本发明题为“保持电路板的形状”。本发明公开了一种用于保持电路板形状的示例性系统，该系统包括金属球，这些金属球被配置为响应于低于预定义力的力和低于预定义温度的温度而不全部或部分地塌陷。所述金属球被配置为支撑基板并且是所述基板和电路板之间的...

用于调节信号中的上升‑下降偏移的示例电路包括：锁存器，该锁存器包括第一锁存器输入、第二锁存器输入和锁存器输出，第一锁存器输入和第二锁存器输入中的每一个响应于信号版本的上升沿，以在锁存器输出处提供预定的逻辑电平；第一延迟电路，该第一延迟电...

一种示例性方法，诸如校准方法，该方法包括：确定单元的布置的几何形状，该几何形状由被配置为将装置移动进出单元的机器人所感知；确定目标单元在单元之间的预期位置；基于由机器人感知的几何形状来确定与预期位置的偏移；以及基于偏移来校准机器人。

一种示例性测试系统，测试系统包括被配置为在装置上以第一精度水平操作的机器人技术，以及被配置为以小于第一精度水平的精度水平操作的级。级中的每个可包括被配置为在相邻级之间传递装置的平行路径。

一种示例性测试系统，该测试系统包括测试载体，该测试载体用以保持用于测试的装置；装置梭，该装置梭用以传输所述装置；以及机器人，该机器人用以在测试载体和装置梭之间移动装置。装置梭被配置为朝向包含机器人的测试系统的级移动尚未测试的该装置中的第...

一种示例性测试系统，该测试系统包括：测试架，该测试架包括测试狭槽；第一梭和第二梭，该第一梭和第二梭被配置为同时移动以将装置朝向和远离托盘传输，其中装置中的至少一些已被测试，并且装置中的至少一些待测试；第一机器人和第二机器人，该第一机器人...

一种针对电路路径执行的示例性方法，所述示例性方法包括：接收所述电路路径中的信号；以及基于由在所述电路路径中串联电连接的电路产生的偏斜来控制所述电路路径中的所述信号的状态。通过反相或不反相所述电路路径中的所述信号来控制所述状态，使得至少部...

本发明公开了一种示例性方法，该示例性方法包括通过网络从计算系统将控制分组周期性地广播到仪器模块，其中控制分组包括表示从仪器模块接收的最后数据分组的序号的数据以及基于序号的信息，并且控制分组包括用于仪器模块中的所有仪器模块的槽，其中每个槽...

本发明提供了一种示例性系统，所述系统包括通道，通过该通道在测试装备和受测装置(DUT)之间传输信号；以及限制所述通道上的电压的限制电路。所述限制电路包括PN结器件，所述PN结器件连接以响应于所述通道上的所述电压超过限制而使电流通过。

本发明涉及示例性测试固定装置，所述测试固定装置接合测试仪和待测单元(UUT)，所述测试固定装置包括以下各项：第一电触点，所述第一电触点面向所述测试仪；第二电触点，所述第二电触点面向所述UUT；基板，所述基板由印刷的第一材料节段构成，其中...

本发明公开了一种示例性测试系统，所述测试系统包括：多个通道，其中所述多个通道中的每个被配置为供应电压以及流出电流；和电路系统，所述电路系统结合由所述多个通道流出的电流，以产生经结合的电流，用于在单一通道上输出到受测装置(DUT)，其中所...

本发明公开的一种示例性方法包括：获得包括第一时域信号的分量的正弦信号；将所述正弦信号的相位移位对应于指定时移的量以产生相移信号，并将所述相移信号转换到所述时域以产生时移信号。可以执行所述移位以更紧密地将所述第一时域信号的包络与第二时域信...

本发明提供包括测试头和探针卡组件的示例测试系统，所述探针卡组件连接到测试头。探针卡组件包括：具有电触点的探针卡，连接到探针卡以向探针卡赋予刚性的加强件，以及对探针卡组件的至少一部分进行加热的加热器。探测器被配置为将待测设备(DUT)移动...

一种实例电路板结构包括：基材；及通孔，所述通孔为导电的且通行穿过该基材以实现穿过该电路板结构的电气连接。相较于在该电路板结构的递送第二速度信号及电力的第二区域中，该基材在该电路板结构的递送第一速度信号的第一区域中较薄，且所述通孔的长度在...

本发明公开了一种示例性自动测试设备(ATE)，其包括：测试仪器，该测试仪器用于输出测试信号以测试受测试装置(DUT)，并且用于基于该测试信号接收响应信号；装置接口板(DIB)，该装置接口板连接至测试仪器，其中DIB包括应用空间，该应用空...

本发明公开了一种示例性自动测试设备(ATE)，其包括：测试仪器，该测试仪器用于输出测试信号以测试受测试装置(DUT)，并且用于接收来自该DUT的输出信号，其中该测试仪器包括前端模块，并且其中该前端模块包括用于执行与该DUT相关的功能的内...

本发明提供了一种用于确定电路径长度的示例方法，所述方法包括：将电流注入具有已知的每单位长度电容的传输线中；确定所述传输线上的响应于所述电流的电压变化的速率；基于所述电压变化来确定所述传输线的电容；以及基于所述传输线所确定的电容和所述已知...

示例性电路包括：第一采样电路，所述第一采样电路被配置成基于第一时钟信号来操作，接收数据以及对所述数据进行采样，其中所述第一时钟信号被校准以补偿所述数据的上升沿中的第一定时误差；第二采样电路，所述第二采样电路被配置成基于第二时钟信号来操作...

本发明描述了用于校准自动化测试系统的测试仪通道的设备和方法。可使用包括多个微机电(MEM)开关的继电器矩阵组件将多个测试仪通道快速连接到分析仪校准仪器，而无需对所述测试通道进行串行机器人探测。所述继电器矩阵组件可被构造在能够附接到所述测...

一种测试系统，该测试系统包括运输器，该运输器具有测试插座，其中各测试插座被配置为接收将由该测试系统测试的装置，并且各测试插座包括元件，该元件为可控的以经由热传导改变该测试插座中的装置的温度。该测试系统包括测试机架，该测试机架包括槽。该运...