一种电源管理芯片测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术适用于芯片测试的技术领域，提供了一种电源管理芯片测试装置，装置包括：用于装载被测芯片的探针台；对被测芯片的电气参数进行采集的针卡；与针卡连接，根据针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元；分别与测试单元和探针台连接的主控模块，根据测试结果信号并输出控制信号，控制探针台的位移；分别为测试单元和主控模块提供电源的直流稳压电源模块。在本实用新型专利技术中，电源管理芯片测试装置是专门针对电源管理芯片进行测试的测试装置，这种测试装置对于只生产电源管理芯片的生产商来说，不仅操作简单、方便，而且降低了成本。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于芯片测试的
，尤其涉及一种电源管理芯片测试装置。
技术介绍
随着集成电路设计业的兴旺，使得社会对芯片测试的需求也越来越大，对 芯片测试既是集成电路产业链中的一环，也是集成电路产品验证出厂的关键。目前，还没有开发出专门针对电源管理芯片进行测试的测试装置，所以现 在都采用通用测试装置对电源管理芯片进行测试，这样对于只生产电源管理芯 片的生产商来说，不仅操作复杂、不方便，而且成本较高。实用^斤型内容本技术的目的在于提供一种电源管理芯片测试装置，旨在解决现在没 有开发出专门针对电源管理芯片进行测试的测试装置的问题。本技术是这样实现的， 一种电源管理芯片测试装置，所述装置包括 用于装载被测芯片的探针台； 对被测芯片的电气参数进行釆集的针卡；与所述针卡连接，根据针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号 的测试单元；分别与所述测试单元和探针台连接的主控模块，根据所述测试结果信号并 输出控制信号，控制所述4果针台的位移；分别为所述测试单元和主控模块提供电源的直流稳压电源模块； 与所述主控模块连接，为其输入控制信号的输入模块；以及4与所述主控模块连接，显示测试结果的显示模块； 上述结构中，所述测试单元包括根据所述针卡采集的电气参数，输出接触测试结果信号的接触测试模块； 根据所述针卡采集的电气参数，输出电压测试结果信号或电流测试结果信号的电压/电流测试模块；根据所述针卡采集的电气参数，输出频率测试结果信号的频率测试模块； 才艮据所述针卡采集的电气参数，输出基准电压测试结果信号的基准电压测试模块；冲艮据所述针卡采集的电气参数，输出开关功能测试结果信号的开关功能测 试模块；以及根据所述针卡采集的电气参数，输出脉宽调制频率测试结果信号的脉宽调 制频率测试才莫块；上述结构中，所述装置还包括分别与所述直流稳压电源模块、针卡和测试单元连接的修调模块，所述修 调模块根据所述测试单元生成的测试结果信号，生成校正所述被测芯片的电气 参数的修调信号，并通过针卡输出给所述被测芯片；上述结构中，所述主控模块包括分别与所述直流稳压电源模块、测试单元、显示模块和输入模块连接的微 处理器；以及分别与所述微处理器和探针台连接的TTL通讯电路； 上述结构中，所述孩史处理器为MSP430单片机； 上述结构中，所述输入模块是4建盘输入才莫块或触摸屏输入模块； 上述结构中，所述显示模块是LCD显示模块。在本技术中，电源管理芯片测试装置是专门针对电源管理芯片进行测 试的测试装置，这种测试装置对于只生产电源管理芯片的生产商来说，不仅操 作简单、方便，而且降低了成本。附图说明图1是本技术实施例提供的电源管理芯片测试装置的结构图。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图 及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体 实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。图1示出了本技术实施例提供的电源管理芯片测试装置的结构，为了便 于说明，仅示出了与本技术相关的部分。电源管理芯片测试装置包括用于装载被测芯片的探针台100;对被测芯片 的电气参数进行采集的针卡200;与针卡200连接，根据针卡200采集的电气 参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元300,作为本技术一实施例， 测试单元300包括根据针卡200釆集的电气参数，输出接触测试结果信号的 接触测试模块301;根据针卡200采集的电气参数，输出电压测试结果信号或 电流测试结果信号的电压/电流测试模块302;根据针卡200采集的电气参数， 输出频率测试结果信号的频率测试模块303;根据针卡200采集的电气参数， 输出基准电压测试结果信号的基准电压测试模块304;根据针卡200采集的电 气参数，输出开关功能测试结果信号的开关功能测试模块305;以及根据针卡 200采集的电气参it,输出脉宽调制频率测试结果信号的脉宽调制频率测试冲莫 块306。