设备门和薄膜晶体管测试设备制造技术

本发明专利技术公开了一种设备门和薄膜晶体管测试设备，所述设备门用于封闭薄膜晶体管测试室，包括滑道结构和折页结构，所述滑道结构与所述薄膜晶体管测试室固定连接，所述滑道结构包括相对设置的第一滑道和第二滑道；所述折页结构包括多个折页，相邻折页之间通过转轴相互连接，所述折页的两端分别设置有滑道孔，所述第一滑道与所述第二滑道分别设置在对应的滑道孔之内，所述折页结构靠近前端的折页与所述滑道结构固定连接。本发明专利技术提供的技术方案通过折叠推拉方式进行设备门的开启和关闭，使得设备门不再占用薄膜晶体管测试室上方的空间，因此对薄膜晶体管进行测试时也就不再需要将显微镜移走，从而节省了测试时间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种设备门和薄膜晶体管测试设备。
技术介绍
现有技术之中，对薄膜晶体管的测试在测试室之中进行，为了保证测试环境为黑暗状态，每个测试室的上方设置有一个厚重的设备门。测试前，需要开启设备门，再将显微镜移到测试室的上方；测试时，需要移走显微镜，再将上述设备门关闭。然而，现有的设备门过于厚重，导致开启时需要浪费更多的人力。另外，对薄膜晶体管进行测试时必需将上述设备门向上开启，由于开启的设备门会占用薄膜晶体管测试室上方的空间，因此还需要将显微镜移走，这样无形之中浪费了很多测试时间。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术提供一种设备门和薄膜晶体管测试设备，至少部分解决现有的设备门浪费了很多测试的时间和人力的问题。为此，本专利技术提供一种设备门，用于封闭薄膜晶体管测试室，包括滑道结构和折页结构，所述滑道结构与所述薄膜晶体管测试室固定连接，所述滑道结构包括相对设置的第一滑道和第二滑道；所述折页结构包括多个折页，相邻折页之间通过转轴相互连接，所述折页的两端分别设置有滑道孔，所述第一滑道与所述第二滑道分别设置在对应的滑道孔之内，所述折页结构靠近前端的折页与所述滑道结构固定连接。可选的，所述折页的一侧通过转轴与前一个折页连接，所述折页的另一侧通过转轴与后一个折页连接。可选的，所述折页结构最前端的折页与所述滑道结构固定连接。可选的，所述第一滑道与所述第二滑道的后端向下弯曲。可选的，还包括挡光板结构，所述挡光板结构的形状与所述滑道结构的形状相互匹配，以遮挡所述滑道结构与所述折页结构相互接触的部分。可选的，所述挡光板结构包括第一挡光板和第二挡光板，所述第一挡光板设置在所述滑道结构的上方，所述第二挡光板设置在所述滑道结构的外侧。可选的，所述折页结构靠近前端的折页与所述滑道结构通过焊接方式固定连接。可选的，所述滑道结构与所述薄膜晶体管测试室通过螺纹连接方式固定连接。可选的，所述折页结构的最后端的折页上设置有把手。本专利技术还提供一种薄膜晶体管测试设备，包括薄膜晶体管测试室和任一所述的设备门。本专利技术具有下述有益效果：本专利技术提供的设备门和薄膜晶体管测试设备之中，所述设备门用于封闭薄膜晶体管测试室，包括滑道结构和折页结构，所述滑道结构与所述薄膜晶体管测试室固定连接，所述滑道结构包括相对设置的第一滑道和第二滑道；所述折页结构包括多个折页，相邻折页之间通过转轴相互连接，所述折页的两端分别设置有滑道孔，所述第一滑道与所述第二滑道分别设置在对应的滑道孔之内，所述折页结构靠近前端的折页与所述滑道结构固定连接。本专利技术提供的技术方案通过折叠推拉方式进行设备门的开启和关闭，使得设备门不再占用薄膜晶体管测试室上方的空间，因此对薄膜晶体管进行测试时也就不再需要将显微镜移走，从而节省了测试时间。另外，本专利技术提供的设备门开启和关闭时，折页结构在滑道之上轻便快捷地滑动，从而节省了更多的人力。附图说明图1为本专利技术实施例一提供的一种设备门的结构示意图；图2为图1所示相邻折页之间的连接示意图；图3为图1所示折页的结构示意图；图4为实施例一提供的挡光板结构的结构示意图。具体实施方式为使本领域的技术人员更好地理解本专利技术的技术方案，下面结合附图对本专利技术提供的设备门和薄膜晶体管测试设备进行详细描述。实施例一图1为本专利技术实施例一提供的一种设备门的结构示意图。如图1所示，所述设备门用于封闭薄膜晶体管测试室，包括折页结构100和滑道结构200，所述滑道结构200与所述薄膜晶体管测试室固定连接，所述滑道结构200包括相对设置的第一滑道201和第二滑道202。优选的，所述滑道结构200与所述薄膜晶体管测试室通过螺纹连接方式固定连接。本实施例提供的技术方案通过折叠推拉方式进行设备门的开启和关闭，使得设备门不再占用薄膜晶体管测试室上方的空间，因此对薄膜晶体管进行测试时也就不再需要将显微镜移走，从而节省了测试时间。另外，本实施例提供的设备门开启和关闭时，折页结构在滑道之上轻便快捷地滑动，从而节省了更多的人力。