放射线图像检测装置及放射线摄影系统制造方法及图纸

进行画质下降的担心少且不耗费劳力、不受格栅与剂量检测传感器的几何配置的错动的影响且稳定的AEC。在检测面板(35a)中接收X射线而蓄积电荷的多个像素(45)和检测X射线的剂量的多个检测像素(65)设于摄像面(36)。多个检测像素(65)隔开间隔而周期性地配置。在与摄像面(36)面对的位置上配置有将X射线吸收部(33)和X射线透过部(32)在第一方向上交替周期性地排列而成的格栅(18)。检测像素(65)的第一方向上的配置周期(S1)与在由检测面板(35a)拍摄格栅(18)的情况下得到的格栅检测信号(SG)的变动周期(1/FSG)不同，因此各检测像素(65)的输出值分散，输出值的平均值的变动幅度被抑制。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】放射线图像检测装置及放射线摄影系统
本专利技术涉及具备用于进行放射线图像的曝光控制的剂量检测传感器的放射线图像检测装置和使用了该放射线图像检测装置的放射线摄影系统。
技术介绍
在医疗领域中，已知有利用了放射线、例如X射线的X射线摄影系统。X射线摄影系统由产生X射线的X射线产生装置和通过透过了被摄体(患者)的X射线来拍摄被摄体的X射线图像的X射线摄影装置构成。X射线产生装置具有:朝向被摄体照射X射线的X射线源；控制X射线源的驱动的射线源控制装置；及将用于使X射线源动作的指示向射线源控制装置输入的照射开关。X射线摄影装置具有:检测基于透过了被摄体的X射线的X射线图像的X射线图像检测装置；及进行X射线图像检测装置的驱动控制、X射线图像的保存、显示的控制台。 作为X射线图像检测装置，使用了具有检测面板和电路部且将X射线图像作为电信号进行检测的图像检测部(称为平板检波器(FPD ;flat panel detector))的结构逐渐普及，该检测面板具有将蓄积与X射线的入射量对应的电荷的像素呈矩阵状排列而成的摄像面，该电路部驱动检测面板。检测面板在每个像素中蓄积信号电荷，并通过信号处理电路将所蓄积的电荷转换成电压信号，由此来检测被摄体的X射线图像，并将其作为数字的图像数据进行输出。X射线图像检测装置还有被称为电子暗盒的移动型的X射线图像检测装置。 在X射线摄影中，为了减少X射线透过被摄体时产生的散射线的影响，有时使用被称为格栅的散射线除去构件，将格栅配置于被摄体与X射线图像检测装置之间而进行摄影。格栅是如下结构:将由铅那样的吸收X射线而难以使X射线透过的物质构成的X射线吸收部和由铝那样的容易使X射线透过的物质构成的X射线透过部分别形成为细长的长条状，并将长条状的X射线吸收部和X射线透过部交替排列。由于X射线吸收部和X射线透过部在一个方向上交替排列，因此由X射线吸收部和X射线透过部形成条纹图案(条纹花样)。这样的格栅配置于检测面板的摄像面与被摄体之间。通过使用格栅，散射线在到达摄像面之前其大部分由格栅内的X射线吸收部吸收，因此能够得到散射线的影响较小且对比度较高的图像。格栅安装于摄影台或安装于X射线图像检测装置的框体而使用。 另外，表示格栅的种类的项目之一有格栅密度，该格栅密度表示每单位宽度的X射线吸收部的条数。作为格栅密度，例如，在26条/cm?100条/cm的范围内存在各种格栅密度。在格栅密度为40条/cm(4条/mm)的格栅的情况下，一组X射线吸收部与X射线透过部的宽度的总值即格栅间距成为250 μ m。 为了进行X射线图像的曝光控制，在X射线图像检测装置中存在具有自动曝光控制(AEC Automatic Exposure Control)功能的结构，该自动曝光控制在从X射线源照射的X射线的剂量达到预定的照射停止阈值时，使X射线源的X射线的照射停止(例如，参照美国专利6952465号(对应日本申请:日本特开2004-167075号公报)及美国专利6944266号(对应日本申请:日本特开2004-166724号公报))。