放射线检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种在稠密地配置放射线检测器的情况下也能够减小不灵敏区域的放射线检测装置。放射线检测装置将夹着基板（20）的半导体元件（10）之间的距离设为XG1、将从一个放射线检测器（1）的半导体元件（10）到与该半导体元件（10）相对置且与一个放射线检测器（1）相邻接的其它的放射线检测器（1）的半导体元件（10）为止的距离设为XG2，将排列在Y方向的半导体元件（10）之间的距离设为YG1，将半导体元件间距（110）的横间距设为a、纵间距设为b、半导体元件（10）的放射线入射的面的宽度设为c、长度设为d、位于半导体元件（10）的两端部的元件内像素区域（10a）的长度设为e、被位于多个半导体元件（10）的两端部的元件内像素区域（10a）夹住的多个元件内像素区域（10a）的长度设为f的情况下，满足如下关系：c=a-(XG1+XG2)/2、d=b-YG1=2e+(n-2)f、e=b/n-YG1/2、f＝b/n。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本申请以2010年7月15日申请的日本国特愿2010-160582为基础，通过参考来包含其全部内容。本专利技术涉及一种放射线检测装置。特别是，本专利技术涉及一种使用检测Y线、X线等放射线的边缘导通(Edge-On)型的放射线检测器的放射线检测装置。
技术介绍
作为以往的放射线检测器，已知如下构成的放射线检测器(例如，参照专利文献I。):将层叠体设置在两个框架之间，用针脚(pin)来固定一个框架和另一个框架，该层叠体将多个共用电极板、多个半导体单元、以及多个电极板如共用电极板、半导体单元、电极板、半导体单元、共用电极板...那样进行层叠。在专利文献I所述的放射线检测器中，横向相邻接的一对半导体单元共享共用电极板，因此与以往相比能够减小无法检测放射线的区域，能够提高放射线的检测效率。专利文献1:美国专利第6236051号说明书
技术实现思路
但是，专利文献I的放射线检测器层叠共用电极板、半导体单元等多个结构构件而构成。在使用了这样的放射线检测器的放射线检测装置中，每当将结构构件堆积起来时各结构构件所具有的尺寸误差被相加，因此难以高密度地排列多个半导体单元、且减小无法检测放射线的区域(例如，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：柳主鉉，山田直之，井上慎一，蛭田昭浩，大久保千寻，
申请(专利权)人：日立民用电子株式会社，
类型：
国别省市：