本发明专利技术实现对全息记录介质的适当的记录再现。包括：使上述全息记录介质绕规定的旋转轴旋转的介质旋转部；能够使介质旋转部的位置在与上述旋转轴垂直的面内移动的移动部；能够在与包括上述信号光的光轴和上述全息记录介质的法线的入射面正交的方向上变更上述参考光对上述全息记录介质入射的正交入射角度的正交入射角度变更部；控制上述介质旋转部而使全息记录介质旋转的介质旋转控制部；进行上述移动部的定位控制的偏心补偿部；控制上述正交入射角度变更部的正交入射角度控制部；和计算上述正交入射角度的正交入射角度计算部，在上述介质旋转控制部控制介质旋转部而使上述全息记录介质旋转时，上述偏心补偿部进行上述移动部的定位控制之后，上述正交入射角度控制部基于上述正交入射角度计算部的计算结果，控制上述正交入射角度变更部变更上述参考光的上述正交入射角度。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及进行使用全息术的记录或再现的装置和全息再现方法。
技术介绍
当前，通过使用蓝紫色半导体激光的Blu-ray Disc (TM)标准，在民用中也能够实现具有50GB程度的记录容量的光盘的商品化。今后，在光盘中也要求100GB?ITB这样与HDD (Hard Disk Drive:硬盘驱动器)容量相同程度的大容量化。但是，为了在光盘中实现这样的超高密度，需要与通过短波长化和物镜高NA化实现的高密度化技术不同的新方式的高密度化技术。在进行关于下一代存储技术的研究中，利用全息术记录数字信息的全息记录技术受到了关注。全息记录技术指的是使被空间光调制器二维调制后的具有页数据信息的信号光在记录介质的内部与参考光重合，用此时产生的干涉条纹图案在记录介质内产生折射率调制从而将信息记录在记录介质中的技术。再现信息时，对记录介质照射记录时使用的参考光时，记录介质中记录的全息图起到如衍射光栅那样的作用而产生衍射光。该衍射光被再现为与记录的信号光包括相位信息在内为相同的光。对于再现的信号光，用CMOS或CXD等光检测器二维地高速检测。这样，全息记录技术能够用I个全息图在光记录介质中一并记录二维的信息，进而能够再现该信息，而且能够在记录介质的某个场所重叠写入多个页数据，所以能够实现大容量且高速的信息的记录再现。作为全息记录再现装置的结构，例如在专利文献I中有记载。该文献中记载了:“记录介质I的形状例如是盘状，被夹紧机构固定在主轴电机200上，通过主轴电机200旋转驱动而能够使记录介质上的可干涉性光束的照射位置在切向上移动。主轴电机200固定在螺杆电机201上，通过螺杆电机201进行旋转进给而能够使记录介质上的可干涉性光束的照射位置也在径向上移动。”现有技术文献专利文献专利文献1:日本特许4963509
技术实现思路
专利技术要解决的课题全息记录的一大优点在于能够记录大容量的数据这一点。但是，追求记录容量增大的情况下，需要使照射信号光和参考光的位置的定位控制的精度比以往更加提高。如专利文献I的结构那样，在主轴电机上固定全息记录介质的结构的情况下，例如偏心成为问题。偏心指的是主轴电机的旋转中心与圆盘状全息记录介质的中心不一致。关于偏心的原因，是因全息记录介质自身的偏心和安装在主轴电机的旋转轴上的全息记录介质固定部的偏心的组合而发生，它们都是在制造工艺中产生的偏心引起的。因此，存在每次将全息记录介质插入全息记录再现装置时，偏心的程度都变化这样的特征。专利文献I的结构中，通过分别用螺杆电机控制半径r、用主轴电机控制旋转角Θ而在全息记录介质上移动，变更照射信号光和参考光的位置。用图25说明存在偏心的情况下的课题。此处，为了简便，考虑在记录时不存在偏心地记录，在再现时存在偏心的情况。图25(a)示出了不存在偏心的情况下的理想的参考光照射位置，考虑再现在半径r和旋转角Θ记录的全息图的情况。点O是圆盘状全息记录介质的中心，点P是理想的参考光照射位置。此处，因为假设记录时不存在偏心地记录，所以在点P上记录有全息图。另一方面，图25(b)示出了存在偏心的情况下的全息图再现位置。示出了因为偏心，相对于圆盘状全息记录介质的中心0，主轴电机的旋转中心spO不一致的状态。此时，在以主轴电机的旋转中心spO为基准决定半径r的机构结构的情况下，参考光照射位置成为P’的位置。因为实际记录有全息图的是点P，所以再现时参考光没有对适当的位置照射。这样，参考光照射位置P’偏离了偏心量A p。现有技术中，通过控制因制造工艺而产生的偏心量Δρ，而使得即使产生该差异Ap也不会引起问题。S卩，减小偏心量Δρ，使得即使参考光照射位置偏离了 Δρ全息图也能够再现。为此，必须使偏心量小于参考光照射位置的定位容许量Ap_th。这样，存在偏心的情况下的课题的第一点，在于因参考光照射位置偏离Ap而导致全息图再现品质劣化。