【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种电阻率的测试装置及测试方法，尤其涉及，属于电子电器设备中导电测试
技术介绍
目前，对金属粉末电阻率的测试一般采用四探针法和交流阻抗法，这两种方法要求金属粉末必须压制成型后才能进行测定。对于松装密度大、难于压制成型的金属粉末，以上两种方法具有一定的局限性。为解决以上问题，通常向金属粉末中加入一定的粘结剂，然后再压制成型进行测试。但这种方法由于粘结剂的加入使得测试结果存在一定的偏差。因此，需要研究和开发一种用于测试金属粉末材料的电阻率的测试装置及测试方法。·
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种金属粉末电阻率测试装置，克服现有技术中金属粉末需要压制成型后才能进行测定的缺陷。本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下一种金属粉末电阻率测试装置，包括金属粉末压实塞、绝缘密封圈、接触电极、用于承装金属粉末的圆柱形壳体、电阻测试装置，所述金属粉末压实塞为两个，分别与所述圆柱形壳体的两端连接，所述两个金属粉末压实塞可塞入所述圆柱形壳体内部的一端均连接一个绝缘密封圈；所述接触电极为两个，均分别穿过所述金属粉末压实塞及所述绝缘密封圈，连接所述...
【技术保护点】
一种金属粉末电阻率测试装置，其特征在于，包括金属粉末压实塞（3）、绝缘密封圈（2）、接触电极（4）、用于承装金属粉末的圆柱形壳体（1）、电阻测试装置（5），所述金属粉末压实塞（3）为两个，分别与所述圆柱形壳体（1）的两端连接，所述两个金属粉末压实塞（3）可塞入所述圆柱形壳体（1）内部的一端均连接一个绝缘密封圈（2）；所述接触电极（4）为两个，均分别穿过所述金属粉末压实塞（3）及所述绝缘密封圈（2），连接所述圆柱形壳体（1）的内部和外部；所述圆柱形壳体（1）的内筒与所述金属粉末压实塞（3）可塞入所述圆柱形壳体（1）内部的一端及所述绝缘密封圈（2）相适配，所述圆柱形壳体（1）至...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：宋曰海，王建斌，陈田安，解海华，
申请(专利权)人：烟台德邦科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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