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本发明实施例公开了一种安全芯片的测试方法及装置。所述方法包括：接收输入的预设测试准入代码；接收进入芯片测试模式的测试准入口令；根据所述测试准入口令计算得到测试准入代码；如果所述测试准入代码与所述预设测试准入代码匹配成功，进入测试项的测试模式...
该专利属于北京华大信安科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京华大信安科技有限公司授权不得商用。

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