在一个实施例中，用于测试至少一个待测设备（ＤＵＴ）的装置包括：测试器输入／输出（Ｉ／Ｏ）节点、ＤＵＴ Ｉ／Ｏ节点、远程管脚电子设备块、旁路电路和控制系统。远程管脚电子设备块提供测试功能，并且被耦合在测试器Ｉ／Ｏ节点和ＤＵＴ Ｉ／Ｏ节点之间。旁路电路被耦合在测试器Ｉ／Ｏ节点和ＤＵＴ Ｉ／Ｏ节点之间，并且提供测试器Ｉ／Ｏ节点和ＤＵＴ Ｉ／Ｏ节点之间的信号旁路路径。信号旁路路径绕过由远程管脚电子设备块提供的测试功能。控制系统被配置来使能和禁用旁路电路。还公开了用于利用该装置和其他有关装置来测试一个或多个ＤＵＴ的方法。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】选择性地使用或绕过远程管脚电子设备块来测试至少一个 待测设备的方法和装置相关申请的交叉引用本申请是De La Puente 等人的题为 “Parallel Test Circuit with ActiveDevices” (申请号为12/035,378，于2008年2月21日递交)的美国专利申请的部分继续，该美国专利 申请所公开的全部内容通过引用被结合于此。申请12/035,378在此被称作’ 378申请。
技术介绍
当对设备进行测试时，尤其是对电气设备进行测试时，希望将接收、驱动、生 成、处理或评估测试信号的(即，提供测试功能的)管脚电子设备(pin electronics)放置 得尽可能接近待测设备(DUT)。这是因为尽管存在用于减轻信号在信号传输路径上的 劣化的多种技术，但是减轻信号在较短信号路径上而非较长信号路径上的劣化通常是更 容易的。理想地，所有需要与DUT I/O相接口的管脚电子设备将被放置得十分接近于 DUT I/O。然而，许多DUT具有小的形状因数或者高的输入/输出(I/O)密度，从而使 得这样做较为困难(或者不可能)。结果，测试系统的设计者通常需要在如下各项之间进 行选择1)在距DUT I/O较远的位置处实现全部的所希望测试功能，或者2)在距DUT I/O较近的位置处实现部分的测试功能。附图说明在附图中图示出本专利技术的说明性实施例，其中图1图示出用于测试至少一个DUT的第一示例性装置；图2图示出图1所示的远程管脚电子设备块的第一示例性实现方式，以及远程管 脚电子设备块和旁路电路之间的示例性协作；图3图示出图1所示的远程管脚电子设备块的第二示例性实现方式，以及远程管 脚电子设备块和旁路电路之间的示例性协作；图4图示出其中图1的装置的远程管脚电子设备块和旁路电路可在测试器I/O节 点和DUT I/O节点之间提供双向信号路径的示例性方式；图5图示出图1所示的装置与测试系统的示例性耦合；图6图示出用于例如利用图5中示出的装置和测试系统来测试至少一个DUT的 示例性方法；并且图7图示出在测试信号在单个测试器I/O节点和多个DUT I/O节点之间被扇入 (fan-in)/扇出(fan-out)的环境中可以如何扩展图1所示的装置。具体实施例方式图1图示出用于测试至少一个待测设备(DUT) 102的第一示例性装置100。装置 100包括测试器I/O节点104、DUT I/O节点106、远程管脚电子设备块108、旁路电路110和控制系统112。远程管脚电子设备块108提供测试功能114并且耦合在测试器I/O 节点104和DUT I/O节点106之间。作为示例，测试功能114可以是信号接收、信号驱 动、信号生成、信号处理或信号评估功能。测试功能114也可以是子功能的集合，比如 接收、评估和驱动功能的集合。旁路电路110耦合在测试器I/O节点104和DUT I/O节点106之间并且提供测 试器I/O节点104和DUT I/O节点106之间的信号旁路路径116。信号旁路路径116提 供绕过由远程管脚电子设备块108提供的测试功能114的路线。控制系统112被配置来 使能和禁用旁路电路110，从而使能和禁用信号旁路路径116。在图1所示装置100的一些实施例中，测试信号(例如，DUT响应信号)可经 由DUT I/O节点106从DUT 102接收。当旁路电路110被禁用时，测试信号被远程管脚 电子设备块108的测试功能114接收、处理或评估。测试电路114的输出然后可被提供 给测试器I/O节点104。当旁路电路110被使能时，测试功能114被绕过，并且测试信 号经由信号旁路路径116向测试器I/O节点104传播。在图1所示装置100的其他实施例中，测试信号可以经由测试器I/O节点104从 测试系统接收。