一种薄膜晶体管阵列基板的制作方法技术

技术编号:8490764 阅读:160 留言:0更新日期:2013-03-28 17:19
本发明专利技术提供一种薄膜晶体管阵列基板的制作方法,包括:提供一衬底基板;在衬底基板上形成金属薄膜,由构图工艺形成包括栅线的图形;在形成栅线图形的衬底基板上形成栅绝缘层、半导体薄膜、掺杂半导体薄膜和数据金属层薄膜,由构图工艺形成包括图案化的栅绝缘层、位于栅绝缘层上的有源层、掺杂半导体层的图形,以及位于所述掺杂半导体层上的源电极、漏电极和数据线的图形;在形成源电极电极、漏电极和数据线的图形的衬底基板上形成钝化层;在形成钝化层的衬底基板上形成透明导电薄膜,由构图工艺形成包括像素电极的图形,像素电极通过贯穿钝化层的第一过孔与漏电极连接。本发明专利技术可以减少一次掩模板工艺,降低阵列基板的制作成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示
,特别是指。
技术介绍
在4Mask (4次掩模板)工艺技术中,过孔工艺都是通过在阵列基板上进行涂胶后,再先后的采用掩模板的掩膜、曝光、显影、刻蚀工艺完成过孔,然后再利用过孔实现不同层的导电薄膜的良好接触,这种工艺在实施过程中比较的复杂,工序比较的多。在过孔工艺的完成中耗费了大量的资金,大大的提高了生产的成本。例如涂胶过程中的光刻胶、掩膜过程中的掩模板、显影过程中的溶液和曝光、刻蚀设备等的成本都是很大的。在工序繁多的生产过程中,很容易带来工艺的管控不良,直接导致生产出的面板的不良显示。在实际的面板检测和不良分析中,很多的不良显示都是由于在过孔工艺时,容易在过孔处出现倒角、过刻等 工艺问题产生,如果产生过刻或是出现倒角或者是刻蚀过程中又残留,就会导致短路或者电阻过大,直接导致显示不良。并且如果在刻蚀工艺中管控不良,出现上述的问题将不是只是一个面板的问题,而是整张玻璃或者是一批玻璃将全部报废。另一方面由于干法刻蚀过孔的面积大,这样就会影响液晶面板的开口率,直接影响显示的亮度,影响产品的品质。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供,减少一次掩模板工艺,本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种薄膜晶体管阵列基板的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:S11,提供一衬底基板;S12,在所述衬底基板上形成金属薄膜,由构图工艺形成包括栅线的图形;S13,在完成步骤S12的衬底基板上形成栅绝缘层、半导体薄膜、掺杂半导体薄膜和数据金属层薄膜,由构图工艺形成包括图案化的栅绝缘层、位于栅绝缘层上的有源层、掺杂半导体层的图形,以及位于所述掺杂半导体层上的源电极、漏电极和数据线的图形;S14,在完成步骤S13的衬底基板上形成钝化层;S15,在完成步骤S14的衬底基板上形成透明导电薄膜,由构图工艺形成包括像素电极的图形,所述像素电极通过贯穿所述钝化层的第一过孔与所述漏电极连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:胡海琛郤玉生林鸿涛
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司北京京东方显示技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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