具有通用和专门资源的块的测试模块制造技术

一种用于对被测器件（２０１）进行测试的测试设备（２００）的测试模块（２０６），该测试模块（２０６）适用于执行专门测试功能并且包括通用部分（２１３），该通用部分（２１３）适合于提供对于测试模块（２０６）的测试功能来说非专门的测试资源，该通用部分（２１３）包括适合于连接到所述测试设备（２００）的中央控制器件（２０２）的控制接口（２０４），该测试模块（２０６）并且包括专门部分（２１４），该专门部分（２１４）将被耦合到通用部分（２１３）并且适合于提供对于测试模块（２０６）的测试功能来说专门的测试资源，该专门部分（２１４）包括适合于连接到被测器件（２０１）的被测器件接口（２０５）。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及利用测试装置对被测器件进行测试。
技术介绍
为了对电子装置进行测试，尤其是对提供电气输入和输出信号(例如，数字输入或输出、模拟输入或输出、RF输入或输出、静态/DC输入或 输出)的集成电子电路进行测试，将测试或激励信号馈送到被测器件的输 入，并且例如通过与期望数据相比较来利用自动测试设备评估被测器件的 响应信号。这种自动测试设备包括了特定的测试功能，也就是说，该测试 设备可以执行的测试功能或例程。该测试功能可以以可执行软件代码的形 式被结合在测试设备中。可用的测试装置的示例是Agilent Technologies的93000测试装置。 传统上，测试装置可被连接在工作站和一个或多个被测器件(DUT) 之间。测试装置是由若干个测试模块形成的，这些测试模块与彼此并行连 接，并且指定要执行的特定测试。每个模块具有允许完成复杂的测试例程 的专门局部功能的专门资源。例如，数字波形模块可具有提供测试期间所 需的数字波形信号的能力。模拟波形模块可具有提供测试期间所需的模拟 波形信号的能力。每个模块必须根据其在测试期间的专门功能而被分别开 发。这可能涉及到高昂的开发成本。
技术实现思路
本专利技术的一个目的是提供一种高效的系统，用于对被测器件(DUT) 进行测试。独立权利要求实现了该目的。其他实施例由从属权利要求示 出。根据本专利技术的示例性实施例，提供了一种用于对被测器件进行测试的7测试设备的测试模块，该测试模块适用于执行专门测试功能(例如复杂测 试的上下文中的局部功能)，并且包括通用部分(例如独立于该局部功 能的硬件和/或软件块)，该通用部分适合于提供对于该测试模块的测试功 能来说非专门的测试资源(例如，存储器资源和/或处理资源)，该通用部 分包括适合于连接到测试设备的中央控制器件的控制接口；以及专门部分 (例如，被选择性地调节以完成该局部功能的硬件和/或软件块)，该专门 部分将(例如经由模块内部接口)被耦合到通用部分并且适合于提供对于 该测试模块的测试功能来说专门的测试资源，专门部分包括适合于连接到 被测器件(即一个或多个被测器件)的被测器件接口。根据另一个示例性实施例，提供了一种用于对被测器件进行测试的测试设备的测试装置(例如，类似于Agilent Tecdhnologies的9300测试装 置)，该测试装置包括适用于接纳多个测试模块的接纳单元(例如，包 括用于插盒状测试模块的多个插槽的支架)；以及将被接纳在(或者接纳 在)接纳单元中的多个具有上述特征的测试模块。根据另一个示例性实施例，提供了一种用于对被测器件进行测试的测 试设备，该测试设备包括中央控制器件(例如像工作站或者膝上型笔记 本电脑或者PC那样的计算机)，用于集中控制(和/或监视)为了测试被 测器件而要执行的测试；以及具有上述特征的测试装置；其中，将被接纳 在测试装置的接纳单元中的多个测试模块的控制接口连接到(或者可连接 到)中央控制器件。根据本专利技术的另一个示例性实施例，提供了一种对用于对被测器件进 行测试的测试设备的测试装置进行配置(例如进行编程或安装)的方法， 该方法包括将多个具有上述特征的测试模块插入到测试装置的接纳单元 中；以及根据用于对被测器件进行测试的专门测试(例如用于对DUT "ABC"进行测试的测试"XYZ")来同时地(即在同一时间，例如通过 向通用部分中的至少两个中的每一个提供相同的编程信号或配置指令)至 少部分地配置(即，根据将要执行的专门测试例程来配置各个测试模块) 多个测试模块的通用部分中的至少两个。本专利技术的实施例可以部分或全部由一个或多个合适的软件程序来实现或支持，这些软件程序可以存储在任何种类的数据载体上或者通过任何种 类的数据载体以其他方式提供，并且可在任何合适的数据处理单元中执行 或者由任何合适的数据处理单元来执行。