【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及无损探伤检测
，特别是涉及一种红外热波技术，利用脉冲红外热波技术测量双层结构中第二层介质厚度的方法。
技术介绍
脉冲红外热波无损检测技术是二十世纪九十年代后发展起来的一种无损检测技术。此方法以热波理论为理论依据，通过主动对被检测物体施加脉冲热激励、并采用红外热像仪连续观察和记录物体表面的温场变化，并通过现代计算机技术及图像信息处理技术进行时序热波信号的探测、采集、数据处理和分析，以实现对物体内部缺陷或损伤的 定量诊断。缺陷深度测量是脉冲红外热波无损检测技术定量测量的一个重要应用，通常所指的缺陷深度测量是对单层介质或者多层介质的第一层介质厚度进行测量，一般都是通过获得温度时间曲线中的某特征时间进行计算。但是在红外热波技术的某些应用中，需要测量双层结构中第二层介质的厚度，比如，蜂窝结构积水量的测量，目前，在红外热波
还没有相关报道可以解决该问题。
技术实现思路
本专利技术提供一种，以解决
技术介绍
中存在的无法利用红外热波技术测量双层结构中第二层介质的厚度的技术问题。为此，本专利技术的一种，用于测量被测试件第二层介质厚度，包括如下步骤a、制作标准试...
【技术保护点】
一种基于红外热波技术的双层结构第二层介质厚度测量方法，用于测量被测试件第二层介质厚度，其特征在于，包括如下步骤：a、制作标准试件，该标准试件双层结构的材料与被测试件双层结构的材料均相同，标准试件第一层介质厚度与被测试件第一层介质厚度相同，标准试件第二层介质具有多个不同厚度d，且均已知，以最厚的为参考厚度；b、使用脉冲红外加热装置对标准试件第一层介质表面进行加热，同时使用红外热像仪获得标准试件第一层介质表面的热图序列；c、对测得的热图序列的热波降温数据进行归一化，不同厚度热波降温数据减去参考厚度热波降温数据，从而获得相对温差数据；d、对所获得的各个不同厚度相对温差数据乘以对应...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：曾智，陈大鹏，张存林，陶宁，冯立春，王迅，
申请(专利权)人：首都师范大学，北京维泰凯信新技术有限公司，重庆师范大学，
类型：发明
国别省市：
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