【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术通常涉及用于电子装置的自动测试设备(ATE)，并且，更具体地，涉及用于在自动测试系统中对多时钟进行编程的技术。
技术介绍
包括在37 C.F.R.1.97和1.98下公开的信息的相关领域描述ATE系统典型地使用多个时钟用于测试电子器件。在普通的测试脚本中，使用三个或者更多的时钟——例如，数字时钟、源时钟和捕获时钟。数字时钟定义了数字I/O向DUT(device under test被测器件)施加数字信号，或者从DUT采样数字信号的速率。源时钟定义了模拟源，诸如AWG(arbitrary waveform generator任意波形发生器)，改变施加给DUT的数字信号的输出电平的速率。捕获时钟定义了数字转换器从DUT采样模拟信号的速率。器件测试通常需要协调测试系统的不同时钟。在测试DAC(digital-to-analog converter数模转换器)时，数字时钟与捕获时钟相协调用以确保数字转换器在相对于DAC输入码是已知的点处采样DAC的输出。相似地，在测试ADC(analog-to-digital converter模数转换器)时，数字时钟与源时...
【技术保护点】
一种用于配置自动测试系统的系统，用以通过耦合到参考时钟的分频器而从该参考时钟产生多个时钟，所述系统包括：具有多个输入端的界面，所述输入端用于指定多个时钟的期望频率；软件，其响应界面，用于计算分频器的值，用于建立多个时钟的期望 频率。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
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