软件程序或例程可以优选地被应 用来提供将由测试装置执行的用于测试被测器件的测试功能(例如，生成 用于激励被测器件的激励信号，以及/或者对被测器件响应于激励信号的施 加而产生的响应信号进行评估)。根据本专利技术实施例的测试例程的执行可 通过计算机程序来执行，即通过软件来执行，或者利用一个或多个特殊的 电子优化电路来执行，即用硬件来执行，或者以混合形式来执行，即利用 软件组件和硬件组件来执行。根据示例性实施例，可以提供一种测试模块或测试插盒，其包括没有 针对该测试模块要执行的专门测试功能而进行限制或者特殊化的通用部 分，以及针对在更复杂的整个测试过程的上下文中该测试模块的特定测试 功能而特别调节或特殊化的专门部分。与根据专门测试功能来完全指定测 试模块的传统系统不同，根据所描述的示例性实施例的测试模块包括很大 一部分的标准电子设备，该标准电子设备完全没有被针对该专门测试功能 而特殊化。例如，在该一般性或多功能部分中可以容纳处理资源和存储资 源，而在附加的专门部分中可以提供被特殊化以适应于专门测试功能的专 门特性以及专门硬件和软件模块。因此，在创建或规划新的测试模块时只 需要单独设计或开发该专门部分，而对于所有不同种类的测试模块可以提 供相同的通用部分。通用部分和专门部分可经由模块内部接口相耦合，该 模块内部接口可连接两个部分并在两个部分之间进行电子转化。通过在测试系统的所有通道中提供这种公共的"通用通道"组件，可 以提供一个确定的接口，用于将工作站或任何其他中央控制实例耦合到通 道专门驱动器/接收器，该通道专门驱动器/接收器进而又可耦合到被测器件(DUT)。可以针对机械、电气、体积(volume)和/或软件耦合来提供 这种接口。因此，示例性实施例可以减少开发新测试模块的工作，可以縮 短开发时间，可以降低开发成本，由于组件数目更大因而可以降低每模块 的成本(尤其是通用部分的成本)，并且由于变体数目更小因而可以降低 生产成本。9在这种测试设备的上下文中，作为中央控制实体的工作站向实际测试 装置提供多个控制信号。测试装置可以是包括多个插槽的支架，其中不同 的测试模块可以被用户以模块化的形式插入在插槽内，以为测试项目限定 一个专门的测试体系结构。这些测试模块随后可被耦合到一个或多个应当被测试的被测器件(DUT)。根据专门测试例程，激励信号被从测试装置 提供给所连接的DUT。特别地，这种激励信号可被引导到DUT的特定管 脚，例如要测试的存储器产品的特定管脚。根据DUT的功能，激励信号 在DUT内被处理，并且响应信号被生成。这些响应信号是在相同或其他 管脚处提供的，并且可被提供回给测试装置。在不同测试模块内，这些响 应信号可被与期望信号相比较，并且该比较的结果可以给出关于相应DUT 是否可接受或者必须被丢弃的结果。该分析的结果可以以结果信号的形式 被从测试装置发送回到工作站。人类操作者可以利用中央控制实例来监视 测试过程和/或可以评估测试结果。在测试装置中，各个测试模块被预期为提供不同的功能。测试模块可 以被预期为插入式模块或者滑入式卡片，从而这种卡片在板上是可以更换 的，以便根据要执行的专门测试来配置测试设备。换言之，这种测试设备的每个测试模块可以根据该测试模块的个体功 能来对在这种测试模块中处理的数据进行格式化。例如，数字通道可以被 提供以数字输入信号并且可以将它们转换成数字输出信号。模拟通道可以 接收数本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于对被测器件（２０１）进行测试的测试设备（２００）的测试模块（２０６），该测试模块（２０６）适用于执行专门测试功能，并且包括　通用部分（２１３），该通用部分（２１３）适合于提供对于所述测试模块（２０６）的测试功能来说非专门的测试 资源，该通用部分（２１３）包括适合于连接到所述测试设备（２００）的中央控制器件（２０２）的控制接口（２０４）；　专门部分（２１４），该专门部分（２１４）将被耦合到所述通用部分（２１３）并且适合于提供对于所述测试模块（２０６）的测试功能 来说专门的测试资源，该专门部分（２１４）包括适合于连接到所述被测器件（２０１）的被测器件接口（２０５）。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：安德瑞威耶，沃夫内吾维勒，
申请(专利权)人：惠瑞捷新加坡私人有限公司，
类型：发明
国别省市：SG[新加坡]