在这样的X射线图像检测装置中设有检测透过了被摄体的X射线的剂量并输出与检测出的剂量相应的信号的剂量检测传感器。 美国专利6952465号中记载了如下的X射线图像检测装置:在检测面板的摄像面内，与像素另行地设有具有与500个像素相应量的长度的条纹状的剂量检测传感器。在美国专利6952465号中，以条纹状的剂量检测传感器的长度方向(条纹的方向)与格栅的条纹的方向不平行(例如正交)的方式配置剂量检测传感器，以即使在格栅与剂量检测传感器的相对的位置关系即几何配置发生了错动的情况下，也能够抑制剂量检测传感器所输出的信号的输出值的变动而进行稳定的AEC。 S卩，由于剂量检测传感器设于摄像面内，因此由于格栅的安装松动、格栅的制造误差等，格栅与剂量检测传感器的几何配置发生错动。格栅的X射线吸收部、X射线透过部的I条的宽度分别为ym级。因此，由于格栅的安装松动、制造误差，在格栅与剂量检测传感器之间容易引起X射线吸收部、X射线透过部的I条量左右的位置错动。当与格栅的几何配置发生错动时，即使X射线的照射量相同，X射线向剂量检测传感器的入射量也会变动，因此剂量检测传感器的输出值发生变动。这样的剂量检测传感器的输出值的变动幅度在剂量检测传感器的条纹的方向与格栅的条纹的方向平行的情况下变得最大。 例如，在剂量检测传感器的条纹的方向与格栅的条纹的方向平行的情况下，会产生条纹状的剂量检测传感器在长度方向的整个区域上隐藏在X射线吸收部的背后或者与此相反地位于X射线透过部的背后这样的状态。当剂量检测传感器的整个区域隐藏在X射线吸收部的背后时，在剂量检测传感器的整个区域上X射线的入射量变少，剂量检测传感器的输出值成为最小。与此相反地，即使X射线的照射量相同，由于在剂量检测传感器的整个区域位于X射线透过部的背后的情况下，在剂量检测传感器的整个区域上X射线的入射量也变多，因此剂量检测传感器的输出值成为最大。如此，当剂量检测传感器的条纹的方向与格栅的条纹的方向平行时，由格栅与剂量检测传感器的几何配置的错动引起的、剂量检测传感器的输出值的变动幅度变大。 因此，在美国专利6952465号中，将条纹状的剂量检测传感器配置成与格栅的条纹的方向不平行，由此，即使格栅与剂量检测传感器的几何配置发生错动，也始终是剂量检测传感器的一部分位于X射线吸收部的背后、另一部分位于X射线透过部的背后。这样一来，剂量检测传感器的一部分的X射线的入射量相对变低，但是在其他的部分中相对变多，因此剂量检测传感器的输出值被平稳化。因此，与将剂量检测传感器的条纹方向配置成与格栅的条纹方向平行的情况相比，由格栅和剂量检测传感器的几何配置的错动引起的剂量检测传感器的输出值的变动被抑制，能够进行稳定的AEC。 在美国专利6952465号的实施方式中，像素的尺寸为105 μ mX 105 μ m，剂量检测传感器为500个像素量，因此具有105ymX500 f= 52500 μ m(约50mm)左右的长度。齐[J量检测传感器与一部分像素进行替换或者配置于相邻的像素之间的间隙。在将剂量检测传感器配置于像素之间的间隙的情况下，缩小与剂量检测传感器相邻的像素的尺寸，确保配置剂量检测传感器的空间。这样的剂量检测传感器在预定区域内配置多个。 另外，在美国专利6944266号中记载有如下的X射线图像检测装置:取代条纹状的剂量检测传感器，而使摄像面内的一部分像素作为剂量检测传感器发挥功能的检测像素(在美国专利6944266号中记载为AEC像素)。美国专利6944266号的像素利用了能够进行在保持所蓄积的电荷的状态下读出输出值的所谓非破坏性读出的结构，检测像素也能够进行非破坏性读出。 在美国专利6944266号的X射线图像检测装置中，检测像素也配置于摄像面内，因此与美国专利6952465号同样地，由于格栅和检测像素的几何配置的错动而使检测像素的输出值产生变动。在美国专利6944266号中，针对各检测像素的输出值发生变动的问题，通过对各检测像素的输出值进行校正的校准来应对。 