当旁路电路110被禁用时，测试信号被远程管脚电子设备块108的测试 功能114接收或处理，并且测试功能114的输出可被提供(驱动)到DUT I/O节点106。 当旁路电路110被使能时，测试功能114被绕过，并且测试信号经由信号旁路路径116向 DUT I/O节点106传播。在图1所示装置的另一些实施例中，远程管脚电子设备块108和旁路电路110可 以在测试器I/O节点104和DUT I/O节点106之间提供双向信号路径。在一些情况下， 控制系统112可以提供确定或使能通过远程管脚电子设备块108或旁路电路110的特定方 向的信号流的一个或多个信号。图2图示出远程管脚电子设备块108 (该块被更一般地示出在图1中)的第一示 例性实现方式。在图2中，远程管脚电子设备块108被配置为经由DUT I/O节点106从 DUT 102接收测试信号。更具体地，图2所示远程管脚电子设备块108的实施例包括比 较器200。比较器200具有接收来自DUT I/O节点106的信号的第一输入端202和接收 基线信号(baselinesignal)的第二输入端204。比较器200的输出端206耦合到测试器I/ O节点104。图2还图示出远程管脚电子设备块108和旁路电路110之间的示例性协作。具体 地，旁路电路Iio被示出为包括复用器208，该复用器208具有接收远程管脚电子设备块 108的输出的第一输入端210和耦合到信号旁路路径116的第二输入端212。复用器208 的输出端214耦合到测试器I/O节点104。复用器208的选择输入端(SEL)耦合到控制 系统112。以这种方式，通过将信号旁路路径116耦合到测试器I/O节点104，旁路电路 110被使能，并且通过将远程管脚电子设备块108耦合到测试器I/O节点104，旁路电路 110被禁用。图3图示出远程管脚电子设备块108 (该块被更一般地示出在图1中)的第二示 例性实现方式。在图3中，远程管脚电子设备块108被配置为经由测试器I/O节点104 从测试系统接收测试信号。更具体地，图3所示远程管脚电子设备块108的实施例包括 驱动器300。驱动器300具有接收来自测试器I/O节点104的信号的输入端302和耦合到处理块306的输出端304。处理块306的输出端308耦合到DUT I/O节点106。作为 示例，处理块306可以放大测试信号，响应于测试信号来生成测试式样(pattern)，或者操 纵测试信号的定时。图3还图示出远程管脚电子设备块108和旁路电路110之间的示例性协作。具 体地，旁路电路Iio被示出为包括切换元件310，该切换元件310具有耦合到测试器I/O 节点104的输入端312、耦合到驱动器输入端302的第一输出端314和耦合到信号旁路路 径116的第二输出端316。切换元件310的控制输入端318耦合到控制系统112。以这 种方式，通过将信号旁路路径116耦合到测试器I/O节点104，旁路电路110被使能，并 且通过将驱动器300耦合到测试器I/O节点104，旁路电路110被禁用。在一些实施例 中，可使用第二切换元件来将远程管脚电子设备块108或旁路电路110中的一个或另一个 耦合到DUT I/O节点106。图4图示出远程管脚电子设备块108(该块被更一般地示出在图1中)的第三示例 性实现方式。在图4中，远程管脚电子设备块108和旁路电路110在测试器本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于测试至少一个待测设备（ＤＵＴ）的装置，该装置包括： 测试器输入／输出（Ｉ／Ｏ）节点； ＤＵＴ Ｉ／Ｏ节点； 提供第一测试功能的远程管脚电子设备块，该远程管脚电子设备块被耦合在所述测试器Ｉ／Ｏ节点和所述ＤＵＴ Ｉ／Ｏ节点之间；被耦合在所述测试器Ｉ／Ｏ节点和所述ＤＵＴ Ｉ／Ｏ节点之间的旁路电路，该旁路电路提供所述测试器Ｉ／Ｏ节点和所述ＤＵＴ Ｉ／Ｏ节点之间的信号旁路路径，并且该信号旁路路径绕过由所述远程管脚电子设备块提供的第一测试功能；以及 控制系统，被配置为使能和禁用所述旁路电路。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：爱德马度德拉帕恩特，大卫D埃斯克德森，
申请(专利权)人：惠瑞捷新加坡私人有限公司，
类型：发明
国别省市：SG
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