集成电路芯片测试仪制造技术

一种集成电路芯片测试仪，包括芯片卡槽、单片机、键盘、显示灯、液晶显示器、第一扩展接口、第二扩展接口以及５Ｖ直流源，键盘输入芯片型号，系统自动检测芯片的好坏，并通过液晶屏和指示灯直观显示结果；对完好的芯片，显示逻辑符号和逻辑表达式，确定芯片型号；不插芯片，输入简单的管脚特性，判断芯片型号，调出芯片的逻辑符号和逻辑表达式；从而提供一种操作方便，得到结果快速准确，测试结果显示清楚、简单、明了，价格便宜，便于检测和修改的集成电路芯片测试仪。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试仪，特别是一种用于对集成电路芯片进行测试的测试仪。
技术介绍
现有的集成电路芯片测试仪，参见图1，包括芯片卡槽11、单片机22、键盘33、显示灯44以及显示屏55，其中芯片卡槽11连接单片机22，用于连接待测试的集成电路芯片；键盘33连接单片机22，有四个，用于进行上翻和下翻查找芯片型号，并进行复位和确认；显示灯44连接单片机22，用于显示待测集成电路芯片的好坏；显示屏55连接单片机22，用于显示要查找的芯片型号；单片机22用于存储相应的集成电路芯片的特征，在显示屏55上显示出来，以提供按下键盘33对芯片型号的查找，并检测集成电路芯片的好坏，通过相应的显示灯44进行显示。 但是现有的集成电路芯片测试仪，只能通过上翻或下翻进行查找，查找时间长，并且不方便，且只有在知道芯片型号的情况下才能进行查找，并测试好坏，不能直观反映芯片的情况。
技术实现思路
针对上述现有技术的缺陷，本技术的目的是提供一种操作方便，得到结果快速准确，测试结果显示清楚、简单、明了 ，价格便宜，便于检测和修改的集成电路芯片测试仪。 —种集成电路芯片测试仪，包括芯片卡槽、单片机、键盘、显示灯和液晶显示器； 所述芯片卡槽用于连接待测的集成电路芯片； 所述键盘用于输入待测集成电路芯片的型号或者管脚特性以及进行功能切换、确认和复位； 所述显示灯用于显示测量结果； 所述液晶显示器用于显示按键输入的信息，并显示集成电路芯片的芯片型号、逻辑符号和逻辑表达式； 所述单片机用于存储集成电路芯片的型号、逻辑符号和逻辑表达式，测量所述芯片卡槽上插入的待测集成电路芯片的好坏，并指示所述显示灯和所述液晶显示器显示结果，令所述液晶显示器显示集成电路芯片的逻辑符号和逻辑表达式，接收所述键盘键入的集成电路芯片的型号或者管脚特性，令所述液晶显示器显示键入的集成电路芯片的逻辑符号和逻辑表达式； 所述5V直流源为所述芯片卡槽、所述单片机、所述键盘、所述显示灯和所述液晶显示器提供5V直流电源； 还包括第一扩展接口、第二扩展接口 ； 所述第一扩展接口用于连接所述单片机和所述液晶显示器，扩展所述单片机的端4□; 所述第二扩展接口用于连接所述单片机和所述键盘以及显示灯，扩展所述单片机的端口。 本技术的集成电路芯片测试仪，其中所述单片机存储74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30芯片和74/109/160/245时序芯片的逻辑符号和逻辑表达式。 本技术述的集成电路芯片测试仪，其中所述键盘为16个按键的键盘。 本技术的集成电路芯片测试仪，其中所述显示灯有三个，第三显示灯、第二显示灯、第一显示灯，分别为红色、绿色和白色。 本技术的集成电路芯片测试仪，其中所述5V直流源采用变压器将220V交流电变为9v直流电，再通过集成稳压器转换成稳定的5V输出，所述集成稳压器的型号为7805。 本技术的集成电路芯片测试仪，其特征在于，所述芯片卡槽的1、2、3、4、5、6、7、8、9、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20管脚分别通过1K电阻连接所述单片机的1、2、3、4、5、6、7、8、21、23、24、25、26、10、11、12、13、14、15管脚，所述芯片卡槽的10管脚接地，20管脚通过1K电阻接5V电源；所述第一扩展接口的8、9、 10、 11、 12、 13、 14、 15、 16、 17、 18、 19管脚分别连接单片机的28、17、16、30、39、38、37、36、35、34、33、32管脚，所述第一扩展接口的21、22、23、24、25、26、27、28、29、30、31管脚分别连接所述液晶显示器的7、8、9、 10、 11、 12、13、14、6、5、4管脚；所述液晶显示器的3管脚通过可变电阻连接5V电源，2管脚连接5V电源，l管脚接地，20管脚接地，15、18管脚接5V电源；所述第二扩展接口的8、9、10、11、12、13、 14、 15、 16、 17、 18、 19管脚分别连接单片机的27、 17、 