【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种集成电路测试时使用的探针，特别是在高频集成电路测试时能保证探针总长极短，同时又要提供较大的接触压力，提供稳定电气连接的弹簧探针。
技术介绍
如图1所示，传统的弹簧探针由上顶针1、下顶针4、腔体2、弹簧3四个部件组成。 上、下顶针的较大一头置于腔体两端内，弹簧置于腔体的中间，再将腔体的两端向里卷边， 将上、下顶针的较大一头包在腔体内，向腔体内挤压上下顶针，压缩弹簧，形成较稳定的弹力和电气接触。由于传统的探针，弹簧的总长以及压缩量受到探针总长、上下顶针在腔体内部部分的长度的限制，弹簧的线径受探针的腔体的外径和壁厚的限制。因此，弹簧的弹力就极大的受到探针大小的限制。特别是针对高频的集成电路测试，探针在测试状态时的总长要求越短越好，而为了有稳定的连接，要求探针弹力足够刺穿锡球(或焊盘)表面的氧化层。传统探针未能很好满足既需探针短，又需探针弹力大的需求。
技术实现思路
为解决现有技术中既需探针短，又需弹力大的要求，改变传统的探针设计，避免腔体对弹簧的限制、增加单位长度压缩量产生的弹力。本技术的目的是提供一种新型的弹簧探针结构，有效解决短小探针提供大弹力的问题。本...
【技术保护点】
１．一种双弹簧探针，其特征由上顶针（１）、下顶针（４）、两弹簧（３１、３２）组成，两弹簧并排设置在上、下顶针之间，上、下顶针通过互相反扣的钩状结构（５）相配合，达到稳定的探针装配结构。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：田治峰，贺涛，高凯，王强，殷岚勇，
申请(专利权)人：上海韬盛电子科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31
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