但是，另一方面，在全息图中也存在高密度记录的要求。实现高密度记录的情况下，参考光照射位置的定位容许量Ap_th减小。结果，难以使偏心量Ap小于参考光照射位置的定位容许量Ap_th而制造。该情况下，参考光照射位置是P’，全息图不能适当地再现。因此，为了再现目标全息图，需要再次进行被称为寻轨的定位动作。存在偏心的情况下的课题的第二点，在于因全息图再现失败而引起再现传输速率降低。以上说明了在记录时不存在偏心地记录、在再现时存在偏心的情况，但实际上在记录时也可能存在偏心。如果将图25 (b)置换为记录时进行说明，则点P是理想的全息图记录位置，点P’是实际的全息图记录位置。在记录时存在偏心的情况下，要在半径r和旋转角Θ记录的全息图的记录位置会偏离。在当初的再现时的说明中假设全息图被记录在理想位置即点P进行了说明，但在记录时存在偏心且与再现时的偏心不同的情况下，图25(b)中实际记录有全息图的位置不是点P而是别的位置。即，如果也考虑记录时的偏心，则上述第一和第二课题变得更加显著。但是，专利文献I完全没有考虑介质的偏心。这样，为了进行全息图的高密度记录，参考光照射位置的定位容许量Ap_th的要求变得严格，在现有技术中难以实现对全息记录介质的适当的记录再现。于是，本专利技术的目的在于提供一种实现对全息记录介质的适当的记录和/或再现的全息记录再现装置。用于解决课题的技术方案上述课题例如通过权利要求书中记载的专利技术解决。专利技术效果根据本专利技术，能够实现对全息记录介质的适当的记录和/或再现。【附图说明】图1是表示实施例1的全息记录再现装置的框图。图2是说明全息记录再现装置的记录原理的图。图3是说明全息记录再现装置的再现原理的图。图4(a)是全息记录再现装置中的直到记录或再现的准备完成的流程图。图4 (b)是全息记录再现装置中的记录处理的流程图。图4 (c)是全息记录再现装置中的再现处理的流程图。图5是实施例1中的寻轨处理的流程图。图6是实施例1中的正交入射角度优化处理的流程图。图7(a)示出了参考光的正交入射角度从最佳值偏移至负方向的情况下的光检测器的亮度分布。图7(b)示出了参考光的正交入射角度是最佳值的情况下的光检测器的亮度分布。图7(c)示出了参考光的正交入射角度从最佳值偏移至正方向的情况下的光检测器的亮度分布。图8(a)是说明本说明书中的入射角度和正交入射角度的图。图8(b)是说明本说明书中的入射角度和正交入射角度的图。图8(c)是说明本说明书中的入射角度和正交入射角度的图。图9是说明实施例1中的第一入射角度控制电路21的图。图10(a)是说明偏心补偿控制系统理想地工作的情况的图。图10(b)是说明不使用本专利技术的情况下的课题的图。图11(a)是将布拉格衍射条件代入全息图的再现的情况的图。图11 (b)是表示参考光的波数矢量Kr与光栅矢量(grating vector)的合成的图。图12(a)是说明Ewald球的图。图12(b)是说明发生了全息图的旋转的情况下的补偿方法的图。图13是说明实施例1中的全息记录介质的图。图14是用于说明实施例1中的各传感器的固定位置的图。图15是用于说明实施例1中的角度检测用标记和从旋转角度检测传感器输出的信号的图。图16(a)是用于说明实施例1中的偏心检测用标记的图。图16(b)是说明实施例1中的第一偏心检测传感器的输出信号的图。图17本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种照射信号光和参考光来对全息记录介质进行信息的记录或再现的全息记录再现装置，其特征在于，包括：使所述全息记录介质绕规定的旋转轴旋转的介质旋转部；能够使介质旋转部的位置在与所述旋转轴垂直的面内移动的移动部；正交入射角度变更部，其能够在与包括所述信号光的光轴和所述全息记录介质的法线的入射面正交的方向上变更所述参考光对所述全息记录介质入射的正交入射角度；控制所述介质旋转部而使全息记录介质旋转的介质旋转控制部；进行所述移动部的定位控制的偏心补偿部；控制所述正交入射角度变更部的正交入射角度控制部；和计算所述正交入射角度的正交入射角度计算部，在所述介质旋转控制部控制介质旋转部而使所述全息记录介质旋转时，所述偏心补偿部进行所述移动部的定位控制之后，所述正交入射角度控制部基于所述正交入射角度计算部的计算结果，控制所述正交入射角度变更部变更所述参考光的所述正交入射角度。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员：尾上慎介，
申请(专利权)人：日立民用电子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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