一种集成电路开短路测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成电路开短路测试设备，包括电路板、电源适配器插座、测试目标集成电路活动插座、系统操作按键、系统显示屏、Handler控制接口、Microchip单片机、手动测试按键和外接64通道接口，所述的电路板上设有Microchip单片机、系统操作按键和系统显示屏，Microchip单片机通过电路板分别与系统操作按键和系统显示屏连接，系统操作按键通过电路板和系统显示屏连接。本实用新型专利技术通过系统操作按键设置操作参数，通过系统显示屏显示设置内容和测试结果，操作界面简单方便；以Microchip单片机作为控制核心CPU，以低成本、高效率的实现64通道以内所有集成电路的开短路测试。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种集成电路测试设备，尤其是一种集成电路开短路测试设备。
技术介绍
集成电路广泛应用于电子设备、通信遥控等各个行业中，其性能好坏直接影响着各种产品的质量。集成电路开短路测试设备是对集成电路进行性能测试的重要设备。集成电路的每个管脚上通常设有保护二极管，在测试集成电路前，需对每个管脚进行测试，在保护二极管良好的状态下再进行其他性能测试。目前常用的集成电路开短路测试设备操作界面复杂，测试范围和测试精度有限，难以保证测试的准确性和一致性，另外，较少具备Handler控制接口，难以实现全自动量产测试。因此，现有技术需进一步改进，从而低成本、高效率的实现集成电路开短路测试。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本技术提供一种操作简便、测试准确、可靠高效的集成电路开短路测试设备。本技术的技术方案为一种集成电路开短路测试设备，包括电路板、电源适配器插座、测试目标集成电路活动插座、系统操作按键、系统显示屏、Handler控制接口、Microchip单片机、手动测试按键和外接64通道接口，其特征在于所述的电路板上设有Microchip单片机、系统操作按键和系统显示屏，Microchip单片机分别与系统操作按键和系统显示屏连接，系统操作按键与系统显示屏连接，电源适配器插座、测试目标集成电路活动插座、Handler控制接口、手动测试按键和外接64通道接口均通过电路板内部互相连接。所述的Microchip单片机内带ADC高精度转换器。所述的系统操作按键包括D I S / S E T键、N E X T键、U P键和D O WN键。所述的测试目标集成电路活动插座为16、32和64脚的活动插座中的一种。本技术的有益效果为I、通过系统操作按键设置操作参数，通过系统显示屏显示设置内容和测试结果，操作界面简单方便； 2、通过测试目标集成电路活动插座放置目标集成电路,测试目标集成电路活动插座具有良好的导电性和灵活性，能保证测试结果的准确性；3、通过手动测试按键可以实现对目标集成电路的手动测试，能保证测试结果的一致性；4、以Microchip单片机作为控制核心CPU，创新测试技术和测试设备，CPU内置操作系统，测试短路精度高，同时采用矩阵测试原理，不存在短路误测，从而以低成本、高效率的实现64通道以内所有集成电路的开短路测试。附图说明图I为本技术所述的一种集成电路开短路测试设备的示意图。图中，I-电路板，2-电源适配器插座，3-测试目标集成电路活动插座，4-系统操作按键，5-系统显示屏,6-Handler接口，7-Microchip单片机,8-手动测试按键，9 -外接64 通道接口，41- D I S / S E T键，42-N E X T 键，43-U P 键和 44- D O WN键，71-ADC高精度转换器。具体实施方式以下结合附图对本技术的具体实施方式作进一步说明如图I所示，一种集成电路开短路测试设备，包括电路板I、电源适配器插座2、测试目标集成电路活动插座3、系统操作按键4、系统显示屏5、Handler控制接口 6、Microchip单片机7、手动测试按键8和外接64通道接口 9，其特征在于所述的电路板I上设有Microchip单片机7、系统操作按键4和系统显示屏5,Microchip单片机7通过电路板I分别与系统操作按键4和系统显示屏5连接，系统操作按键4通过电路板I和系统显示屏5连接，电源适配器插座2、测试目标集成电路活动插座3、Handler控制接口 6、手动测试按键8和外接64通道接口 9均通过电路板I内部互相连接。所述的Microchip单片机7内带ADC高精度转换器71。所述的系统操作按键4包括D I S / S E T键41、N E X T键42、U P键43和DO WN键 44。所述的测试目标集成电路活动插座3为16、32和64脚的活动插座中的一种。本技术通过系统操作按键设置操作参数，通过系统显示屏显示设置内容和测试结果，操作界面简单方便；通过测试目标集成电路活动插座放置目标集成电路，测试目标集成电路活动插座具有良好的导电性和灵活性，能保证测试结果的准确性；通过手动测试按键可以实现对目标集成电路的手动测试，能保证测试结果的一致性；以Microchip单片机作为控制核心CPU，创新测试技术和测试设备，CPU内置操作系统，测试短路精度高，同时采用矩阵测试原理，不存在短路误测，从而以低成本、高效率的实现64通道以内所有集成电路的开短路测试。因此，本技术操作简便，测试准确，可靠高效，能充分满足集成电路开短路测试的要求。权利要求1.一种集成电路开短路测试设备，包括电路板、电源适配器插座、测试目标集成电路活动插座、系统操作按键、系统显示屏、Handler控制接口、Microchip单片机、手动测试按键和外接64通道接口，其特征在于所述的电路板上设有Microchip单片机、系统操作按键和系统显示屏，Microchip单片机分别与系统操作按键和系统显示屏连接，系统操作按键与系统显示屏连接，电源适配器插座、测试目标集成电路活动插座、Handler控制接口、手动测试按键和外接64通道接口均通过电路板内部互相连接。2.根据权利要求I所述的集成电路开短路测试设备，其特征在于所述的测试目标集成电路活动插座为16、32或64脚的活动插座中的一种。3.根据权利要求I所述的集成电路开短路测试设备，其特征在于所述的系统操作按键包括D IS/SET键、NEX T键、U P键和D O W N键。4.根据权利要求I所述的集成电路开短路测试设备，其特征在于所述的Microchip单片机内带ADC高精度转换器。专利摘要本技术公开了一种集成电路开短路测试设备，包括电路板、电源适配器插座、测试目标集成电路活动插座、系统操作按键、系统显示屏、Handler控制接口、Microchip单片机、手动测试按键和外接64通道接口，所述的电路板上设有Microchip单片机、系统操作按键和系统显示屏，Microchip单片机通过电路板分别与系统操作按键和系统显示屏连接，系统操作按键通过电路板和系统显示屏连接。本技术通过系统操作按键设置操作参数，通过系统显示屏显示设置内容和测试结果，操作界面简单方便；以Microchip单片机作为控制核心CPU，以低成本、高效率的实现64通道以内所有集成电路的开短路测试。文档编号G01R31/02GK202794413SQ201220352688公开日2013年3月13日 申请日期2012年7月20日 优先权日2012年7月20日专利技术者李卫国, 杨富征, 谭永良 申请人:江门市华凯科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成电路开短路测试设备，包括电路板、电源适配器插座、测试目标集成电路活动插座、系统操作按键、系统显示屏、Handler控制接口、Microchip单片机、手动测试按键和外接64通道接口，其特征在于：所述的电路板上设有Microchip单片机、系统操作按键和系统显示屏，Microchip单片机分别与系统操作按键和系统显示屏连接，系统操作按键与系统显示屏连接，电源适配器插座、测试目标集成电路活动插座、Handler控制接口、手动测试按键和外接64通道接口均通过电路板内部互相连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李卫国，杨富征，谭永良，
申请(专利权)人：江门市华凯科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：