测试模式信号系统以及传送测试模式信号的方法技术方案

本发明专利技术公开了一种测试模式信号系统和用来传送多个测试模式信号的方法。所述测试模式信号系统包含用以产生多个（N个）测试模式信号的测试模式功能方块；用以依据指令信号来产生及输出脉冲信号、依据所述脉冲信号来将N个测试模式信号多路复用处理为多个信号集以及将所述多个信号集于M条信号线输出的测试模式传送功能方块，其中M小于N，使每一信号线均挟带N个测试模式信号中经多路复用处理的信号集；以及用以接收N个测试模式信号中经多路复用处理的所述多个信号集及所述脉冲信号以及依据所述脉冲信号来将N个测试模式信号中经多路复用处理的每一信号集进行解多路复用处理的测试信号接收功能方块。所述测试模式信号系统的电路面积可大幅减少。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及内存装置，特别涉及具有减少测试模式信号线数量的内存装置。
技术介绍
一般来说，为了在将内存装置(memory device)初始化(initialization)的期间(或是在重新设定(reset)内存装置之后)测试内存装置中个别电路的完整性(integrity)，会产生不同的测试模式信号(test mode signal)。上述的测试模式信号由一测试模式功能方块(test mode block,TM block)所产生,而一内存装置中可能会有单一个或多个测试模式功能方块。此外，无论测试模式功能方块的数量的多寡，测试模式功能方块通常会位于芯 片(chip)中央的附近，因此，得以轻易地将测试模式信号配送(route)至内存装置上所有的电路。由于内存装置中电路的数量与日俱增，所以信号配送(routing)变得较为复杂，再加上半导体组件尺寸微缩的因素，使得信号配送的问题显得更为棘手。
技术实现思路
本专利技术提供一种测试模式信号系统，其包含一测试模式功能方块、一测试模式传送功能方块以及一测试信号接收功能方块。所述测试模式功能方块用以产生多个(N个)测试模式信号。所述测试模式传送功能方块用以依据一指令信号来产生及输出一脉冲信号、依据所述脉冲信号来将所述N个测试模式信号多路复用处理为多个信号集，以及将所述多个信号集于M条信号线上输出，其中M小于N，使得每一信号线均挟带所述N个测试模式信号之中经由多路复用处理的一信号集。所述测试信号接收功能方块用以接收所述N个测试模式信号中经由多路复用处理的所述多个信号集及所述脉冲信号，以及依据所述脉冲信号来将所述N个测试模式信号之中经由多路复用处理的每一信号集进行解多路复用处理。本专利技术还提供一种用来传送多个测试模式信号的方法，其包含接收一指令信号；依据所述指令信号来产生及输出一脉冲信号；产生多个(N个)测试模式信号；依据所述脉冲信号来将所述N个测试模式信号多路复用处理为多个信号集；将所述多个信号集于M条信号线上输出，其中M小于N，使得每一信号线均挟带所述N个测试模式中经由多路复用处理的一信号集；接收所述N个测试模式之中经由多路复用处理的所述多个信号集以及所述脉冲信号；以及依据所述脉冲信号来将所述N个测试模式之中经由多路复用处理的每一信号集进行解多路复用处理。本专利技术利用位于测试模式传送功能方块与测试模式接收功能方块之中的多个多路复用器以及产生于上述两功能方块之间的一脉冲信号，得以在单一信号线上将多个信号进行多路复用处理，并利用所述脉冲信号以及位于接收端的多个多路复用器，来将经由多路复用处理的信号独立地进行闩锁及解码，这样，测试模式信号系统所需的电路面积便可大幅减少。附图说明图I是本专利技术位在一内存装置之中的一测试模式信号系统的一实施例的示意图。图2、图3与图4A 4C是图I所示的测试模式传送功能方块的内部电路的示意图。图5是图2、图3与图4A 4C所产生的信号的时序图。图6是图I所示的测试模式接收功能方块的内部电路的示意图。图7是图6所产生的信号的时序图。其中，附图标记说明如下100测试模式信号系统 110测试模式功能方块130测试模式传送功能方块150测试模式接收功能方块200、300电路210、310、625、635闩锁器220、360、380延迟功能方块230、250、320、365、390、419、615 反相器240、330、340、370与非门350、417、427、437多路复用器415,425多路复用处理电路具体实施例方式为了解决上述现有技术中关于信号配送的问题，本专利技术利用在每一信号线(wire)上挟带多于一测试模式信号的方式，来提供一种可减少挟带测试模式信号的信号线的数量的方法及装置。