一种深孔内台阶孔和底部凸起物的内外尺寸测量装置,涉及物体内外尺寸的测量技术领域,特别涉及深孔内台阶孔及深孔内底部凸起物的内外尺寸的测量技术领域;通过将原有的带表卡尺的测量端改进为带有校准调整功能的圆柱形测量柱,满足了深孔内台阶孔和底部凸起物的内外尺寸测量的需求,校准调整功能的设置,减小了测量误差的产生,保证了深孔内台阶孔的内尺寸和深孔内底部凸起物的外尺寸测量精度。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及物体内外尺寸的測量
,特别涉及深孔内台阶孔及底部凸起物的内外尺寸的測量
技术介绍
通常零部件的内外尺寸測量是由图I所示的带表卡尺来完成的。该带表卡尺是由带有矩形測量端3的L形通用卡尺固定尺1,与套接于固定尺I上、并可沿固定尺I左右移动的具有显示精确位移量的移动表尺2所构成,移动表尺2的下部设置矩形測量端3。測量前,首先移动表尺2使两个测量端3的内测面完全吻合,此时调整显示装置上的读数使其归零;当需测量零部件的内尺寸时,将两个测量端3伸入待测零部件内,移动表尺2使两个测量端3的外测面均与待测零部件内壁接触,则此时所显示的位移量加上两个测量端3的宽度即为待测零部件的内尺寸;当需测量零部件的外尺寸时,先调整两个测量端3内侧面的·距离,使其大于待测零部件的外尺寸后,将待测零部件置于两个測量端3内侧面之间,移动表尺2使两个测量端3的内侧面均与待测零部件接触,则此时所显示的位移量即为待测零部件的外尺寸。因通常測量端3距离尺I的标尺距离较短,无法满足深孔内台阶孔和底部凸起物的内外尺寸測量。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了满足深孔内台阶孔和底部凸起物的内外尺寸測量,特提出一种深孔内台阶孔和底部凸起物的内外尺寸測量装置。本专利技术的技术方案是一种深孔内台阶孔和底部凸起物的内外尺寸測量装置,如图2和图3所示,其是在图I所示的带表卡尺的基础上,将测量端3与标尺及移动表尺2的连接部分分别调整为相同的带调节锥孔4的两个矩形连接部5以及前后套接于矩形连接部5的対称的两个带圆柱形測量柱11的測量部6 ;矩形连接部5的前后两个面上、左右中心线上各上下开有两个锥孔4;測量部6为矩形六面体,侧面由左至右开有至上表面的矩形凹槽,该矩形凹槽恰好可将矩形连接部5置于其中并在前后以及下部留有间隙,在測量部6的前后两矩形面上、左右中心线上与矩形连接部5上的两个锥孔4的间距相同地上下开有两个内螺纹孔,每个内螺纹孔中设置与其相匹配的端部为锥形的调节螺栓7,将测量部6套入矩形连接部5上,使前后四个调节螺栓7的锥形头部插入矩形连接部5上的对应锥孔4中;两个测量部6的底部前后中线两侧、ー个在左端、ー个在右端设置ー个带有中心孔的双耳片8,双耳片8通过调节紧固螺栓9和与其相配的紧固螺母10将圆柱形測量柱11端部一侧连接的带有中心孔的单耳片夹紧地连为一体。本专利技术具有以下优点本专利技术的測量装置的应用,满足了深孔内台阶孔和深孔内底部凸起物的内外尺寸测量需求,校准调整功能的设置,减小了测量误差的产生,保证了深孔内台阶孔的内尺寸和深孔内底部凸起物外尺寸的測量精度。附图说明图I是通常的带表卡尺主视图;图2是本专利技术的測量装置主视图;图3是本专利技术的測量装置左视图;图4是利用本专利技术测量装置进行深孔内台阶孔内尺寸的测量图;图5是利用本专利技术测量装置进行深孔内底部凸出物外尺寸的測量图。具体实施方式以下结合附图与具体实施方式对本专利技术作进ー步详细描述在利用本专利技术测量装置进行测量前,首先移动表尺2,使得两个圆柱形測量柱11之间能够放入宽座角尺为止;再将宽座角尺的短边紧贴固定尺1,宽座角尺的长边朝向固定不动的圆柱形測量柱11,并使宽座角尺与固定尺I共面;其次,通过调整固定不动的測量部6上前后四个调节螺栓7使得圆柱形測量柱11的轴线与宽座角尺长边的中心线共面,再通过调节紧固螺栓9调整圆柱形測量柱11的轴线与宽座角尺长边平行;然后,抽出宽座角尺,移动表尺2带动可移动的圆柱形測量柱11靠近调整好的固定的圆柱形測量柱11,通过可移动的测量部6上前后四个调节螺栓7使得可移动圆柱形測量柱11的轴线与调整好的固定的圆柱形測量柱11的轴线共面,再通过调节可移动的测量部6上的紧固螺栓9调整圆柱形測量柱11的轴线与固定的圆柱形測量柱11的轴线平行,且使两个圆柱形測量柱11内测面完全吻合,此时调整显示装置上的读数使其归零,至此完成本专利技术测量装置測量前的校准准备工作。