具体而言，在美国专利6944266号中，在主摄影前，在安装有格栅的状本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种放射线图像检测装置，能够使用将吸收放射线的放射线吸收部和使放射线透过的放射线透过部在第一方向上交替周期性地配置而成的散射线除去用格栅来进行摄影，所述放射线图像检测装置的特征在于，具备：检测面板，具有设有多个接收从放射线源照射的放射线的像素的摄像面，所述像素接收透过了被摄体的放射线而检测被摄体的放射线图像；及多个剂量检测传感器，为了进行所述放射线图像的曝光控制而设置，在所述摄像面内隔开间隔而在所述第一方向上周期性地配置，检测透过了被摄体的放射线的剂量而输出与所述剂量相应的信号，反映所述放射线吸收部与所述放射线透过部的所述第一方向上的排列状态且输出值周期性地变动的格栅检测信号的变动周期与所述摄像面上的所述多个剂量检测传感器的所述第一方向上的配置周期不同，所述格栅检测信号是在向所述摄像面均匀地照射所述放射线并利用所述检测面板拍摄所述散射线除去用格栅的情况下得到的表示所述散射线除去用格栅的图像的格栅检测信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.04.20 JP 2012-0962761.一种放射线图像检测装置，能够使用将吸收放射线的放射线吸收部和使放射线透过的放射线透过部在第一方向上交替周期性地配置而成的散射线除去用格栅来进行摄影， 所述放射线图像检测装置的特征在于，具备: 检测面板，具有设有多个接收从放射线源照射的放射线的像素的摄像面，所述像素接收透过了被摄体的放射线而检测被摄体的放射线图像；及 多个剂量检测传感器，为了进行所述放射线图像的曝光控制而设置，在所述摄像面内隔开间隔而在所述第一方向上周期性地配置，检测透过了被摄体的放射线的剂量而输出与所述剂量相应的信号， 反映所述放射线吸收部与所述放射线透过部的所述第一方向上的排列状态且输出值周期性地变动的格栅检测信号的变动周期与所述摄像面上的所述多个剂量检测传感器的所述第一方向上的配置周期不同，所述格栅检测信号是在向所述摄像面均匀地照射所述放射线并利用所述检测面板拍摄所述散射线除去用格栅的情况下得到的表示所述散射线除去用格栅的图像的格栅检测信号。2.根据权利要求1所述的放射线图像检测装置，其特征在于， 所述剂量检测传感器的配置周期不是所述格栅检测信号的变动周期的整数倍。3.根据权利要求1所述的放射线图像检测装置，其特征在于， 所述剂量检测传感器的配置周期与所述格栅检测信号的变动周期是互质数。4.根据权利要求1所述的放射线图像检测装置，其特征在于， 所述剂量检测传感器在与所述第一方向正交的第二方向上的配置周期也与所述格栅检测信号的变动周期不同。5.根据权利要求4所述的放射线图像检测装置，其特征在于， 所述剂量检测传感器的所述第二方向上的配置周期与所述第一方向上的配置周期相同。6.根据权利要求1所述的放射线图像检测装置，其特征在于， 一个所述剂量检测传感器的最小尺寸与所述摄像面内的所述像素的尺寸相同。7.根据权利要求1所述的放射线图像检测装置，其特征在于， 所述像素的像素间距比所述散射线除去用格栅的一组所述放射线吸收部和所述放射线透过部的宽度即格栅间距的1/2大。8.根据权利要求1所述的放射线图像检测装置，其特征在于， 所述剂量检测传感器是利用了 一部分所述像素的检测像素。9.根据权利要求4所述的放射线图像检测装置，其特征在于， 所述剂量检测传感器是利用了一部分所述像素的检测像素， 在多个所述检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：田岛崇史，桑原健，北川祐介，
申请(专利权)人：富士胶片株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP