中央处理器参数的测试方法及其测试设备技术

本发明专利技术提供一种中央处理器电源性能参数的测试设备与测试方法。测试设备包括一主电路板、一连接器与一测试模组，该连接器与该测试模组设置于该主电路板上，该测试模组经由该连接器与主电路板电连接，该主电路板、该连接器与测试模组配合用于测试一待测试的中央处理器的电源性能参数，该连接器包括若干连接端，该若干连接端中包括至少一第一电源端，该至少一电源端用于连接对应该中央处理器的至少一电源引脚，该测试模组用于测试该中央处理器对应该至少一第一电源端的电源性能参数。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于测试中央处理器参数的测试方法及其测试设备。
技术介绍
通常，中央处理器(Central Processing Unit, CPU)以及其他具有数据处理功能的集成芯片正常工作的性能参数，如电压、电流、功率等标称值，均标示在厂家提供的该芯片的资料库(Database)中。然而，标示在资料库中的性能参数的标称值往往与实际该芯片实际工作时的所展现的工作性能参数有一定出入，尤其是中央处理器电源性能参数，例如输入电压、输入电流或者输入功率。若直接采用所列性能参数的标称值，则在后续采用该等芯片进行电路板设计时，常常与该芯片配合的电路模块会出现工作不稳定的情形，导致该后续设计出的电路板的准确性与可靠性较差。因此，为合理的设计具备该等芯片的电路板，通常会对该电路板的电压与电流输入端进行测量，以测量值估算中央处理器的功耗。然而，由于电路板上设置有众多的电路及布线，测量值实际体现的是这个电路板的总体功耗，而不能准确的体现芯片的实际功耗，且该总功耗也无法准确地了解到该芯片所涉及到的不同工作状态时的电压或电流的情况。因此，此种测试方法仍然存在无法准确、可靠地获得芯片各性能参数的实际值，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试设备，其特征在于，其包括一主电路板、一连接器与一测试模组，该连接器与该测试模组设置于该主电路板上，该测试模组经由该连接器与主电路板电连接，该主电路板、该连接器与测试模组配合用于测试一待测试的中央处理器的电源性能参数，该连接器包括若干连接端，该若干连接端中包括至少一第一电源端，该至少一电源端用于连接对应该中央处理器的至少一电源引脚，该测试模组用于测试该中央处理器对应该至少一第一电源端的电源性能参数。

【技术特征摘要】
1.一种测试设备，其特征在于，其包括一主电路板、一连接器与一测试模组，该连接器与该测试模组设置于该主电路板上，该测试模组经由该连接器与主电路板电连接，该主电路板、该连接器与测试模组配合用于测试一待测试的中央处理器的电源性能参数，该连接器包括若干连接端，该若干连接端中包括至少一第一电源端，该至少一电源端用于连接对应该中央处理器的至少一电源引脚，该测试模组用于测试该中央处理器对应该至少一第一电源端的电源性能参数。2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，该测试模组包括有至少一测试端，该测试端电连接于该第一电源端，并且该至少一测试端的数目大于或等于该至少一第一电源端的数目。3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，除与该至少一第一电源端相连的该至少一测试端以外，该测试模组的其他测试端处于悬空状态。4.根据权利要求3所述的测试设备，测试模组的该至少一测试端与连接器的多个第一电源端的设置位置相对应。5.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，该连接器的若干连接端与该中央处理器的若干引脚的功能保持一致。6.根据权利要求1至5任意一项所述的测试设备，其特征在于，该测试设备提供一预定程序使得该中央处理器处于不同...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗奇艳，陈鹏，刘丹丹，童松林，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：