测试方法及使用该测试方法的自动测试设备技术

本发明专利技术公开一种测试方法，运用于自动测试设备，用以测试待测物的多个待测接脚，自动测试设备具有多个测试群组，每一个测试群组具有多个接脚测试单元，分别对应于一个类比数位转换器，所述测试方法包含以下步骤，第一控制单元依据选择信号决定每一个测试群组的读值排序表，第一控制单元依据读值排序表载入接脚测试单元的测试参数，接脚测试单元依据测试参数重复对待测接脚进行接脚测试，取得多个测试信号，类比数位转换器将测试信号转换成测试值，第二控制单元取得多个测试值，计算单元计算测试值的平均值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种自动测试的设备及方法，特别是有关于一种能同时测试多个待测接脚以及对单一个待测接脚进行多次测试的测试设备及方法。
技术介绍
每一个电子设备在出厂前，都需要通过自动测试设备(Automatic TestEquipment, ATE)进行功能测试，以确定电子设备的使用功能及品质。一个电子设备通常具有多个接脚需要进行测试。现行一种自动测试设备以接脚参数量测单兀(Per Pin Parametric Measurement Unit, PPMU)对应稱接于待测电子装置的接脚以进行接脚测试，再由一个类比数位转换器(Analog-to-Digital converter, ADC)稱接至PPMU，将PPMU的测试结果的类比信号转换为数位值，再由电脑进行读值。然而，此种自动测试设备仅具有一个ADC对多个PPMU的测试结果进行信号的转换，就需要花费很长的时间来进行接脚测试，进而增加电子设备在生产过程的成本。此外，在测试待测电子设备的接脚时，若只对待测电子设备的接脚进行一次测试，很可能造成测试上的误差。但若要对待一接脚进行多次的测试，现行软体的方式就需要执行多次的软体指令传送才能完成。以软体指令来控制测试，将会耗费许多传输通讯的时间，不仅增加了测试的总时间，在软体指令通讯的期间也可能造成测试结果的变化，而影响了测试结果的准确率。有鉴于现行自动测试设备在测试时所花费的长时间以及软体指令耗时又低准确率的问题，实有必要提出一种测试方法及自动测试设备，以缩减测试所花费的时间并提升测试准确率。
技术实现思路
本专利技术一种测试方法，通过群组化接脚测试单元，以达到在同一时间中同时对多个待测接脚进行接脚测试，并利用硬体自动执行的指令，达到多次测试同一个待测接脚的效果，进而提升测试的准确率。为达上述目的，本专利技术一种测试方法运用于一自动测试设备，用以测试待测物的多个待测接脚。自动测试设备具有多个测试群组，每一个测试群组具有多个接脚测试单元，且分别对应于一个类比数位转换器。每一个测试群组中的接脚测试单元耦接至对应的类比数位转换器，所述测试方法包含以下步骤。依据选择信号，决定每一个测试群组的读值排序表，读值排序表以测试顺序指定须进行接脚测试的接脚测试单元。依据测试顺序，载入每一个测试群组中须进行接脚测试的一个接脚测试单元的测试参数，每一个测试参数指示测试模式及测试次数。依据测试模式，已载入测试参数的接脚测试单元重复进行接脚测试达测试次数，据以取得多个测试信号。将已重复进行接脚测试的每一个接脚测试单元所取得的每一个测试信号转换成测试值。取得已重复进行接脚测试的每一个接脚测试单元的测试值。计算已重复进行接脚测试的每一个接脚测试单元的测试值平均。于本专利技术一实施例中，于载入每一个测试群组中须进行接脚测试的一个接脚测试单元的测试参数步骤中，包含切断每一个测试群组中全部的接脚测试单元。导通须进行接脚测试的其中一个测试接单元。于本专利技术一实施例中，更包含依据测试模式，载入已重复进行接脚测试的每一个接脚测试单元的增益参数及补偿参数。依据增益参数及补偿参数，校正已重复进行接脚测试的每一个接脚测试单元的测试值。于本专利技术一实施例中，于计算已重复进行接脚测试的每一个接脚测试单元的测试值平均步骤中，包含将每一个接脚测试单元经校正后的测试值累加，以及计算每一个接脚测试单元累加后的该些测试值的平均值。本专利技术一种自动测试设备，包含多个测试群组、第一控制单元、多个类比数位转换器、第二控制单元及计算单元。每一个测试群组具有多个接脚测试单元，每一个接脚测试单元依据测试模式，重复进行接脚测试达测试次数，据以取得多个测试信号。第一控制单元依据选择信号，决定每一个测试群组的读值排序表。读值排序表以测试顺序指定须进行接脚测试的接脚测试单元。第一控制单元再依据测试顺序，载入每一个测试群组中须进行接脚测试的接脚测试单元的测试参数。测试参数指示测试模式及测试次数。