一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法及装置，包括：根据用户的需求量配置信息确定存储资源；若需求量配置信息为低需求量配置信息，则仅通过片上存储资源实现对调试信息的存取；若需求量配置信息为高需求量配置信息，则通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取；可见，通过片上存储资源和片外存储资源这种两级存储结构的方式，用外接的存储资源扩展了有限的片上资源，在不增加片上资源开销的前提下，保证了对于调试信息的存取功能；并且这种预先对需求量进行配置的方式，实现了对调试信息存取模式的灵活确定，在减少片上资源和降低仿真效率之间取得平衡。

Debugging information access method and device based on super large scale chip debugging

The invention discloses a method and device debugging information access method based on VLSI chip debugging includes: storage resource demand is determined according to the configuration information of the user; if the demand of configuration information for low demand configuration information, only through the storage resource on the chip to achieve access to information on the test; if the demand for configuration information high demand for configuration information, through access to the implementation of the debugging information storage resources and external storage resources; visible through the on-chip storage resources and external storage resources the two level storage structure, storage resources with external expansion of the limited on-chip resources, without increasing the chip the resource cost under the guarantee for debugging information access function; and the demand of pre allocation and implementation of debugging information access mode is flexible Determine the balance between reducing on-chip resources and reducing simulation efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法及装置
本专利技术涉及超大规模芯片设计领域，更具体地说，涉及一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法及装置。
技术介绍
随着工艺技术以及应用领域的不断发展，芯片的复杂度不断提高，使得可测性设计对调试信息的需求和芯片测试资源的限制之间的矛盾越来越突出。一方面，芯片和系统的复杂度大幅提高意味着验证和测试阶段需要的可见的调试信息大量增多，另一方面，芯片复杂度提高意味着其本身功能的逻辑资源需求越大，在同一工艺水平和相近的芯片面积的前提下，这也意味着芯片可用于存储调试信息的寄存器资源也越少。传统上对于芯片调试信息的存取，有两种直接的实现方式。一是使用芯片上的资源，包括寄存器和ram；二是在测试或FPGA验证时，通过外接的调试信息保存方式和资源来实现。这两种方式实现都比较简单而直观，但都有很大的局限性。但是第一种的方式受限于片上资源，在芯片规模和复杂度提高的时候，能用于存取调试信息的资源反而更少；而第二种方式，对外接资源的使用比较复杂和低效，同时需要添加相应的额外的控制逻辑，这样一方面很可能对系统引入错误和调试的工作量，更重要的是有可能对芯片本身的时序和逻辑产生影响。因此，如何存取调试信息，是本领域技术人员需要解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法及装置，以实现对调试信息进行存取。为实现上述目的，本专利技术实施例提供了如下技术方案：一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法，包括：根据用户的需求量配置信息确定存储资源；若所述需求量配置信息为低需求量配置信息，则仅通过片上存储资源实现对调试信息的存取；若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取。其中，若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取，包括：若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则首先通过片上存储资源对调试信息进行存取；当所述片上存储资源存储的测试信息大于预定阈值时，将所述片上存储资源存储的调试信息写入片外存储资源；当存在对所述片外存储资源的读取需求时，从所述片外存储资源读取对应的调试信息。其中，所述片上存储资源包括：片上寄存器及ram资源。其中，还包括：根据调度信息的类型，确定所述调度信息的存储格式。其中，同一类型的调试信息，在所述片上存储资源与所述片外存储资源具有同一种存储格式。一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取装置，包括：存储资源确定模块，用于根据用户的需求量配置信息确定存储资源；调试信息存取模块，用于在所述需求量配置信息为低需求量配置信息时，仅通过片上存储资源实现对调试信息的存取；在所述需求量配置信息为高需求量配置信息时，通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取。