一种选择性掺杂区域特性的检测方法技术

技术编号:8162518 阅读:234 留言:0更新日期:2013-01-07 20:07
本发明专利技术公开了一种选择性掺杂区域特性的检测方法,该方法利用聚焦激光束在选择性掺杂区域及其周边区域进行扫描,同时测量每点产生的光电流,通过对比分析选择性掺杂前后光电流的变化,可以对选择性掺杂的均匀性和电阻进行表征,从而指导制备选择性发射极的工艺改进。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于太阳能电池
,具体涉及。
技术介绍
目前太阳电池的生产应用发展迅速,其中晶体硅太阳电池占据主流地位,普通的晶体硅电池采用“化学清洗制绒-高温气体扩散制Pn结-PECVD镀制减反射膜-丝网印刷金属浆料-高温烧结金属电极”的制作工艺,电池光电转换效率可到17%-18%。为进一步提高电池的效率,出现许多新的技术,其中选择性发射极是目前被认为未来一个主流的高效电池新技术。普通的高温气体扩散掺杂制pn结的技术可以在电池形成一个较均匀掺杂层,即形成太阳电池的发射极。这个掺杂层与基底形成Pn结,掺杂浓度越高,掺杂层的方块电阻越低。但是均匀单一掺杂层的掺杂浓度必须考虑各方面的不同要求,如果表面掺杂浓度太高,会使光生载流子在表面的复合速率增加,从而增加了电流的内部消耗,输出的电流电压降低;如果表面掺杂浓度太低,那么与金属电极的接触电阻增加,电池的输出电流电压也会降低。选择性发射极根据上述的矛盾,采用了高低结合的选择性扩散方案,即在一般区域采用低掺杂浓度,在与电极接触区域采用高掺杂浓度的方案。实现这一结构有多种技术手段,一般先采用常规的气体扩散掺杂,再进行后处理,具体包括两次气体扩本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种选择性掺杂区域特性的检测方法,其特征是:采用光束诱导电流技术即聚焦激光束在硅片表面扫描,同时记录扫描各点时产生的光电流值,通过测量选择性掺杂前后光电流的变化情况,获得选择性掺杂区域的特性。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:沈辉王学孟林杨欢
申请(专利权)人:顺德中山大学太阳能研究院
类型:发明
国别省市:

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