16、30、39、38、37、36、35、34、33、32管脚，所述第二扩展接口的29、30管脚分别通过电阻连接5V电源，21管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，22管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，23管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，24管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，25管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，26管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，27管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，28管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，37、38、39管脚分别通过1K电阻连第一接显示灯、第二显示灯、第三显示灯，所述第一接显示灯、第二显示灯、第三显示灯的另一端接地；所述单片机的18、 19管脚之间并联晶振，晶振两端并联两个22pF的电容，两个电容之间的节点接地；所述单片机的9管脚通过1K电阻接地，20管脚接地，9管脚通过22uF电容接5V电源，31、40管脚接5V电源。 由于本技术集成电路芯片测试仪采用单片机进行控制，原理简单易懂，采用按键进行控制，可以直接插入集成电路芯片，进行测试好坏和显示芯片型号、逻辑符号和逻辑表达式；或者进行按键输入芯片管脚特性，直接得到芯片型号、逻辑符号和逻辑表达式，操作方便，程序控制得到结果快速准确，测试结果显示清楚、简单、明了 ；又由于采用的芯片及元件简单，因此价格便宜；各个部分都可以独立实现功能，便于检测和修改。附图说明图1是现有集成电路芯片测试仪的框图； 图2是本技术集成电路芯片测试仪的框图； 图3是本技术集成电路芯片测试仪的5V直流源的电路图； 图4是本技术集成电路芯片测试仪的测试方法流程图； 图5是本技术集成电路芯片测试仪的电路图。具体实施方式以下结合附图对本技术集成电路芯片测试仪的实施方式进行详细说明。 参见图2，本技术的集成电路芯片测试仪采用的W78E058B4DL单片机2为控制核心，通过74系列芯片的管脚特性，来判断芯片好坏和检测芯片型号。由芯片卡槽1、单片机2、第一扩展接口 6、第二扩展接口 7，液晶显示器5、键盘3、显示灯4和5V直流源8组成，其中单片机2型号为W78E058B40DL，第一扩展接口 6和第二扩展接口 7为8155扩展芯，键盘3为2 X 8键盘，共16个按键，液晶显示器5为12864液晶显示屏，其5V直流源为自制直流电源。 芯片卡槽1用于连接待测的集成电路芯片； 键盘3用于输入待测集成电路芯片的型号或者管脚特性以及进行功能切换、确认和复位； 显示灯4用于显示测量结果； 液晶显示器5用于显示按键输入的信息，并显示集成电路芯片的芯片型号、逻辑符号和逻辑表达式； 单片机2用于存储集成电路芯片的型号、逻辑符号和逻辑表达式，测量芯片卡槽1上插入的待测集成电路芯片的好坏，并指示显示灯4和液晶显示器5显示结果，令液晶显示器5显示集成电路芯片的逻辑符号和逻辑表达式，接收键盘3键入的集成电路芯片的型号或者管脚特性，令液晶显示器5显示键入的集成电路芯片的逻辑符号和逻辑表达式。 第一扩展接口 6用于连接单片机2和液晶显示器5，扩展单片本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成电路芯片测试仪，包括芯片卡槽（１）、单片机（２）、键盘（３）、显示灯（４）、液晶显示器（５）以及５Ｖ直流源（８）；　　所述芯片卡槽（１）用于连接待测的集成电路芯片；　　所述键盘（３）用于输入待测集成电路芯片的型号或者管脚特性以及进行功能切换、确认和复位；　　所述显示灯（４）用于显示测量结果；　　所述液晶显示器（５）用于显示按键输入的信息，并显示集成电路芯片的芯片型号、逻辑符号和逻辑表达式；　　所述单片机（２）用于存储集成电路芯片的型号、逻辑符号和逻辑表达式，测量所述芯片卡槽（１）上插入的待测集成电路芯片的好坏，并指示所述显示灯（４）和所述液晶显示器（５）显示结果，令所述液晶显示器（５）显示集成电路芯片的逻辑符号和逻辑表达式，接收所述键盘（３）键入的集成电路芯片的型号或者管脚特性，令所述液晶显示器（５）显示键入的集成电路芯片的逻辑符号和逻辑表达式；　　所述５Ｖ直流源（８）为所述芯片卡槽（１）、所述单片机（２）、所述键盘（３）、所述显示灯（４）和所述液晶显示器（５）提供５Ｖ直流电源；　　其特征在于，还包括第一扩展接口（６）、第二扩展接口（７）；　　所述第一扩展接口（６）用于连接所述单片机（２）和所述液晶显示器（５），扩展所述单片机（２）的端口；　　所述第二扩展接口（７）用于连接所述单片机（２）和所述键盘（３）以及显示灯（４），扩展所述单片机（２）的端口。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孔睿，李莉，
申请(专利权)人：孔睿，
类型：实用新型
国别省市：11[中国|北京]