用于控制访问部分扫描链和／或从其退出的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种用于提供受控的访问部分扫描链和／或从其退出的方法、装置和程序产品。该方法、装置和程序产品利用置于扫描链中要控制的扫描链部分之前的第一控制器件、置于扫描链中要控制的扫描链部分之后的第二控制器件、以及耦合到第一控制器件和第二控制器件的访问控制机制，其中访问控制机制控制访问在第一控制器件和第二控制器件之间的部分扫描链和／或从其退出。当从例程接收指令时，访问控制机制选择性地允许访问受保护部分和／或从其退出，其中例程只对授权用户可访问。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术一般涉及集成电路(IC),并且更具体地，涉及用于在器件已经离开制造工厂后，阻止未授权访问包括在IC器件中的专有信息(proprietary information )和/或从其退出的装置、方法以及计算机程序产品。
技术介绍
由于集成电路(IC)和印刷电路板(PCB)已经变得更小、更复杂和更 强大，所以测试这样的部件已经变得越来越困难。这样的高密度器件产生了 若干独特的制造挑战如在设计中的测试点的可达性(accessibility)和测试 设备的高成本。在80年代中期， 一群欧洲公司形成了称为联合欧洲测试行动组(JETAG ) 的团体，来处理设计中的测试点的可达性和测试设备的高成本的问题。JETAG 团体提出将硬件并入标准部件(由软件控制)中，由此消除对于复杂的电路 内测试设备的需要。在1988年，该构思在北美获得契机(momentum),并且 若干公司形成了联合测试访问组(JTAG)联盟来正式化该概念。在1990年， 电气和电子工程师协会(IEEE)精炼了该构思，并且创建了被称为IEEE标 准测试访问端口和边界扫描架构的1149.1标准。设计的JTAG规范使用边界扫描技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于提供受控的访问可扫描器件中的部分扫描链和／或从其退出的装置，该装置包括：置于要控制的扫描链部分之前的扫描链中的第一控制器件；置于要紧接控制的扫描链部分之后的扫描链中的第二控制器件，以及；耦合到第一控制器件和第二控制器件的访问控制机制，其中访问控制机制控制访问在第一控制器件和第二控制器件之间的部分扫描链和／或从其退出。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：约翰埃利奥特，
申请(专利权)人：国际商业机器公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]