电源管理芯片测试装置还包括分别与测试单元300和探针台100连接的 主控模块400，根据测试结果信号并输出控制信号，控制探针台100的位移； 分别为测试单元300和主控模块400提供电源的直流稳压电源模块500;与主 控模块400连接，为其输入控制信号的输入模块600;与主控模块400连接， 显示测试结果的显示模块700。其中，主控模块400包括分别与直流稳压电源模块500、测试单元300、显 示模块700和输入模块600连接的微处理器401,以及分别与微处理器401和 探针台IOO连接的TTL通讯电路402。作为本技术一实施例，微处理器401 为MSP430单片机，输入模块600是键盘输入模块或触摸屏输入模块，显示模 块700是LCD显示模块。作为本技术 一 实施例，电源管理芯片测试装置还包括分别与直流稳压 电源才莫块500、针卡200和测试单元300连接的1^调才莫块800,修调冲莫块800 根据测试单元300生成的测试结果信号，生成校正^皮测芯片的电气参数的^"调 信号，并通过针卡200输出给被测芯片。该电源管理芯片测试装置的工作过程为针卡200通过接触被测芯片的管 脚，对被测芯片的电气参数进行采集，测试单元300根据针卡200采集的电气 参数进行处理，输出测试结果信号，主控模块400根据测试单元300输出的测 试结果信号进行运算，输出控制信号，控制显示模块700显示测试结果，修调 模块800根据测试单元300生成的测试结果信号，生成才交正被测芯片的电气参 数的修调信号，并通过针卡200输出给被测芯片。通过输入模块600为主控模块400输入控制信号，可以选择测试模式，主 控模块400控制探针台IOO的移动，使得电源管理芯片测试装置可连续对不同 的#皮测芯片进4亍测试。在本技术实施例中，电源管理芯片测试装置是专门针对电源管理芯片 进行测试的测试装置，这种测试装置对于只生产电源管理芯片的生产商来iJL, 不仅操作简单、方便，而且降低了成本。以上所述仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术， 凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应 包含在本技术的保护范围之内。权利要求1、一种电源管理芯片测试装置，其特征在于，所述装置包括用于装载被测芯片的探针台；对被测芯片的电气参数进行采集的针卡；与所述针卡连接，根据针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元；分别与所述测试单元和探针台连接的主控模块，根据所述测试结果信号并输出控制信号，控制所述探针台的位移；分别为所述测试单元和主控模块提供电源的直流稳压电源模块；与所述主控模块连接，为其输入控制信号的输入模块；以及与所述主控模块连接，显示测试结果的显示模块。2、 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试单元包括 根据所述针卡采集的电气参数，输出接触测试结果信号的接触测试模块； 根据所述针卡采集的电气参数，输出电压测试结果信号或电流测试结果信号的电压/电流测试;漠块；根据所述针卡采集的电气参数，输出频率测试结果信号的频率测试模块； 根据所述针卡采集的电气参数，输出基准电压测试结果信号的基准电压测试模块；根据所述针卡釆集的电气参数，输出开关本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电源管理芯片测试装置，其特征在于，所述装置包括：　　　　用于装载被测芯片的探针台；　　　　对被测芯片的电气参数进行采集的针卡；　　　　与所述针卡连接，根据针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元；　　　　分别与所述测试单元和探针台连接的主控模块，根据所述测试结果信号并输出控制信号，控制所述探针台的位移；　　　　分别为所述测试单元和主控模块提供电源的直流稳压电源模块；　　　　与所述主控模块连接，为其输入控制信号的输入模块；以及　　　　与所述主控模块连接，显示测试结果的显示模块。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：翟锋，孔晓琳，
申请(专利权)人：深圳安博电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]