一种用于MT2008芯片测试的测试转接装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于MT2008芯片测试的测试转接装置，属于芯片测试控制领域，本实用新型专利技术包括芯片，芯片的下端设有用于与分选机连接的芯片测试待接接口区，芯片的左侧设有用于与测试机连接的两个高性能测试机接口，芯片的右侧设有用于与待测试MT2008芯片连接的两个分选机接口，高性能测试机接口区与分选机接口区之间设有功能测试区，本实用新型专利技术布局合理，接口分散在芯片的周边，中间为各种测试区，方便MT2008芯片测试时候的接线，可同时测试两个MT2008芯片，降低了每个芯片的测试时间和成本。

【技术实现步骤摘要】
一种用于MT2008芯片测试的测试转接装置
本技术涉及芯片测试控制领域，具体涉及一种用于MT2008芯片测试的测试转接装置。
技术介绍
MT2008芯片为一个单通道H桥接式可控制之DC马达驱动IC，由VCC接脚同时提供了马达驱动与逻辑控制电源。MT2008C为玩具、机器人以及其他低电压需求等动作控制应用提供了一个马达驱动的完整解决方案。驱动输出区块是由N通道与P通道功率MOSFET配置成一个H桥接式电路去驱动马达绕组。随着技术的发展，MT2008芯片已成为无人机驱动的动力来源，现有技术中，对H桥接式无人机马达驱动集成电路的测试基本只测试MT2008芯片是否能进行驱动，而MT2008芯片的阻抗、负载、极限参数等品质直接影响无人机在飞行过程中的可操控性，飞行稳定性等各项参数。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种用于MT2008芯片测试的测试转接装置。本技术的技术方案是：一种用于MT2008芯片测试的测试转接装置，包括芯片，芯片的下端设有用于与分选机连接的芯片测试待接接口区，芯片的左侧设有用于与测试机连接的高性能测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于MT2008芯片测试的测试转接装置，包括芯片，其特征在于：所述芯片的下端设有用于与分选机连接的芯片测试待接接口区，所述芯片的左侧设有用于与测试机连接的高性能测试机接口区，所述芯片的右侧设有用于与待测试MT2008芯片连接的分选机接口区，所述高性能测试机接口区与分选机接口区之间设有功能测试区，所述功能测试区包括阻抗测试区、芯片极限参数测试区、功能选择区、动态负载测试区，功能选择区与芯片测试待接接口区连接，芯片测试待接接口区与高性能测试机接口区、分选机接口区分别连接，功能选择区还分别与阻抗测试区、芯片极限参数测试区、动态负载测试区连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于MT2008芯片测试的测试转接装置，包括芯片，其特征在于：所述芯片的下端设有用于与分选机连接的芯片测试待接接口区，所述芯片的左侧设有用于与测试机连接的高性能测试机接口区，所述芯片的右侧设有用于与待测试MT2008芯片连接的分选机接口区，所述高性能测试机接口区与分选机接口区之间设有功能测试区，所述功能测试区包括阻抗测试区、芯片极限参数测试区、功能选择区、动态负载测试区，功能选择区与芯片测试待接接口区连接，芯片测试待接接口区与高性能测试机接口区、分选机接口区分别连接，功能选择区还分别与阻抗测试区、芯片极限参数测试区、动态负载测试区连接。

【专利技术属性】
技术研发人员：李卫国，杨富征，谭永良，李嘉颖，杨国健，何启文，黄炜庭，谭威，
申请(专利权)人：江门市华凯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44