一种公座连接器测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种公座连接器测试装置，它包括底座、上针块、下针块和两组双头探针，所述上针块和下针块之间通过螺丝固定，且上针块和下针块之间均具有用于放置两组双头探针的通孔，所述上针块上端上设有一凸起，所述凸起上具有一凹槽，所述凹槽底面上设有一凸块，下针块下端上固定有一转换PCB；所述两组双头探针的上端和下端均分别为上针杆和下针杆，所述上针杆和下针杆均可伸出和缩回，上针杆穿过凸起上的上针杆通孔位于所述凹槽内，且上针杆一侧靠近所述凸块侧面，另一侧与所述凹槽侧面之间形成一容纳空间，下针杆顶端与所述转换PCB电性连接。其有益效果在于：本实用新型专利技术可实现对公座连接器的测试，测试过程快且不会对公座连接器造成损伤，效率高。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试装置，尤其是涉及一种PCB板对PCB板或PCB板对FPC公座连接器测试装置。
技术介绍
PCB是重要的电子部件，是电子元件的支撑体，是电子元器件线路连接的提供者。PCB板对PCB板或PCB板对FPC的连接器一般分为公座连接器和母座连接器，而PCB板对PCB板或PCB板对FPC的连接器测试，由于连接器引脚间距较小，公座连接器和母座连接器多采用手工对插的方式来实现测试，即手工将公座连接器和母座连接器手工插好后再测试，完成测试后再手工分离拔出。目前，现有的母座连接器可用探针直接接触母座连接器内的金属簧片来进行测试，但是公座连接器却无法实现。
技术实现思路
本技术的目的在于有效克服上述技术的不足，提供一种公座连接器测试装置，可实现对公座连接器的测试。本技术的技术方案是这样实现的：它包括底座、上针块、下针块和两组双头探针，其改进之处在于：所述上针块和下针块之间通过螺丝固定，且上针块和下针块之间均具有用于放置所述两组双头探针的通孔，所述上针块上端上设有一凸起，所述凸起上具有一凹槽，所述凹槽底面上设有一凸块，所述下针块下端上固定有一转换PCB；所述两组双头探针的上端和下端均分别为上针杆和下针杆，所述上针杆和下针杆均可伸出和缩回，上针杆穿过凸起上的上针杆通孔位于所述凹槽内，且上针杆一侧靠近所述凸块侧面，另一侧与所述凹槽侧面之间形成一容纳空间，下针杆顶端与所述转换PCB电性连接。上述结构中，所述两组双头探针均由上针杆、针管、压缩弹簧和下针杆组成，所述压缩弹簧设置在所述针管内，所述上针杆和下针杆的底端均设置在针管内，且上针杆和下针杆的底端分别抵压在所述压缩弹簧的两端上。上述结构中，所述上针杆和下针杆的顶端均呈尖头状。上述结构中，所述底座、转换PCB、下针块和上针块上均设有定位销孔，底座、转换PCB、下针块和上针块之间通过定位销定位。本技术的有益效果在于：本技术提供的一种公座连接器测试装置，可实现对公座连接器的测试，将公座连接器插入凹槽内，使公座连接器侧端卡入容纳空间内，公座连接器的金属簧片会与上针杆侧面接触，在公座连接器被压下时，上针杆侧面与金属簧片导通，即可进行测试，测试完成后直接分开即可，本技术结构简单，测试过程快且不会对公座连接器造成损伤，效率高，易操作，实用性强，极大的满足了市场需求。附图说明图1为本技术一种公座连接器测试装置的分解图图2为本技术一种公座连接器测试装置的剖面示意图图中：1、底座；2、上针块；3、下针块；4、凸起；5、凹槽；6、凸块；7、转换PCB；8、上针杆；9、下针杆；10、针管；11、容纳空间；12、定位销；13、螺丝；14、连接器；15、金属簧片。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术作进一步的描述。