其中，所述调试信息存取模块，包括：第一存取单元，用于在所述需求量配置信息为高需求量配置信息时，通过片上存储资源对调试信息进行存取；调试信息写入单元，用于当所述片上存储资源存储的测试信息大于预定阈值时，将所述片上存储资源存储的调试信息写入片外存储资源；调试信息读取单元，用于当存在对所述片外存储资源的读取需求时，从所述片外存储资源读取对应的调试信息。其中，所述片上存储资源包括：片上寄存器及ram资源。其中，所述调试信息存取模块还用于，根据调度信息的类型，确定所述调度信息的存储格式。其中，同一类型的调试信息，在所述片上存储资源与所述片外存储资源具有同一种存储格式。通过以上方案可知，本专利技术实施例提供的一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法，包括：根据用户的需求量配置信息确定存储资源；若所述需求量配置信息为低需求量配置信息，则仅通过片上存储资源实现对调试信息的存取；若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取。可见，在本方案中，通过片上存储资源和片外存储资源这种两级存储结构的方式，用外接的存储资源扩展了有限的片上资源，在不增加片上资源开销的前提下，保证了对于调试信息的存取功能；并且这种预先对需求量进行配置的方式，实现了对调试信息存取模式的灵活确定，在减少片上资源和降低仿真效率之间取得平衡；本专利技术还公开了一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取装置，同样能实现上述技术效果。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例公开的一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法流程示意图；图2为本专利技术实施例公开的用于存储调试信息的两级存储基本结构示意图；图3为本专利技术实施例公开的一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取装置结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例公开了一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法及装置，以实现对调试信息进行存取。参见图1，本专利技术实施例提供的一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法，包括：S101、根据用户的需求量配置信息确定存储资源；具体的，由于调试信息的保存，无论是保存到片上还是片外，都会影响仿真的速度和效率；并且，保存的信息越多越详细，仿真的速度和效率也就越差。因此，在本方案中，可通过用户预先对待保存的调试信息进行自定义，即确定需求量配置信息，该配置信息对调试信息的保存进行了区分，并且可针对仿真调试的不同阶段和需求，来自定义调试信息是否保存，以及确定保存的范围和细节，并通过宏定义作为开关进行控制。可见，通过对需求量配置信息的确定，可确定待保存的调试资源，从而灵活的确定保存调试资源的存储资源，以及外接存储资源的结构和规模。S102、若所述需求量配置信息为低需求量配置信息，则仅通过片上存储资源实现对调试信息的存取；若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取。其中，所述片上存储资源包括：片上寄存器及ram资源。其中，若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取，包括：若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则首先通过片上存储资源对调试信息进行存取；当所述片上存储资源存储的测试信息大于预定阈值时，将所述片上存储资源存储的调试信息写入片外存储资源；当存在对所述片外存储资源的读取需求时，从所述片外存储资源读取对应的调试信息。具体的，考虑到对超大规模芯片进行FPGA原型验证或者实际测试时，需要用有限的资源存储和表达尽可能多的芯片调试信息，于是将片上的寄存器、ram资源以及外接的存储资源进行结合，形成两级的存储结构，并通过灵活的配置，在必要的时候可以将大量的调试信息记录在外接存储中。因此，本实施例中，通过片上存储资源的寄存器以及ram资源，以及片外存储资源形成两本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法，其特征在于，包括：根据用户的需求量配置信息确定存储资源；若所述需求量配置信息为低需求量配置信息，则仅通过片上存储资源实现对调试信息的存取；若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取。

【技术特征摘要】
1.一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法，其特征在于，包括：根据用户的需求量配置信息确定存储资源；若所述需求量配置信息为低需求量配置信息，则仅通过片上存储资源实现对调试信息的存取；若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取。2.根据权利要求1所述的调试信息存取方法，其特征在于，若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取，包括：若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则首先通过片上存储资源对调试信息进行存取；当所述片上存储资源存储的测试信息大于预定阈值时，将所述片上存储资源存储的调试信息写入片外存储资源；当存在对所述片外存储资源的读取需求时，从所述片外存储资源读取对应的调试信息。3.根据权利要求1所述的调试信息存取方法，其特征在于，所述片上存储资源包括：片上寄存器及ram资源。4.根据权利要求1-3中任意一项所述的调试信息存取方法，其特征在于，还包括：根据调度信息的类型，确定所述调度信息的存储格式。5.根据权利要求4所述的调试信息存取方法，其特征在于，同一类型的调试信息，在所述片上存储资源与所述片外存储资源具有同一种存储格式。6.一种基于超大规模芯片调...

【专利技术属性】
技术研发人员：李拓，周恒钊，符云越，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41