在记录时、再现时产生部件的位置偏差、角度偏差的情况下，参考光的光束直径变化，对光信息记录介质的记录无益的多余的曝光増加，无法使参考光和信号光不干涉而进行适当的记录，全息图再现像的SNR劣化，存在这样的课题。本发明专利技术提供的光信息记录再现装置，通过对光信息记录介质照射信号光和参考光而形成全息图来记录信息，通过对全息图照射参考光来再现信息，其包括：将来自激光光源的激光分支为信号光和参考光的分支元件；对所述信号光附加二维信息的空间光调制部；对光信息记录介质照射信号光的物镜；在照射了参考光时检测来自信息记录介质的衍射光的光检测部；和配置在所述激光光源与所述分支元件之间、调节所述激光的光轴的光轴调节部。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及将信号光和参考光的干涉图案作为页数据向光信息记录介质记录信息、和/或从光信息记录介质再现信息的装置与方法。
技术介绍
目前，基于使用蓝紫色半导体激光的Blu-ray Disc (TM)标准，在民用方面也具有50GB左右的记录密度的光盘的商品化成为可能。今后，光盘也希望大容量化到和100GB?ITB这样的HDD (Hard Disk Drive:硬盘驱动器)容量相同程度。但是，为了用光盘实现这种超高密度，需要与基于短波长化和物镜的高NA化的高密度化技术不同的新的方式的高密度化技术。在进行有关下一代的存储技术的研究当中，利用全息术记录数字信息的全息记录技术引起关注。所谓全息图记录技术，是将通过空间光调制器进行了二维调制后的具有页数据的信息的信号光，在记录介质的内部与参考光重合，根据此时产生的干涉条纹图案在记录介质内产生折射率调制而将信息记录在记录介质上的技术。在信息的再现时，若向记录介质照射记录时所使用的参考光，则记录介质中所记录的全息图像衍射光栅那样起作用，产生衍射光。该衍射光作为包含相位信息在内均与所记录的信号光相同的光被再现。再现的信号光使用CMOS或CXD等光检测器高速地进行二维检测。这样，全息图记录技术通过通过一个全息图向光记录介质一次记录二维的信息，进而能够再现该信息，而且，能够在记录介质某处重写多个页数据，因此能够完成大容量且高速的信息的记录再现。在专利文献I中，记载为:“在全息图记录时，信号光与光信息记录介质的形态(板厚、角度、折射率等)无关，以与光学系统的光轴一致的状态来供给，而在再现时，再现光以因光信息记录介质的形态不同而偏差光学系统的光轴的状态被取出。于是，通过设置光轴偏差修正部并根据光轴的偏差量而移动受光系，能够维持合适的检测状态。先行技术文献专利文献专利文献1:日本特开2005 - 10599号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题但是，在光信息记录再现装置中，可以预料，记录时及再现时不仅对于光信息记录介质，而且对于配置的大量的光学部件，由于随时因温度变化引起的热膨胀和振动等原因，会产生位置偏差、角度偏差的情况。记录时、再现时产生了部件的位置偏差、角度偏差时，例如即使按照使信号光以最小的光束直径交迭的方式配置参考光的光学部件，由于部件偏差，参考光的光束直径也会变化，例如，可以预料，对光信息记录介质的记录没有帮助的多余的曝光增加，或不能使参考光和信号光不干涉地进行适当的记录等现象。这些现象成为妨碍高密度记录的原因之一。另外，由于光学部件偏差而产生像差，成为再现像的SNR劣化的原因。于是，本专利技术的目的是提供一种能够进行高质量的全息图的记录再现的。用于解决课题的技术方案上述课题例如通过权利要求中记载的专利技术来解决。专利技术效果根据本专利技术，能够提供能够进行高质量的全息图的记录再现的。【附图说明】图1是表示本专利技术的光拾取器的第一实施方式的图。图2是表示本专利技术的光拾取器的第二实施方式的图。图3是表示本专利技术的光拾取器的角度偏差检测的实施方式的图。图4是表示本专利技术的光拾取器的、参考光相对于像差的角度偏差的灵敏度的图。图5是表示本专利技术的光拾取器的、参考光相对于像差的位置偏差的灵敏度的图。图6(a)是表示本专利技术的光拾取器的用于进行光轴调节的第一实施方式的图。图6(b)是表示本专利技术的光拾取器的用于进行光轴调节的第一实施方式的图。图6(c)是表示本专利技术的光拾取器的用于进行光轴调节的第一实施方式的图。图7是表示本专利技术的光拾取器的用于进行光轴调节的第二实施方式的图。图8是表示本专利技术的光拾取器的用于进行光轴调节的第三实施方式的图。图9是表示本专利技术的光拾取器的用于进行光轴调节的第四实施方式的图。