一种利用交流信号测试LCR的电路模块及测试方法技术

本发明专利技术涉及的一种利用交流信号测试LCR的电路模块及测试方法，包括：待测点放置机构、KCM1开关、KCM2开关、KCM3开关、KCM4开关、ADG1608模块、AD9833模块、Current_ADC_IN1模块、Voltage_ADC_IN2模块和匹配电阻；AD9833模块与KCM3开关连接，KCM3开关与待测点放置机构连接，待测点放置机构与KCM4开关连接，KCM4开关与ADG1608模块连接，ADG1608模块与Current_ADC_IN1模块连接。本发明专利技术体积小巧，结构简单，成本低，并且可以测量板载电容与电感，可以满足在测试过程中多工位测量的需求。

【技术实现步骤摘要】
一种利用交流信号测试LCR的电路模块及测试方法
本专利技术涉及电子测试
，更具体地说，涉及一种利用交流信号测试LCR的电路模块及测试方法。
技术介绍
现代电子产品正以前所未有的速度，向着多功能化、体积最小化、功耗最低化的方向发展，机电产品广泛应用于家电、通信、一般工业乃至航空航天和军事领域。目前市面上测量电子元器件的各项参数，在测试电阻、电容以及电感时需要用到电桥测试仪，其体积较大，成本较高，软件逻辑复杂庞大，测量时需要选择不同的量程与测量频率并且无法测量板载电容与电感。或者使用复杂的测试模块，测试时需要选择不同的量程，无法同一个模块同时测量电阻、电容与电感，并且也无法测量板载电容与电感。现有的方案存在如下缺点：1.电桥测试仪体积较大，成本较高，软件逻辑复杂庞大，测量时需要选择不同的量程与测量频率并且无法测量板载电容与电感；2.使用复杂的测试模块测试时需要选择不同的量程，无法同一个模块同时测量电阻、电容与电感，并且也无法测量板载电容与电感。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，构造一种本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种利用交流信号测试LCR的电路模块，其特征在于，包括：待测点放置机构、KCM1开关、KCM2开关、KCM3开关、KCM4开关、ADG1608模块、AD9833模块、Current_ADC_IN1模块、Voltage_ADC_IN2模块和匹配电阻；/n所述AD9833模块与所述KCM3开关连接，所述KCM3开关与所述待测点放置机构连接，所述待测点放置机构与所述KCM4开关连接，所述KCM4开关与所述ADG1608模块连接，所述ADG1608模块与所述Current_ADC_IN1模块连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种利用交流信号测试LCR的电路模块，其特征在于，包括：待测点放置机构、KCM1开关、KCM2开关、KCM3开关、KCM4开关、ADG1608模块、AD9833模块、Current_ADC_IN1模块、Voltage_ADC_IN2模块和匹配电阻；
所述AD9833模块与所述KCM3开关连接，所述KCM3开关与所述待测点放置机构连接，所述待测点放置机构与所述KCM4开关连接，所述KCM4开关与所述ADG1608模块连接，所述ADG1608模块与所述Current_ADC_IN1模块连接。


2.根据权利要求1所述的一种利用交流信号测试LCR的电路模块，其特征在于，所述Voltage_ADC_IN2模块与所述KCM2开关连接。


3.根据权利要求2所述的一种利用交流信号测试LCR的电路模块，其特征在于，所述匹配电阻包括多个并联的固定电阻。


4.根据权利要求3所述的一种利用交流信号测试LCR的电路模块，其特征在于，所述固定电阻与所述ADG1608模块连接。


5.根据权利要求4所述的一种利用交流信号测试LCR的电路模块，其特征在于，所述ADG1608模块包括多个接口，所述固定电阻与所述接口连接。


6.一种利用交流信号测试LCR的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1将被测元器件放置在待测点放置机构处，并将KCM1开关、KCM3开关、KCM4开关闭合，此时其他开关为断开状态，被测元件可以是电阻、电容或者电感；
S2由MCU模块控制AD9833模块输出交流信号，同时控制ADG1608模块选择匹配电阻，并从Current_ADC_IN1模块处采集电压；
S3由MCU模块控制并调整AD9833模块输出的交流信号频率以及ADG1608模块选择的所述匹配电阻，使Current_ADC_IN1模块处采集到的电压不超过被测量程以获得最高精度...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴少华，王骞，
申请(专利权)人：深圳市明信测试设备有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44