温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型涉及一种集成电路测试时使用的探针，特别是在高频集成电路测试时能保证探针总长极短，同时又要提供较大的接触压力，提供稳定电气连接的双弹簧探针。由上顶针、下顶针与两弹簧组成，两弹簧并排设置在上、下顶针之间，上、下顶针通过互相反扣的钩状结...
该专利属于上海韬盛电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海韬盛电子科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。