图10是利用全息照相术记录和/或再现数字信息的光信息记录介质的记录再现装置的框图。图11是表示光信息记录再现装置的记录、再现的动作流程的图。图12(a)是出货前调节的调节流程。图12(b)是记录和再现中的调节流程。图13(a)是光信息记录介质中的信号光和参考光的关系(剖视图)。图13(b)是光信息记录介质中的信号光和参考光的关系(俯视图)。【具体实施方式】以下，使用附图对本专利技术的实施方式进行说明。图1是表示本专利技术的光信息记录再现装置10的光拾取器11的光学系统构成的一例的图。首先对全息图的记录次序进行说明。激光等光源101出射的光束透过光束整形元件104被整形成正圆形状。经由反射镜109透过了配置在中继透镜110的焦点距离的快门111的光，其后通过光隔离器112防止向光源101返回的光，例如通过由1/2波片等构成的光学元件113以P偏振光和s偏振光的光量比变为所要求的比的方式控制偏振方向后，向PBS(Polarizat1n Beam Splitter:偏振分束器)棱镜 115 入射。透过了 PBS棱镜115的光束用作信号光116，光束直径被光束扩展器117扩大后，透过相位掩模118、中继透镜119、PBS棱镜120向空间光调制器121入射。通过空间光调制器121附加了信息的信号光，被PBS棱镜120反射，再经由中继透镜122以及多方过滤器(Polytopic Filter) 123传播。之后，信号光通过物镜124聚光到光信息记录介质I。另一方面，被PBS棱镜115反射后的光束用作参考光125，被作为俯仰方向的角度调节用元件的例如楔形棱镜127控制参考光的光束直径，通过用于防止光信息记录介质I的多余的曝光的缝隙128后，向检流计反射镜130入射。检流计反射镜130可通过促动器调节角度，因此能够将通过扫描透镜131后向光信息记录介质I入射的参考光的入射角度设定为所要求的角度。另外，为了设定参考光的入射角度，也可以代替检流计反射镜而使用转换参考光的波前的元件。这样通过使信号光和参考光在光信息记录介质I中以互相重合的方式入射，在记录介质内形成干涉条纹图案，通过将该图案写入光信息记录介质而记录信息。另外，由于利用检流计反射镜130能够改变向光信息记录介质I入射的参考光的入射角度，因此可以进行角度复用的记录。接着，对全息图的再现次序进行说明。使参考光125向光信息记录介质I入射，透过了光信息记录介质I的光束通过由1/4波片等构成的光学元件132，被利用促动器而能够进行角度调节的检流计反射镜133反射，再次通过光学元件132，由此，转换了参考光的偏振状态，生成再现用参考光。由该再现用参考光再现的再现光，经物镜124、中继透镜122以及多方过滤器123进行传播。之后，再现光透过PBS棱镜120向光检测器133入射，能够再现所记录的信号。作为光检测器133，例如可以使用CMOS图像传感器和CCD图像传感器等撮像元件，但只要可以再现页数据，任何元件都可以。图2是表示光拾取器11的另一构成的图。经光源201出射的光束透过准直透镜202向快门203入射。快门203打开时，光束通过快门203后，被例如由1/2波片等构成的光学元件204以P偏振光和s偏振光的光量比成为所要求的比的方式控制偏振方向后，向偏振分束器205入射。透过了偏振分束器205的光束经由偏振分束器207向空间光调制器208入射。被空间光调制器208附加了信息的信号光206被偏振分束器207反射，经过具有仅使规定入射角度的光线透过的特性的角滤波器(Angl本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光信息记录再现装置，其通过对光信息记录介质照射信号光和参考光而形成全息图来记录信息，通过对光信息记录介质的全息图照射参考光来再现信息，所述光信息记录再现装置的特征在于，包括：出射激光的激光光源；将来自所述激光光源的所述激光分支为信号光和参考光的分支元件；用于对所述信号光附加二维信息的空间光调制部；用于对光信息记录介质照射信号光的物镜；在照射了参考光时检测来自光信息记录介质的衍射光的光检测部；和配置在所述激光光源与所述分支元件之间、用于调节所述激光的光轴的光轴调节部。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员：长吉真弓，星泽拓，山崎和良，保坂诚，
申请(专利权)人：日立民用电子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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