请参阅图1，图I为本专利技术位在一内存装置(未绘示)中的一测试模式信号系统100的一实施例的示意图。测试模式信号系统100包含一测试模式功能方块110，其中测试模式功能方块110用来产生多个测试模式信号以及传送所述多个测试模式信号至一测试模式传送功能方块(test mode send block, TM send block) 130。如图I所示，测试模式功能方块Iio与测试模式传送功能方块130为两个个别设置的不同功能方块，然而，在一设计变化中，测试模式传送功能方块130可位于测试模式功能方块110之中。测试模式传送功能方块130还稱接于一测试模式接收功能方块(test mode receive block, TM RCV block),用以接收所述多个测试模式信号。虽然为了要简化说明，在图I中仅绘示一个测试模式接收功能方块，但测试模式功能方块110及测试模式传送功能方块130实际上可传送所述多个测试模式信号到多个测试模式接收功能方块，其中所述多个测试模式接收功能方块分别位于所述内存装置中其它不同的区域。此外，如上所述，所述内存装置可具有多个测试模式功能方块，而在图I中仅绘示单一组电路以简化说明。另外，所述内存装置可为一动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory, DRAM)、静态随机存取存储器(StaticRandom Access Memory,SRAM)、磁阻式随机存取存储器(Magnetoresistive Random AccessMemory, MRAM)等,此外,本专利技术经适当修改后，也可应用于逻辑装置(logic device)。测试模式功能方块110接收多个信号，包含一测试模式时脉信号(test modeclock, tmCLK)、地址线(address line)的信号，以及加载模式寄存器指令(load moderegister command,LMR command)的信号。如图I所不，依据上述的多个信号输入，测试模式功能方块110可产生多个(N个)测试模式信号，其中所述N个测试模式信号接着会经由测试模式传送功能方块130被配送到测试模式接收功能方块150。此外，测试模式传送功能方块130也会接收到多个加载模式寄存器指令(在此利用反相器(inverter)(并未显示于图中)，使得测试模式传送功能方块130会先接收反相的加载模式寄存器指令(invertedLMR command, LMRF))、测试模式时脉信号tmCLK以及测试模式完全清除信号(test modeall clear signal, tmCLRALL)，其中测试模式完全清除信号tmCLRALL利用传送多个预设测试模式值(default test mode value)来将测试模式信号系统100重新设定。传统上，测试模式传送功能方块130会将所述多个测试模式信号在所分别对应的信号线上输出，而在图I所示的测试模式信号系统100中，测试模式传送功能方块130会产生一脉冲信号 (pulsed signal)以及依据所述脉冲信号的时序(timing)来将至少两信号多路复用处理(multiplex)至单一信号线上。关于测试模式传送功能方块130将信号进行多路复用处理所运用的手段及电路说明如下，并且绘示于图2、图3及图4中。此外，经由多路复用处理的所述多个信号会连同所述脉冲信号被配送到测试模式接收功能方块150，使得测试模式接收功能方块150可将在同一信号线上所接收本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试模式信号系统，包含：一测试模式功能方块，用以产生多个（N个）测试模式信号；该测试模式信号系统的特征在于还包含：一测试模式传送功能方块，用以依据一指令信号来产生及输出一脉冲信号、依据所述脉冲信号来将所述N个测试模式信号多路复用处理为多个信号集，以及将所述多个信号集于M条信号线上输出，其中M小于N，以使得每一信号线均挟带所述N个测试模式信号之中经由多路复用处理的一信号集；以及一测试信号接收功能方块，用以接收所述N个测试模式信号之中经由多路复用处理的所述多个信号集及所述脉冲信号，以及依据所述脉冲信号来将所述N个测试模式信号之中经由多路复用处理的每一信号集进行解多路复用处理。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：杰森提摩太·法利奇万，普莱柏库马尔·马宗达，戴维尤吉尼·查普曼，
申请(专利权)人：南亚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：