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一种半导体致冷块的测量装置其特征在于：包括电源部分，计时、控制电路，显示部分，驱动电路和接口电路；电源部分与显示部分、驱动电路连接，计时、控制电路与显示部分、驱动电路连接，驱动电路与接口电路连接，显示部分连接于驱动电路和接口电路之间。由于采...
该专利属于曹中华所有，仅供学习研究参考，未经过曹中华授权不得商用。

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