【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于测试内存条參数的测试方法及其测试设备。
技术介绍
通常，内存条以及其他具有数据存储功能的集成芯片正常工作的性能參数，如电压、电流、功率等标称值，均标示在厂家提供的该芯片的资料库(Database)中。然而，标示在资料库中的性能參数的标称值往往与内存条实际工作时的所展现的工作性能參数有一定出入，尤其是内存条电源性能參数，例如输入电流或者输入功率，其往往标定的是内存条工作时的最大參数，例如最大输入功率或者输入电流。若直接采用所列性能參数的标称值，则在后续采用该内存条进行电路板设计时，则不能完全利用内存条的资源，造成资源的浪费。再或者技术人员为了防止后续设计出的电路板能够可靠地工作，则保守地按照比标称值小较多的性能參数进行设计，有可能与该内存条配合的电路模块或者内存条本身会出现工作不稳定的情形，导致该后续设计出的电路板的准确性与可靠性较差。。因此，为合理的设计具备该等内存条的电路板，通常会对该电路板的电压与电流输入端进行测量，以测量值估算该内存条的功耗。然而，由于电路板上设置有众多的电路及布线，測量值实际体现的是这个电路板的总体功耗，而不能准确的体现内存条的实际功耗，且该总功耗也无法准确地了解到该等内存条所涉及到的不同工作状态时的电压或电流的情況。因此，此种测试方法仍然存在无法准确、可靠地获得芯片各性能參数的实际值，导致电路的准确性与可靠性不高。
技术实现思路
为解决现有技术中内存条电源性能參数测试的准确性与可靠性较差的技术问题，提供一种可提高内存条电源性能參数的准确性与可靠性的测试方法以及测试设备。ー种测试设备，其包括一主电路板、一连接器与...
【技术保护点】
一种测试设备，其特征在于，其包括一主电路板、一连接器与一测试模组，该连接器与该测试模组设置于该主电路板上，该测试模组经由该连接器与主电路板电连接，该主电路板、该连接器与测试模组配合用于测试一待测试的内存条的电源性能参数，该连接器包括若干连接端，该若干连接端中包括至少一第一电源端，该至少一电源端用于连接对应该内存条的至少一电源引脚，该测试模组用于测试该内存条对应该至少一第一电源端的电源性能参数。
【技术特征摘要】
1.一种测试设备，其特征在于，其包括一主电路板、一连接器与一测试模组，该连接器与该测试模组设置于该主电路板上，该测试模组经由该连接器与主电路板电连接，该主电路板、该连接器与测试模组配合用于测试一待测试的内存条的电源性能参数，该连接器包括若干连接端，该若干连接端中包括至少一第一电源端，该至少一电源端用于连接对应该内存条的至少一电源引脚，该测试模组用于测试该内存条对应该至少一第一电源端的电源性能参数。2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，该测试模组包括有至少一测试端，该测试端电连接于该第一电源端，并且该至少一测试端的数目大于或等于该至少一第一电源端的数目。3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，除与该至少一第一电源端相连的该至少一测试端以外，该测试模组的其他测试端处于悬空状态。4.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，该测试模组的该至少一测试端与连接器的该至少一第一电源端的设置位置相对应。5.根据权利要求4所述的测试设备，其特征在于，该连接器的若干连接端与该内存条的若干引脚的功能保持一致，该测试模组插接于该连接器，该测试模组用于连接该内存条。6.根据权利要求1至5任...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈鹏，罗奇艳，童松林，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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