参照图1和图2所示，本技术揭示的一种公座连接器测试装置，可实现对公座连接器的测试，它包括底座1、上针块2、下针块3和两组双头探针，两组双头探针并排设置，上针块2和下针块3之间通过螺丝13固定，且上针块2和下针块3之间均具有用于放置两组双头探针的通孔，上针块2上端上设有一凸起4，凸起4上具有一凹槽5，与公座连接器的大小相适配，便于插入公座连接器，凹槽5底面上设有一凸块6，当将公座连接器插入凹槽5中时，用于对公座连接器的插入深度进行限定，下针块3下端上固定有一转换PCB7。在本实施例中，两组双头探针均由上针杆8、针管10、压缩弹簧和下针杆9组成，压缩弹簧设置在针管10内，上针杆8和下针杆9的底端均设置在针管10内，且上针杆8和下针杆9的底端分别抵压在压缩弹簧的两端上，因而上针杆8和下针杆9均可在外力作用下向针管10内缩回，当外力消失时，在压缩弹簧的作用下伸出针管10外，上针杆8穿过凸起4上的上针杆通孔位于凹槽5内，且上针杆8一侧靠近凸块6侧面，另一侧与凹槽5侧面之间形成一容纳空间11，与公座连接器的侧端相卡合，公座连接器的金属簧片15与上针杆8的侧面接触，上针杆8侧面与金属簧片15导通，下针杆9顶端与转换PCB7电性连接，上针杆8和下针杆9的顶端均呈尖头状，便于下针杆9与转换PCB7的电性连接。在本实施例中，底座1、转换PCB7、下针块3和上针块2上均设有定位销孔，底座1、转换PCB7、下针块3和上针块2之间通过定位销12定位，定位销12为两个，对底座1、转换PCB7、下针块3和上针块2之间能起到很好的定位作用。通过上述结构，转换PCB7固定在下针块3的下端上，使下针杆9的顶端与转换PCB7电性连接，再通过转换PCB7上的线路与其底部焊接的连接器14对应管脚导通，再由FPC连接器与转换PCB7对接后引出相应的电气信号，从下针杆9到转换PCB7，再到FPC连接器对接后引出来的部分，一直处于连接、导通状态。将公座连接器插入凹槽5内，使公座连接器侧端卡入容纳空间11内，公座连接器的金属簧片15会与上针杆8侧面接触，在公座连接器被压下时，上针杆8侧面与金属簧片15导通，即可进行测试，测试完成后直接分开即可，本实用新型结构简单，测试过程快且不会对公座连接器造成损伤，效率高，易操作，实用性强，极大的满足了市场需求。以上所描述的仅为本技术的较佳实施例，上述具体实施例不是对本实用新型的限制。在本技术的技术思想范畴内，可以出现各种变形及修改，凡本领域的普通技术人员根据以上描述所做的润饰、修改或等同替换，均属于本技术所保护的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种公座连接器测试装置，它包括底座、上针块、下针块和两组双头探针，其特征在于：所述上针块和下针块之间通过螺丝固定，且上针块和下针块之间均具有用于放置所述两组双头探针的通孔，所述上针块上端上设有一凸起，所述凸起上具有一凹槽，所述凹槽底面上设有一凸块，所述下针块下端上固定有一转换PCB；所述两组双头探针的上端和下端均分别为上针杆和下针杆，所述上针杆和下针杆均可伸出和缩回，上针杆穿过凸起上的上针杆通孔位于所述凹槽内，且上针杆一侧靠近所述凸块侧面，另一侧与所述凹槽侧面之间形成一容纳空间，下针杆顶端与所述转换PCB电性连接。

【技术特征摘要】
1.一种公座连接器测试装置，它包括底座、上针块、下针块和两组双头探
针，其特征在于：所述上针块和下针块之间通过螺丝固定，且上针块和下针块
之间均具有用于放置所述两组双头探针的通孔，所述上针块上端上设有一凸起，
所述凸起上具有一凹槽，所述凹槽底面上设有一凸块，所述下针块下端上固定
有一转换PCB；所述两组双头探针的上端和下端均分别为上针杆和下针杆，所述
上针杆和下针杆均可伸出和缩回，上针杆穿过凸起上的上针杆通孔位于所述凹
槽内，且上针杆一侧靠近所述凸块侧面，另一侧与所述凹槽侧面之间形成一容
纳空间，下针杆顶端与所述转换PCB电性连接。<...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋涛，
申请(专利权)人：深圳市明信测试设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44