一种测试卡制造技术

本实用新型专利技术公开一种用以对系统进行负载测试的测试卡，其主要包括一印刷电路板，该印刷电路板上设有一接口、一可编程逻辑器件、一负载电阻模块、若干开关以及一显示模块。其中，所述接口与一待测试的系统主板的插槽进行电性连接，若干开关一端与一可编程逻辑器件相连，其另一端与一负载电阻模块相接设，且该可编程逻辑器件根据所需负载电阻切换相应的开关，以接入负载，又，所述显示模块与上述可编程逻辑器件连接，以显示系统状态。通过切换不同的开关来达到对所需负载进行自行切换，而对系统进行负载测试。本实用新型专利技术所述测试卡结构简单，易实现，具有较佳的实用价值。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试卡，尤其涉及一种对系统进行负载测试的测试卡。技术背景目前，随着计算机功能的愈加强大，人们开始对计算机有了更多的要求， 除了计算机的基本功能以外，对其它扩充的能力也愈加兴趣，随之而来一些外 接的扩展卡也开始出现在一些玩家的手中，诸如声卡、网卡以及显卡等的介入。 同时，系统的稳定性及可靠性也随之愈加重要。对系统稳定性及其可靠性的考察，通常均是通过对其负载能力来进行测试， 在进行测试操作或者资源降至极低的情况下，系统能够保持稳定工作。现有对于系统的测试，在测试过程中对于PCI—E (Pedpherd Component Interconnect Express)插槽，通常是通过外插一张监测卡或者扩展卡来对其 进行测试，及配合系统测试的。综上两种方式，虽然所述监测卡能够达到检测 插槽的目的，但冲其量其只是检测该PCI—E插槽的回路是否畅通，对系统的稳定 性而言，并没有达到测试的目的，而扩展卡虽然其实测能力比较强，但存在测 试成本过高的问题。
技术实现思路
鉴于上述问题，本技术提供了一种测试卡，该测试卡通过对系统进行 负载测试，进而考察系统的稳定性及可靠性。为了达到上述目的，本技术采用了如下的技术方案 一种测试卡，该 测试卡主要包括一设有一接口的印刷电路板，该印刷电路板上设有若干开关， 所述开关一端与一可编程逻辑器件相连，其另一端与一负载电阻模块相接设， 且该可编程逻辑器件根据所需负载电阻切换不同的开关；以及一显示模块，该 显示模块与上述可编程逻辑器件连接。较佳的，本技术提供了一种测试卡，其中，所述接口为一可插接于一 系统主板的插槽上的金手指，该测试卡通过该金手指与该系统主板进行电性连 接；所述开关为一满载开关、一l/2载开关、一l/4载开关以及一动态电阻开关， 使用者根据测试需要设定可编程逻辑模块，以控制切换相应的开关，接入对应 的负载来达到测试目的。相较于先前技术，本技术提供了一种测试卡，所述测试卡利用一可编 程逻辑器件作实际负载仿真，用户可针对测试需求，切换不同负载，以达到不同需求的测试目的，得以从多方面考察系统的稳定性及其可靠性。附图说明图l为本技术的架构图具体实施方式以下结合图l对本技术作进一步的说明。请参照图l所示，为本技术的架构图。本技术提供了一种通过对系统进行负载测试，进而考察系统的稳定性及可靠性的测试卡io。所述测试卡10主要包括一印刷电路板102，该印刷电路板102上设有一可编 程逻辑器件103、若干开关104、 一负载电阻模块105以及一显示模块106。且若 干开关104—端与一可编程逻辑器件103相连，其另一端与一负载电阻模块105相 接设，并且该可编程逻辑器件103根据测试所需的负载电阻来切换不同的开关 104，所述可编程逻辑器件103还与显示模块106连接。其中，所述印刷电路板102—侧设有一接口101，于本实施例中，该接口IOI 为一金手指，且该接口101对应插接于所需测试的系统主板上设有的插槽(图中 未示)中，如此，该测试卡10通过该接口101与该系统主板进行电性连接。另外，所述可编程逻辑器件103在制造完成后由用户根据需要定义其逻辑功 能，该可编程逻辑器件103根据所需负载测试需要来切换对应的开关104，来控 制负载的接入，且该可编程逻辑器件103可控制该显示模块106的显示。