测试模式信号系统以及传送测试模式信号的方法技术方案

本发明专利技术公开了一种测试模式信号系统和用来传送多个测试模式信号的方法。所述测试模式信号系统包含用以产生多个（N个）测试模式信号的测试模式功能方块；用以依据指令信号来产生及输出脉冲信号、依据所述脉冲信号来将N个测试模式信号多路复用处理为多个信号集以及将所述多个信号集于M条信号线输出的测试模式传送功能方块，其中M小于N，使每一信号线均挟带N个测试模式信号中经多路复用处理的信号集；以及用以接收N个测试模式信号中经多路复用处理的所述多个信号集及所述脉冲信号以及依据所述脉冲信号来将N个测试模式信号中经多路复用处理的每一信号集进行解多路复用处理的测试信号接收功能方块。所述测试模式信号系统的电路面积可大幅减少。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及内存装置，特别涉及具有减少测试模式信号线数量的内存装置。
技术介绍
一般来说，为了在将内存装置(memory device)初始化(initialization)的期间(或是在重新设定(reset)内存装置之后)测试内存装置中个别电路的完整性(integrity)，会产生不同的测试模式信号(test mode signal)。上述的测试模式信号由一测试模式功能方块(test mode block,TM block)所产生,而一内存装置中可能会有单一个或多个测试模式功能方块。此外，无论测试模式功能方块的数量的多寡，测试模式功能方块通常会位于芯 片(chip)中央的附近，因此，得以轻易地将测试模式信号配送(route)至内存装置上所有的电路。由于内存装置中电路的数量与日俱增，所以信号配送(routing)变得较为复杂，再加上半导体组件尺寸微缩的因素，使得信号配送的问题显得更为棘手。
技术实现思路
本专利技术提供一种测试模式信号系统，其包含一测试模式功能方块、一测试模式传送功能方块以及一测试信号接收功能方块。所述测试模式功能方块用以产生多个(N个)测试模式信号。所述测试模式传送本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试模式信号系统，包含：一测试模式功能方块，用以产生多个（N个）测试模式信号；该测试模式信号系统的特征在于还包含：一测试模式传送功能方块，用以依据一指令信号来产生及输出一脉冲信号、依据所述脉冲信号来将所述N个测试模式信号多路复用处理为多个信号集，以及将所述多个信号集于M条信号线上输出，其中M小于N，以使得每一信号线均挟带所述N个测试模式信号之中经由多路复用处理的一信号集；以及一测试信号接收功能方块，用以接收所述N个测试模式信号之中经由多路复用处理的所述多个信号集及所述脉冲信号，以及依据所述脉冲信号来将所述N个测试模式信号之中经由多路复用处理的每一信号集进行解多路复用处理。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：杰森提摩太·法利奇万，普莱柏库马尔·马宗达，戴维尤吉尼·查普曼，
申请(专利权)人：南亚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：