用于分析扫描链和确定扫描链中的保持时间故障的数目或位置的方法技术

将扫描链的环境变量设定为被认为将导致保持时间故障的值，并且使一式样移经扫描链。该式样具有至少ｎ个连续的第一逻辑状态的比特的背景式样及其后的至少一个第二逻辑状态的比特，其中ｎ是扫描链的长度。按照以下两项之间的差异来确定扫描链中可能的保持时间故障的数目：ｉ）预期所述至少一个比特引起扫描链的输出处的转变的时钟周期，和ｉｉ）所述至少一个比特实际引起扫描链的输出处的转变的时钟周期。如果存在环境变量的某一值，在该值上扫描链正确操作，则可以确定保持时间故障的（一个或多个）位置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于分析扫描链和确定扫描链中的保持时间故障的数目或位置的方法
技术介绍
随着技术节点缩小，在为了测试目的而被添加到器件中的扫描链中发现了更多的 缺陷。这是由于本文献中描述的若干个原因而引起的。为了将新的集成电路投入市场，并 且使产率上升到可接受的水平，需要新的方法和装置来识别扫描链缺陷。扫描链是测试和产率提升的关键项。当它们损坏时，它们将被测器件(例如，芯 片)归入失败种类(fail bin)(添加到产率损失问题)并且它们掩蔽并阻止对源自组合、 时序、电力分布或时钟逻辑的其他失败的及时、精确的评估。面向测试设计(design for test,DFT)或扫描方法的方式是利用扫描触发器来替 换设计中的所有触发器。扫描触发器(或扫描单元)提供进入每个触发器的两条路径一 条路径用于设计的任务，另一路径辅助测试。扫描触发器的两种最常见方式是MUXD和LSSD方式。MUXD方式在触发器的D输入 的前端放置复用器(mux)。去往mux的选择信号(被称为扫描使能)判定是使用mux的任 务模式输入还是扫描测试输入。LSSD方式使用多个非重叠时钟其中的一对操作用于传播 任务数据的分离的主锁存器和从锁存器；另本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于分析被测器件的扫描链的方法，包括：将所述扫描链的环境变量设定为第一值，并随后将一非恒定序列式样移经所述扫描链，以判定非预期切换式样是否从所述扫描链输出；将所述环境变量设定为第二值，并随后将所述非恒定序列式样移经所述扫描链，以判定所述非恒定序列式样是否在预期的时间从所述扫描链输出；以及至少当所述扫描链ｉ）在所述环境变量的第一值上输出非预期切换式样而且ｉｉ）未能在所述预期的时间在所述环境变量的第二值上输出所述非恒定序列式样时，基于第一数目的扫描测试的结果来确定所述扫描链中的可能的保持时间故障的数目。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：斯蒂芬A坎农，理查德C道肯，阿尔佛雷德L克洛彻，加里A韦伯兰德，
申请(专利权)人：惠瑞捷新加坡私人有限公司，
类型：发明
国别省市：SG[新加坡]