【技术实现步骤摘要】
本专利技术关于一种测试电子元件的测试装置及与电子元件进行信号的授受的输入输出电路。特别是关于一种能够以良好的精度对电子元件的直流特性和交流特性进行测试的测试装置，及能够将直流信号和交流信号以良好的精度与电子元件进行授受的输入输出电路。而且本申请与下述的日本专利申请有关。在准许利用参照形式编入文献的指定国中，皆参照申请日为2001年7月17日的日本专利申请案2001-216792所说明的内容并编入本申请中，作为本申请的说明的一部分。
技术介绍
作为习知技术，进行电子元件的交流测试的测试装置一般配备有驱动比较器、将被测试元件和驱动比较器进行连接的传送线路。在进行电子元件的测试时，通过传送线路从驱动器向电子元件提供测试图案，并将电子元件根据测试图案输出的输出信号，通过传送线路在比较器进行接收，且根据该输出信号判定电子元件的好坏。而且，在进行直流测试时，将电子元件和直流电源通过传送线路进行连接，并在电子元件上施加所需的直流电压，且对通过传送线路向电子元件供给的电源电流进行检测，根据该电源电流判定电子元件的好坏。在习知的测试装置中，在传送线路中存在寄生电容成分。近年来，...
【技术保护点】
一种输入输出电路，适用于对电子元件进行信号的授受，包括：向前述电子元件供给信号的驱动器；与前述驱动器并列设置，并从前述电子元件接收信号的比较器；在前述比较器和前述电子元件之间，与前述比较器及前述电子元件串联设置的中继 电路；将前述比较器和前述中继电路进行电连接的第１传送线路；用于选择是否将前述第１传送线路和前述电子元件进行短路的第１开关；其特征在于：前述中继电路的阻抗大于前述第１传送线路的阻抗。
【技术特征摘要】
...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。