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半导体致冷块的测量装置制造方法及图纸

技术编号:2642279 阅读:223 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种半导体致冷块的测量装置其特征在于:包括电源部分,计时、控制电路,显示部分,驱动电路和接口电路;电源部分与显示部分、驱动电路连接,计时、控制电路与显示部分、驱动电路连接,驱动电路与接口电路连接,显示部分连接于驱动电路和接口电路之间。由于采用这样的结构,当测量半导致冷块制冷面、热面间电压时,只需很短时间,就可以判断该半导体致冷块是否合格。克服了现有技术中,需要接通电源,根据致冷量,判断是否合格,时间长,浪费电的缺陷。故它不仅能方便地测量半导体致冷块制冷面、热面间的电压,判断是否达到使用要求,而且方便及时,省时、省工。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量装置,尤其是一种半导体致冷块二极间电压的测量装置。
技术介绍
目前现有技术,半导体致冷块大多用于电子冰箱、饮水机等,测量半导 体致冷块是否合格,达到使用要求时,通过采用在整体上根据致冷效果,去 判断,测试周期长,费时、费工。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种半导体致冷块的测量装置,它不仅能方 便地测量半导体致冷块制冷面、热面间的电压,判断是否达到使用要求,而 且方便及吋,省时、省工。本技术是这样实现的 一种半导体致冷块的测量装置其特征在于-包括电源部分,计时、控制电路,显示部分,驱动电路和接口电路;电源部分'J显示部分、驱动电路连接,计时、控制电路与显示部分、驱动电路连接, 驱动电路与接[i电路连接,显示部分连接于驱动电路和接口电路之间。所述半导体致冷块的测量装置,其特殊之处在于所述计时、控制部电 路由单片机、电容、电阻、开关和三极管构成,电容一端、电阻"端分别与 单片机连接,电容另一端和电阻另一端连接并与开关、电源接通,开关的另 一端接地;所述三极管的基极通过电阻与单片机连接,发射极接地,集电极与驱动电路连接。 一发光二极管一端与单片机连接,另一端接地。驱本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体致冷块的测量装置其特征在于:包括电源部分,计时、控制电路,显示部分,驱动电路和接口电路;电源部分与显示部分、驱动电路连接,计时、控制电路与显示部分、驱动电路连接,驱动电路与接口电路连接,显示部分连接于驱动电路和接口电路之间。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:曹中华
申请(专利权)人:曹中华
类型:实用新型
国别省市:44[中国|广东]

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