准入代码；如果所述测试准入代码与所述预设测试准入代码匹配成功，进入测试项的测试模式。
【技术特征摘要】
1.一种安全芯片的测试方法，其特征在于，包括: 接收输入的预设测试准入代码； 接收进入芯片测试模式的测试准入口令； 根据所述测试准入口令计算得到测试准入代码； 如果所述测试准入代码与所述预设测试准入代码匹配成功，进入测试项的测试模式。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括:在测试项测试完成后，清除所述预设测试准入代码。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在测试项测试完成后，清除所述预设测试准入代码，具体包括: 在测试项测试完成后，芯片自动清除所述预设测试准入代码。4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，在测试项测试完成后，所述方法还包括: 接收清除预设测试准入代码的指令； 所述清除所述预设测试准入代码具体为:根据所述指令清除所述预设测试准入代码。5.如权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，还包括: 如果所述测试准入代码与所述预设测试准入代码匹配不成功，清除所述预设测试准入代码； 记录清除所述预设测试准入代码的次数； 当所述次数到达预设阈值时，芯片进行报警。6.一种安全芯片的测试装置，其特征在于，包括: 第一接收单元:用于接收输入的预设测试准入代码； 第二接收单元:用于接收...
【专利技术属性】
技术研发人员：宋小伟，张炜，张君迈，
申请(专利权)人：北京华大信安科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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