图2为图1所示相邻折页之间的连接示意图，图3为图1所示折页的结构示意图。如图1和图2所示，所述折页结构100包括多个折页101，相邻折页之间通过转轴相互连接。可选的，所述转轴为细铁丝。所述折页101的两端分别设置有滑道孔102，所述第一滑道201与所述第二滑道202分别设置在对应的滑道孔102之内，所述折页结构100靠近前端的折页101与所述滑道结构200固定连接。可选的，所述折页结构100靠近前端的折页101与所述滑道结构200通过焊接方式固定连接。优选的，所述折页结构100最前端的折页101与所述滑道结构200固定连接。参见图2，所述折页101的一侧通过转轴与前一个折页连接，所述折页101的另一侧通过转轴与后一个折页连接。转轴的转动作用使得本实施例提供的技术方案可以通过折叠推拉方式进行设备门的开启和关闭，使得设备门不再占用薄膜晶体管测试室上方的空间，因此对薄膜晶体管进行测试时也就不再需要将显微镜移走，从而节省了测试时间。另外，本实施例提供的设备门开启和关闭时，折页结构在滑道之上轻便快捷地滑动，从而节省了更多的人力。参见图1，所述第一滑道201的后端向下弯曲，同时所述第二滑道202的后端向下弯曲。向下弯曲的第一滑道201以及向下弯曲的第二滑道202实现了对薄膜晶体管测试室的封闭，从而保证了测试环境的黑暗状态。另外，所述折页结构100的最后端的折页101上设置有把手102，用户通过上述把手102以折叠推拉方式进行设备门的开启和关闭，方便快捷地实现对薄膜晶体管测试室的封闭。图4为实施例一提供的挡光板结构的结构示意图。如图4所示，所述设备门还包括挡光板结构300，所述挡光板结构300的形状与所述滑道结构200的形状相互匹配，以遮挡所述滑道结构200与所述折页结构100相互接触的部分。优选的，所述挡光板结构300包括第一挡光板301和第二挡光板302，所述第一挡光板301设置在所述滑道结构200的上方，所述第二挡光板302设置在所述滑道结构200的外侧。在实际应用之中，所述滑道结构200与所述折页结构100相互接触的部分容易漏光，这样将会破坏薄膜晶体管测试室之中测试环境的黑暗状态。本实施例提供的挡光板结构300正好可以遮挡接触部分，从而防止漏光现象。具体来说，本实施例提供的第一挡光板301可以遮挡滑道结构200的上方，所述第二挡光板302可以遮挡滑道结构200的外侧，从而实现了对薄膜晶体管测试室的彻底封闭，最终保证了测试环境的黑暗状态。本实施例提供的设备门用于封闭薄膜晶体管测试室，包括滑道结构和折页结构，所述滑道结构与所述薄膜晶体管测试室固定连接，所述滑道结构包括相对设置的第一滑道和第二滑道；所述折页结构包括多个折页，相邻折页之间通过转轴相互连接，所述折页的两端分别设置有滑道孔，所述第一滑道与所述第二滑道分别设置在对应的滑道之内，所述折页结构靠近前端的折页与所述滑道结构固定连接。本实施例提供的技术方案通过折叠推拉方式进行设备门的开启和关闭，使得设备门不再占用薄膜晶体管测试室上方的空间，因此对薄膜晶体管进行测试时也就不再需要将显微镜移走，从而节省了测试时间。另外，本实施例提供的设备门开启和关闭时，折页结构在滑道之上轻便快捷地滑动，从而节省了更多的人力。实施例二本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种设备门，用于封闭薄膜晶体管测试室，其特征在于，包括滑道结构和折页结构，所述滑道结构与所述薄膜晶体管测试室固定连接，所述滑道结构包括相对设置的第一滑道和第二滑道；所述折页结构包括多个折页，相邻折页之间通过转轴相互连接，所述折页的两端分别设置有滑道孔，所述第一滑道与所述第二滑道分别设置在对应的滑道孔之内，所述折页结构靠近前端的折页与所述滑道结构固定连接。

【技术特征摘要】
1.一种设备门，用于封闭薄膜晶体管测试室，其特征在于，包括滑道结构和折页结构，所述滑道结构与所述薄膜晶体管测试室固定连接，所述滑道结构包括相对设置的第一滑道和第二滑道；所述折页结构包括多个折页，相邻折页之间通过转轴相互连接，所述折页的两端分别设置有滑道孔，所述第一滑道与所述第二滑道分别设置在对应的滑道孔之内，所述折页结构靠近前端的折页与所述滑道结构固定连接。2.根据权利要求1所述的设备门，其特征在于，所述折页的一侧通过转轴与前一个折页连接，所述折页的另一侧通过转轴与后一个折页连接。3.根据权利要求1所述的设备门，其特征在于，所述折页结构最前端的折页与所述滑道结构固定连接。4.根据权利要求1所述的设备门，其特征在于，所述第一滑道与所述第二滑道的后端向下弯曲。5.根据权利要求1所述的设...

【专利技术属性】
技术研发人员：谷玥，许倩文，薛静，宋玉冰，崔子巍，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11