一种线路收发机包括发送驱动器、电流感测元件和补偿电路。发送驱动器能够依据发送数据在共同发送/接收节点处激发发送信号。电流感测元件依据感测电流来提供感测信号。此外，补偿电路依据发送数据生成补偿电流，其中，发送驱动器和补偿电路被配置为包含对...

在一实施例中，提供了一种夹持件，包括：壳体；从所述壳体内延伸出的搭扣构件，并且所述搭扣构件可沿着位移轴线平移；致动器，其安装至所述壳体并可与所述搭扣构件相关地进行动作以使所述搭扣构件沿着所述位移轴线平移；以及非线性施力构件，其可与所述搭...

一种用于对待测设备进行测试的测试器包括第一通道单元和第二通道单元。第一通道单元包括用于来自待测设备的信号的相应第一管脚连接，适用于至少部分地对从第一管脚连接获得的数据进行处理的相应第一测试处理器，以及与第一测试处理器耦合并且适用于存储由...

提供了一种用于将数字输入信号u[k]转换为模拟输出信号f(t)的异步∑- Δ数模转换器(100)，该数模转换器(100)包括异步∑-Δ调制器(120) 和时钟采样单元(108)，异步∑-Δ调制器(120)包括低通滤波器(104) 和比较...

一种用于对被测器件（２０１）进行测试的测试设备（２００）的测试模块（２０６），该测试模块（２０６）适用于执行专门测试功能并且包括通用部分（２１３），该通用部分（２１３）适合于提供对于测试模块（２０６）的测试功能来说非专门的测试资源，该通...

本发明涉及对重复信号欠采样来测量重构模拟波形的转变时间。一种用于对重复信号（１０２）进行处理的信号处理装置（１００），该信号处理装置（１００）包括：确定单元（１０３），用于确定对重复信号（１０２）进行欠采样的多个时间点；比较器单元（１０...

一种用于测试被连接到芯片测试器的至少两个待测试器件的芯片测试器，包括：定时计算器，用于生成用于芯片测试器的通道的定时信息。该定时计算器适用于获得传输延迟差信息，该信息描述一方面从芯片测试器的第一通道端口到第一待测试器件的第一端子的传输延...

一种用于估计与两个事件之间的时间差有关的数据的装置包括具有多个阶段（１０１、１０２、１０３、１０４）的延迟线１００。每个阶段在第一部分中的第一延迟和第二部分中的第二延迟之间具有延迟差。此延迟差被每个阶段中的相位仲裁器（１０５）测量，该相...

本发明公开了用于确定重复比特值样式的方法和装置。从程序循环信息中能够确定与数据字（２）序列的预定比特位置相关联的重复比特值样式，所述数据字按照比特次序包括两个或更多比特，比特位置描述在所述比特次序内的位置并指示由该比特位置处的比特所代表...

一种用于获得时域反射响应信息的装置包括信号驱动器，该信号驱动器适于将不同脉冲长度的两个脉冲施加到ＴＤＲ端口，以便激发与第一脉冲相对应的第一ＴＤＲ响应信号以及与第二脉冲相对应的第二ＴＤＲ响应信号。该装置包括定时测定器，该定时测定器适于基于...

在多个测试位置（１０２－１０８）处共享测试资源（１１２）的方法在多个测试位置（１０２－１０８）处以时间上的偏移量来执行各个测试流程，各个测试流程（１１６－１２２）在测试流程中的预定位置（１１６ｂ－１２２ｂ）处获取测试资源１１２。

将扫描链的环境变量设定为被认为将导致保持时间故障的值，并且使一式样移经扫描链。该式样具有至少ｎ个连续的第一逻辑状态的比特的背景式样及其后的至少一个第二逻辑状态的比特，其中ｎ是扫描链的长度。按照以下两项之间的差异来确定扫描链中可能的保持时...

根据本发明的一个实施例，为了在晶片置于晶片承载器中时测试晶片而提供了方法和设备。测试结果可以用于调整制作过程并且由此增加制作产量。

根据本发明的一个实施例，提供了一种从多个被测设备获得测试数据的方法和设备。根据一个实施例，这可通过以下实现：从测试设备输出测试信号，用于并行输入到至少两个被测设备；向所述测试设备并行输入至少两个响应信号，每个响应信号是由所述至少两个被测...

本发明描述了一种用于确定相关值（Ｒ（ｉ，ｍ））的方法，每个相关值表示用于检测芯片上的故障的第一数目（Ｉ）的输入节点中的输入节点（ｉ）与第二数目（Ｍ）的测量节点中的测量节点（ｍ）的组合（（ｉ，ｍ））的相关性，所述方法包括：在第一数目（Ｉ）...

根据本发明一个实施例，提供了一种系统，该系统包括：第一端子，用于在操作期间接收输入测试信号；与第一端子相耦合的多个输入／输出端子；其中，输入／输出端子被配置为在并行输出操作期间并行输出各自的输出测试信号；其中，输入／输出端子被配置为在并...

在一个实施例中，用于发送和接收数据的装置包括：具有至少三个输入／输出端子的传输线路网络；至少三个发送／接收单元，分别耦合到所述至少三个输入／输出端子；以及控制系统。控制系统被配置为：根据传输线路网络上数据流的希望方向，ｉ）动态地将各个发...

在一个实施例中，用于测试至少一个待测设备（ＤＵＴ）的装置包括：测试器输入／输出（Ｉ／Ｏ）节点、ＤＵＴ　Ｉ／Ｏ节点、远程管脚电子设备块、旁路电路和控制系统。远程管脚电子设备块提供测试功能，并且被耦合在测试器Ｉ／Ｏ节点和ＤＵＴ　Ｉ／Ｏ节点之...

根据本发明的一个实施例，可以实现一种单切管芯测试方法。这可以通过获取晶片并将管芯单切为单独的管芯模片来实现。单切管芯可以被排列在分离的测试排列中，甚至可以将来自多个晶片的管芯作为组合排列的部分相组合。然后，可以对组合测试排列实现测试。

在扫描图像被从扫描链移出时，针对逻辑条件的存在性来实时地评估该扫描图样。维持到扫描图样的当前正被评估的一部分的参考。当在该参考与存储值具有预定关系时识别出存在所述逻辑条件之后，使用参考来覆写存储值。然后，使用存储值来估计扫描链中的固定型...