当需测量深孔内台阶孔的内尺寸时,如图4所示,将两个圆柱形測量柱11伸入待测深孔内,移动表尺2使两个测量柱11的外测面均与待测深孔内壁接触,则此时所显示的位移量加上两个测量柱11的直径即为待测深孔的内尺寸;当需测量深孔内底部凸出物外尺寸时,如图5所示,先调整两个测量柱11内侧面的距离,使其大于待测深孔内底部凸出物的外尺寸后,将待测深孔内底部凸出物置于两个測量柱11内侧面之间,移动表尺2使两个测量柱11的内测面均与待测深孔内底部凸出物接触,则此时所显示的位移量即为待测深孔内底部凸出物的外尺寸。权利要求1.一种深孔内台阶孔和底部凸起物的内外尺寸測量装置,其由固定尺(1),与套接于固定尺(I)上、并可沿固定尺(I)左右移动的具有显示精确位移量的移动表尺(2)所构成,其特征在于固定尺(I)和移动表尺(2)的下部分别设置了带有调节锥孔(4)的两个矩形连接部(5)以及前后套接于矩形连接部(5)的対称的两个带圆柱形測量柱(11)的測量部(6)。2.根据权利要求I所述的深孔内台阶孔和底部凸起物的内外尺寸測量装置,其特征在于矩形连接部(5)的前后两个面上、左右中心线上各上下开有两个锥孔(4)。3.根据权利要求I所述的深孔内台阶孔和底部凸起物的内外尺寸測量装置,其特征在干測量部(6)为矩形六面体,侧面由左至右开有至上表面的矩形凹槽,该矩形凹槽恰好可将矩形连接部(5)置于其中并在前后以及下部留有间隙,在測量部(6)的前后两矩形面上、左右中心线上与矩形连接部(5)上的两个锥孔(4)的间距相同地上下开有两个内螺纹孔,每个内螺纹孔中设置与其相匹配的端部为锥形的调节螺栓(7),将测量部(6)套入矩形连接部(5)上,使前后四个调节螺栓(7)的锥形头部插入矩形连接部(5)上的对应锥孔(4)中;两个测量部出)的底部前后中线两侧、ー个在左端、ー个在右端设置ー个带有中心孔的双耳片(8),双耳片(8)通过调节紧固螺栓(9)和与其相配的紧固螺母(10)将圆柱形測量柱(11)端部一侧连接的带有中心孔的单耳片夹紧地连为一体。专利摘要一种深孔内台阶孔和底部凸起物的内外尺寸测量装置,涉及物体内外尺寸的测量
,特别涉及深孔内台阶孔及深孔内底部凸起物的内外尺寸的测量
;通过将原有的带表卡尺的测量端改进为带有校准调整功能的圆柱形测量柱,满足了深孔内台阶孔和底部凸起物的内外尺寸测量的需求,校准调整功能的设置,减小了测量误差的产生,保证了深孔内台阶孔的内尺寸和深孔内底部凸起物的外尺寸测量精度。文档编号G01B5/02GK202630863SQ20122028676公开日2012年12月26日 申请日期2012年6月18日 优先权日2012年6月18日专利技术者范学江, 晏效锋, 邓秀峰, 韩敏, 赵晓琴 申请人:中国航空工业第六一八研究所本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种深孔内台阶孔和底部凸起物的内外尺寸测量装置,其由固定尺(1),与套接于固定尺(1)上、并可沿固定尺(1)左右移动的具有显示精确位移量的移动表尺(2)所构成,其特征在于:固定尺(1)和移动表尺(2)的下部分别设置了带有调节锥孔(4)的两个矩形连接部(5)以及前后套接于矩形连接部(5)的对称的两个带圆柱形测量柱(11)的测量部(6)。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:范学江,晏效锋,邓秀峰,韩敏,赵晓琴,
申请(专利权)人:中国航空工业第六一八研究所,
类型:实用新型
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