一种L波段测试设备及测试方法技术

本发明专利技术提供一种L波段测试设备及测试方法，所述L波段测试设备包括：对联射频口；信号处理器；收发模块，分别与所述信号处理器以及所述对联射频口联接；其中，在所述对联射频口联接所述L波段设备后，所述收发模块对测试信号上变频，经过所述收发模块处理将生成的L波段射频测试信号发送至所述L波段设备，当所述收发模块接收到回送信号时，通过所述多路开关相应通道接收处理后，对所述回送信号进行下变频后生成基带信号，所述信号处理器通过处理解算所述基带信号，获得所述L波段设备的测试参数。本发明专利技术提供的上述L波段测试设备解决了现有技术中测试L波段设备的指标时，存在测试方法繁琐以及误差较大的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
指定资源下载失败。(异常来自HRESULT:0x800C0008)指定的地址不存在或地址错误

【技术保护点】
一种L波段测试设备，其特征在于，包括：对联射频口，用于连接L波段设备；信号处理器；收发模块，分别与所述信号处理器以及所述对联射频口联接；其中，在所述对联射频口联接所述L波段设备后，控制所述信号处理器产生测试信号、本振控制、多路开关通道选择信号并处理所述L波段设备发射的回送信号，所述收发模块基于所述本振控制对所述测试信号上变频后，生成的L波段射频信号经所述收发模块中收发处理子模块处理后，通过多路开关选择后将生成的L波段射频测试信号发送至所述L波段设备，当所述收发模块接收到所述L波段设备发射回送信号时，通过所述多路开关相应通道接收处理后，基于所述本振控制，对所述回送信号进行下变频后生成基带信号，所述信号处理器通过处理解算所述基带信号，获得所述L波段设备的测试参数。

【技术特征摘要】
1.一种L波段测试设备，其特征在于，包括：
对联射频口，用于连接L波段设备；
信号处理器；
收发模块，分别与所述信号处理器以及所述对联射频口联接；
其中，在所述对联射频口联接所述L波段设备后，控制所述信号处理器产
生测试信号、本振控制、多路开关通道选择信号并处理所述L波段设备发射的
回送信号，所述收发模块基于所述本振控制对所述测试信号上变频后，生成的
L波段射频信号经所述收发模块中收发处理子模块处理后，通过多路开关选择
后将生成的L波段射频测试信号发送至所述L波段设备，当所述收发模块接收
到所述L波段设备发射回送信号时，通过所述多路开关相应通道接收处理后，
基于所述本振控制，对所述回送信号进行下变频后生成基带信号，所述信号处
理器通过处理解算所述基带信号，获得所述L波段设备的测试参数。
2.如权利要求1所述的L波段测试设备，其特征在于，所述信号处理器
具体包括：
DSP模块，用于接收模拟控制设备发送的控制指令集，将所述控制指令集
进行协议格式转换后存储在多片存储器相应地址中，并将转换后的数据发送至
与所述DSP模块连接的FPGA模块；其中，所述控制指令集包括用于产生预
设波形的测试信号波形控制指令、用于控制所述工作状态控制指令、用于控制
所述收发模块对所述测试信号进行上变频处理的上变频本振控制指令、控制所
述收发模块对所述回送信号进行下变频处理的下变频本振控制指令、用于选择
发射通道与接收通道的通道选择控制指令；
所述FPGA模块，用于在接收到所述控制指令集后，基于所述测试信号波
形控制指令，控制编码单元产生所述测试信号；将所述测试信号、所述上变频
本振控制指令、所述下变频本振控制指令送至所述收发模块，并将所述通道选
择控制指令与所述工作状态控制指令发送至所述多路开关，以控制确定所述发

\t射通道与接收通道以及工作状态；并在接收到所述回送信号进行处理得到基带
信号后，对所述基带信号进行处理解算，获得所述L波段设备的测试参数。
3.如权利要求2所述的L波段测试设备，其特征在于，所述收发模块具
体包括：
本振频率产生单元，基于所述FPGA模块产生的通道选择、状态控制信号
控制产生上变频、下变频需要的本振；基于所述上变频本振控制指令产生上变
频需要的上变频本振频率，以及基于所述下变频本振控制指令产生下变频需要
的下变频本振频率；
变频器，在发射所述L波段射频信号，基于所述上变频本振频率对所述测
试信号进行上变频处理，将上变频处理后的L波段射频信号送收发处理子模块
进行收发处理；以及在接收到所述回送信号时，基于所述下变频本振频率对所
述回送信号进行下变频处理，生成所述基带信号；
所述多路开关，分别与所述收发处理子模块和所述对联射频口连接，用于
在接收到所述工作状态控制指令与所述通道选择控制指令后，确定发射通道与
接收通道以及所述发射通道与所述接收通道的工作状态。...

【专利技术属性】
技术研发人员：史朝晖，
申请(专利权)人：四川九洲电器集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：四川;51