一种硅硅键合表面沾污的处理方法技术

技术编号:8408574 阅读:271 留言:0更新日期:2013-03-13 23:47
本发明专利技术涉及一种硅硅键合表面沾污的处理方法,包括以下步骤:a、制作一个与待键合硅片形状相适应的硅垫片,硅垫片表面沉积一层氮化硅薄膜;b、将硅垫片沉积氮化硅的一面与待键合硅片对准贴紧,放置于键合夹具中固定;c、将硅垫片以及待键合硅片进行预键合,预键合后揭下硅垫片,d、将预键合后的硅片进行烧结键合。本发明专利技术具有如下优点:(1)本发明专利技术不需要化学和物理手段去除,可以提高MEMS器件可动结构的完整性;(2)本发明专利技术简单实用,使用方法易于操作,适于生产加工中广泛应用。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种硅硅键合表面沾污的处理方法,其特征在于包括以下步骤:a、制作一个与待键合硅片形状相适应的硅垫片,硅垫片表面沉积一层氮化硅薄膜;b、将硅垫片沉积氮化硅的一面与待键合硅片对准贴紧,放置于键合夹具中固定;c、将硅垫片以及待键合硅片进行预键合,预键合后揭下硅垫片;d、将预键合后的硅片进行烧结键合。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈博郭群英徐栋黄斌何凯旋陈璞王文婧王鹏汪祖民
申请(专利权)人:华东光电集成器件研究所
类型:发明
国别省市:

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