放射线图像取得装置制造方法及图纸

本发明专利技术的一个方面的放射线图像取得装置具备：放射线源，其朝向对象物射出放射线；保持部，其保持对象物；波长变换构件，其根据从放射线源射出并透过了对象物的放射线的入射而产生闪烁光；第1摄像机构，其将从波长变换构件的放射线的入射面射出的闪烁光聚光并摄像；第2摄像机构，其将从波长变换构件的入射面的相反侧的面射出的闪烁光聚光并摄像；保持部位置调整机构，其在放射线源与波长变换构件之间调整保持部的位置；以及摄像位置调整机构，其调整第1摄像机构的位置。

【技术实现步骤摘要】
放射线图像取得装置本申请是申请日为2013年6月18日、申请号为201380038705.6、专利技术名称为放射线图像取得装置的专利申请的分案申请。
本专利技术涉及放射线图像取得装置。
技术介绍
以往，如下述专利文献1所记载，已有如下的装置：将从X射线源发射并透过了摄像对象物的X射线照射于平板状的闪烁器，由层叠在闪烁的两面的固体光检测器检测出在闪烁器中发光的可视光(闪烁光)，将从各个固体光检测器输出的图像信号重叠以取得放射线图像。在该装置中，使光检测元件耦合于闪烁器中的X射线的入射面及其背面，在入射面侧的光检测元件与背面侧的光检测元件的各个中检测出可视光，由此提高可视光的检测效率。另外，如下述专利文献2所记载，已有如下的装置：使用相互重叠的两块闪烁器和1块检测器，在检测器的一个面检测出从入射面侧的闪烁器射出的闪烁光，在检测器的另一个面中检测出从相反侧的闪烁器射出的闪烁光。在该装置中，在检测器的各个面，以两种不同的波长形成图像。专利文献专利文献1：日本特开平7-27866号公报专利文献2：日本特表2000-510729号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的技术问题然而，由于X射线源是点光源，因此，对象物有必要至少配置在X射线的照射区域。例如，成为摄像对象的对象物大并且要对该对象物的整体像进行摄像的情况下，有必要在更靠近闪烁器的位置配置对象物。通过使对象物接近闪烁器，从而能够降低相对于闪烁器的投影放大率，能够使对象物的整体像在闪烁器的范围内。本专利技术人锐意研究具备：将从闪烁器中的X射线的入射面射出的闪烁光聚光并摄像的第1摄像机构、以及将从入射面的相反侧的面射出的闪烁光聚光并摄像的第2摄像机构的放射线图像取得装置。在这样的放射线图像取得装置中，第1摄像机构即入射面侧的摄像机构位于以闪烁器为基准与对象物相同的侧。如上所述，为了调整放大率，在使对象物接近闪烁器的情况下，对象物有时会进入入射面侧的摄像机构的视野。如果对象物进入入射面侧的摄像机构的视野，则例如会在图像中产生对象物的“渐晕(vignetting)”。因此，期待能够防止对象物进入入射面侧的摄像机构的视野并且能够以所期望的放大率取得图像的放射线图像取得装置。本专利技术的目的在于，提供一种能够防止对象物进入入射面侧的摄像机构的视野并且能够以所期望的放大率取得图像的放射线图像取得装置。解决技术问题的手段本专利技术的一个方面的放射线图像取得装置，其特征在于，具备：放射线源，其朝向对象物射出放射线；保持部，其保持对象物；波长变换构件，其根据从放射线源射出并透过了对象物的放射线的入射而产生闪烁光；第1摄像机构，其将从波长变换构件的放射线的入射面射出的闪烁光聚光并摄像；第2摄像机构，其将从波长变换构件的入射面的相反侧的面射出的闪烁光聚光并摄像；保持部位置调整机构，其在放射线源与波长变换构件之间调整保持部的位置；以及摄像位置调整机构，其调整第1摄像机构的位置。根据该放射线图像取得装置，通过第1摄像机构和第2摄像机构，从波长变换构件的放射线的入射面和其相反侧的面射出的闪烁光分别被聚光并摄像。第1摄像机构是入射面侧的摄像机构，第2摄像机构是入射面的相反侧的摄像机构。通过利用保持部位置调整机构在放射线源与波长变换构件之间调整保持部的位置，从而能够使对象物接近波长变换构件或者远离波长变换构件。通过使对象物接近波长变换构件，能够降低放大率。通过使对象物远离波长变换构件而接近放射源，能够提高放大率。此处，即使在使对象物接近波长变换构件的情况下，通过利用摄像位置调整机构来调整第1摄像机构的位置，也能够防止对象物进入第1摄像机构的视野。因此，能够防止对象物进入入射面侧的摄像机构即第1摄像机构的视野，并且能够以所期望的放大率取得图像。摄像位置调整机构以第1摄像机构的光轴与波长变换构件的入射面相交的点为旋转中心，使第1摄像机构旋转。根据该结构，即使第1摄像机构的位置被调整，从波长变换构件至第1摄像机构的光路长度也不会改变。因此，对图像的修正变得容易。摄像位置调整机构一边保持第1摄像机构的光轴与波长变换构件的入射面所成的角度，一边使第1摄像机构和所述波长变换构件旋转。根据该结构，即使第1摄像机构的位置被调整，第1摄像机构的光轴与波长变换构件的入射面所成的角度也被恒定地保持，因此，对图像的修正变得更加容易。另外，不必频繁进行第1摄像机构中的校准，提高了便利性。摄像位置调整机构一边保持第2摄像机构的光轴与波长变换构件的相反侧的面所成的角度，一边使第1摄像机构与波长变换构件和第2摄像机构旋转。根据该结构，第1摄像机构、波长变换构件和第2摄像机构以上述的点为旋转中心一体移动。因此，即使第1摄像机构和第2摄像机构的位置被调整，第1摄像机构、波长变换构件和第2摄像机构的相对的位置关系也不会改变。因此，能够对容易进行图像间运算的图像摄像。另外，不必频繁进行第2摄像机构中的校准，提高了便利性。上述放射线图像取得装置具备检测出对象物是否进入所述第1摄像机构的视野的检测机构。根据该结构，利用检测机构检测出对象物是否进入第1摄像机构的视野，因此，能够切实防止图像中的“渐晕”。检测机构基于由第1摄像机构摄像的第1图像和由第2摄像机构摄像的第2图像，检测出对象物是否进入第1摄像机构的视野。根据该结构，能够精度高地检测出对象物是否进入第1摄像机构的视野。检测机构基于第1图像与第2图像的光强度差，检测出对象物是否进入第1摄像机构的视野。根据该结构，能够精度高地检测出对象物是否进入第1摄像机构的视野。检测机构基于第1图像与第2图像的差分图像，检测出对象物是否进入第1摄像机构的视野。根据该结构，能够精度高地检测出对象物是否进入第1摄像机构的视野。检测机构基于第1图像与第2图像的辉度比，检测出对象物是否进入第1摄像机构的视野。根据该结构，能够精度高地检测出对象物是否进入第1摄像机构的视野。检测机构基于在保持部被保持部位置调整机构移动的期间由第1摄像机构连续摄像的连续图像，检测出对象物是否进入第1摄像机构的视野。根据该结构，能够精度高地检测出对象物从第1摄像机构的视野脱离的时间点，或者，对象物进入第1摄像机构的视野的时间点。其结果是能够将波长变换构件与放射线源的倾斜角抑制至最小限度，容易取得倾斜(perspective)少的图像。上述放射线图像取得装置具备基于第1摄像机构、波长变换构件和第2摄像机构的旋转角度来进行由第1摄像机构摄像的第1图像和由第2摄像机构摄像的第2图像的图像运算的图像运算机构。根据该结构，能够得到对象物的计算机断层摄影(ComputedTomography，CT)图像。专利技术的效果根据本专利技术的一个方面，能够防止对象物进入入射面侧的摄像机构即第1摄像机构的视野，并且能够以所期望的放大率取得图像。附图说明图1是本专利技术的第1实施方式所涉及的放射线图像取得装置的立体图。图2是从别的角度看图1的放射线图像取得装置的立体图。图3是图1的放射线图像取得装置的平面图。图4是表示使对象物接近波长变换构件的状态的平面图。图5是表示调整了第1摄像机构的位置的状态的平面图。图6(a)～(c)是第1摄像机构所得到的摄像图像的例子。图7是表示第1摄像机构和波长变换构件的旋转角度的说明图。图8是表示利用旋转致动器的驱动的角度变更方法的图。图9是表示本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种放射线图像取得装置，其特征在于：具备：放射线源，其朝向对象物射出放射线；波长变换构件，其根据从所述放射线源射出并透过了所述对象物的所述放射线的入射而产生闪烁光；第1摄像机构，其对从所述波长变换构件的所述放射线的入射面射出的闪烁光进行摄像；以及调整机构，其一边保持所述第1摄像机构的光轴与所述波长变换构件的所述入射面所成的角度，一边使所述第1摄像机构和所述波长变换构件旋转。