又，所述开关104可根据测试需要设有一满载开关、一l/2载开关、一l/4载 开关以及一动态电阻开关。再者，所述负载电阻模块105与满载开关连接时，则接入的负载为满载状态; 该负载电阻模块105与l/2载开关连接时，则接入的负载为l/2载状态；该负载电 阻模块105与l/4载开关连接时，则接入的负载为l/4载状态；该负载电阻模块105与动态电阻开关连接时，则接入的负载为动态变化状态。此外，所述显示模块106可显示相应测试后的系统状态，该显示模块106可 设置为一指示灯，若系统稳定性好，则该指示灯亮；反之，若系统稳定性差， 则指示灯灭。进行系统测试时，先根据需要测试的负载功率设定可编程逻辑器件103，然 后将该测试卡10的接口101对应插入所需测试的系统主板的插槽中，该可编程逻 辑器件103根据负载测试需求切换开关104，令该开关104对应切换至相应的开 关，本实施例中以满载为例，则该开关104对应切换至满载开关，以接入相应的 负载，并通过对系统进行一般的开机动作，让系统长时间的处于开的状态，当 系统一旦在没有人为关机或断电的情况下关机，则可以判断系统在该满载的情 况下稳定性差，且可通过该显示模块106的显示得知系统状态。同理，也可进行负载分别为一l/2载、一l/4载以及一动态电阻时的测试， 通过接入不同的负载，测试相应负载情况下该系统的稳定性，从而从各方面考 察系统的稳定性及其可靠性。权利要求1. 一种测试卡，该测试卡主要包括一设有一接口的印刷电路板，其特征在于，该印刷电路板上设有若干开关，其一端与一可编程逻辑器件相连，其另一端与一负载电阻模块相接设，且该可编程逻辑器件根据所需负载电阻切换开关；一显示模块，与上述可编程逻辑器件连接。2. 根据权利要求1所述的测试卡，其特征在于，所述接口为一与一系统主板 的插槽电性连接的金手指。3. 根据权利要求1所述的测试卡，其特征在于，所述印刷电路板插入该插槽 中，并通过上述接口与插槽电性连接。4. 根据权利要求1所述的测试卡，其特征在于，所述若干开关分别为一满载 幵关、一l/2载开关、一l/4载开关以及一动态电阻开关。专利摘要本技术公开一种用以对系统进行负载测试的测试卡，其主要包括一印刷电路板，该印刷电路板上设有一接口、一可编程逻辑器件、一负载电阻模块、若干开关以及一显示模块。其中，所述接口与一待测试的系统主板的插槽进行电性连接，若干开关一端与一可编程逻辑器件相连，其另一端与一负载电阻模块相接设，且该可编程逻辑器件根据所需负载电阻切换相应的开关，以接入负载，又，所述显示模块与上述可编程逻辑器件连接，以显示系统状态。通过切换不同的开关来达到对所需负载进行自行切换，而对系统进行负载测试。本技术所述测试卡结构简单，易实现，具有较佳的实用价值。文档编号G01R31/319GK201083810SQ200720053579公开日2008年7月9日 申请日期2007年7月2日 优先权日2007年7月2日专利技术者林诗窈, 陈文宾 申请人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司;神达电脑股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试卡，该测试卡主要包括一设有一接口的印刷电路板，其特征在于，该印刷电路板上设有：　　　　若干开关，其一端与一可编程逻辑器件相连，其另一端与一负载电阻模块相接设，且该可编程逻辑器件根据所需负载电阻切换开关；　　　　一显示模块，与上述可编程逻辑器件连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林诗窈，陈文宾，
申请(专利权)人：佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司，神达电脑股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：44[中国|广东]