多个类比数位转换器耦接至第一控制单元，每一个类比数位转换器对应于一个测试群组，且测试群组中的接脚测试单元皆耦接至对应的类比数位转换器，用以将已重复进行接脚测试的接脚测试单元所取得的测试信号转换成测试值。第二控制单元耦接于类比数位转换器，用以取得已重复进行接脚测试的接脚测试单元所得到的测试值。而计算单元耦接于第二控制单元，用以计算已重复进行接脚测试的接脚测试单元所取得的的测试值平均。于本专利技术一实施例中，所述自动量测设备更包含多个多工器，每一个测试群组对应至一个多工器，多工器用以选择性切断或导通测试群组中的接脚测试单元。于本专利技术一实施例中，第一控制单元包含选择控制单元、排序单元及第一查表单元。选择控制单元用以接收选择信号。排序单元依据选择信号，决定每一个测试群组的读值排序表。第一查表单元与类比数位转换器耦接，依据每一个测试群组的测试顺序，载入每一个测试群组中须进行接脚测试的接脚测试单元的测试参数。参数记忆单元依据接脚测试单元，储存对应的测试参数。参数选择单元依据测试顺序，从参数记忆单元中载入须进行接脚测试的接脚测试单元的测试参数。于本专利技术一实施例中，所述自动测试设备更包含第二查表单元及校正单元。第二查表单元耦接至第一控制单元，依据测试模式载入增益参数及补偿参数。校正单元耦接至第二控制单元及第二查表单元，依据增益参数及补偿参数，校正已重复进行接脚测试的每一个接脚测试单元的测试值。第二查表单元更包含校正值记忆单元及校正值选择单元。校正值记忆单元依据测试模式，储存每一个接脚测试单元所对应的增益参数及补偿参数。校正值选择单元依据测试模式，从校正值记忆单元中，载入接脚测试单元所对应的增益参数及补偿参数。于本专利技术一实施例中，校正单元包含乘法器及第一加法器。乘法器依据增益参数，校正已重复进行接脚测试的每一个接脚测试单元的测试值。第一加法器依据补偿参数，校正已依据增益参数校正后的测试值。于本专利技术一实施例中，计算单元包含第二加法器及移位暂存器。第二加法器用以将每一个接脚测试单元经校正后的测试值累加。移位暂存器用以计算每一个接脚测试单元累加后的测试值的平均值。以上的关于本专利技术公开内容的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本专利技术的精神与原理，并且提供本专利技术的权利要求书更进一步的解释。【附图说明】图1为根据本专利技术一实施例所绘制的自动测试设备的示意图。图2为根据本专利技术一实施例所绘制的自动测试设备所用运用的测试方法的流程图。图3为根据本专利技术一实施例所绘制的读值排序表的示意图。图4为根据本专利技术另一实施例所绘制的自动测试设备的示意图。图5为根据本专利技术另一实施例所绘制的控制单元的框图。图6为根据本专利技术另一实施例所绘制的自动测试设备所用运用的测试方法的流程图。图7为根据本专利技术另一实施例所绘制的读值排序表的示意图。图8为根据本专利技术另一实施例所绘制的第一查表单元的框图。图9为根据本专利技术另一实施例所绘制的第二查表单元及校正单元的框图。图10为根据本专利技术另一实施例所绘制的测试方法中校正步骤的流程图。图11为根据本专利技术另一实施例所绘制的计算单元的框图。图12为根据本专利技术又一实施例所绘制的测试方法的状态图。其中:Chl-Ch64接脚测试单元1自动测试设备1 la-1 Id 测试群组13a-13d类比数位转换器15控制单元151第一控制单元153第二控本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试方法，运用于一自动测试设备，用以测试一待测物的多个待测接脚，其特征在于，该自动测试设备具有多个测试群组，每一该测试群组具有多个接脚测试单元并分别对应于一类比数位转换器，每一该测试群组中的该些接脚测试单元耦接至对应的该类比数位转换器，所述测试方法包含：依据一选择信号，决定每一该测试群组的一读值排序表，该读值排序表以一测试顺序指定须进行接脚测试的该些接脚测试单元；依据该测试顺序，载入每一该测试群组中须进行接脚测试的该些接脚测试单元其中之一的一测试参数，每一该测试参数指示一测试模式及一测试次数；依据该测试模式，已载入该测试参数的该些接脚测试单元重复进行接脚测试达该测试次数，据以取得多个测试信号；将已重复进行接脚测试的每一该接脚测试单元所取得的每一该测试信号转换成一测试值；取得已重复进行接脚测试的每一该接脚测试单元的该些测试值；以及计算已重复进行接脚测试的每一该接脚测试单元的该些测试值的平均值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张友青，
申请(专利权)人：致茂电子苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32