【技术特征摘要】
2012.07.20 JP 2012-1619191.一种放射线图像取得装置，其特征在于：具备：放射线源，其朝向对象物射出放射线；波长变换构件，其根据从所述放射线源射出并透过了所述对象物的所述放射线的入射而产生闪烁光；第1摄像机构，其对从所述波长变换构件的所述放射线的入射面射出的闪烁光进行摄像；以及调整机构，其一边保持所述第1摄像机构的光轴与所述波长变换构件的所述入射面所成的角度，一边使所述第1摄像机构和所述波长变换构件旋转。2.如权利要求1所述的放射线图像取得装置，其特征在于：所述调整机构在所述入射面上具有旋转轴线。3.如权利要求2所述的放射线图像取得装置，其特征在于：所述旋转轴线与所述放射线源的光轴交叉。4.如权利要求2或3所述的放射线图像取得装置，其特征在于：所述旋转轴线与所述第1摄像机构的光轴交叉。5.如权利要求1～4中的任一项所述的放射线图像取得装置，其特征在于：所述第1摄像机构的光轴与所述波长变换构件的所述入射面所成的角度为90度。6.如权利要求1～5中的任一项所述的放射线图像取得装置，其特征在于：还具备：第2摄像机构，其对从所述波长变换构件的所述入射面的相反侧的面射出的闪烁光进行摄像。7.如权利要求6所述的放射线图像取得装置，其特征在于：所述调整机构一边保持所述第2摄像机构的光轴...

【专利技术属性】
技术研发人员：杉山元胤，须山敏康，
申请(专利权)人：浜松光子学株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP