【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种硅片的分选测试台，特别用于太阳能硅片的分选测试。
技术介绍
目前，在太阳能硅片的生产过程中，当硅片经过高温的烧结炉后，如果硅片在分选测试台的缓存区内降温不够充分，硅片表面的温度仍然较高，不符合测试要求的温度(要求保持在23°C 25°C之间)，会造成测试探针排测试出的转换效率产生偏差，最终造成硅片归档错位，影响产品分级的准确性。
技术实现思路
本技术的目的是提供能使硅片充分降温的一种分选测试台。本技术采取的技术方案是一种硅片的分选测试台，在工作台上设有导轨和测试探针排，测试探针排位于工作台一端且设在导轨的旁侧，其特征在于在工作台另一端的导轨的上部设有散热风机。采用本技术，当硅片从高温的烧结炉出来后，进入分选测试台的导轨时，进一步通过散热风机降温，使硅片表面温度符合测试要求，保证硅片归档不会错位。附图说明图1是本技术的主视示意图。图2是本技术的侧视示意图。图中序号表示散热风机1、导轨2、测试探针排3和工作台具体实施方式下面对本技术作进一步说明。参照图1，该硅片分选测试台的工作台4上设有导轨2和测试探针排3，测试探针排3位于工作台4的一端且设在导轨2的旁侧，在工作台4的另一端的导轨2的上部设有散热风机1。使用时，当硅片从高温的烧结炉出来后，进入分选测试台的导轨2中时，进一步通过散热风机1降温，使硅片表面温度符合测试要求，保证硅片归档不会错位。权利要求1. 一种硅片的分选测试台，在工作台上设有导轨和测试探针排，测试探针排位于工作台一端且设在导轨的旁侧，其特征在于在工作台另一端的导轨的上部设有散热风机。专利摘要本技术涉及一种硅片的分选测试台，该工作台...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李德云，童鹏飞，徐新毅，
申请(专利权)人：浙江嘉毅能源科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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