探针研磨装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种探针研磨装置，用以研磨一探针座上的复数根探针。此探针研磨装置至少包含一基座、一载台以及一驱动装置。上述的基座具有一底板以及固定于该底板侧壁的一立板，且该底板上表面具有一研磨片。载台具有一第一板块、一第二板块以及一连结于该第二板块下端的固定片，其中该第一板块与该立板之间呈水平方向的滑动配合，该第二板块与第一板块之间呈垂直方向的滑动配合，而该固定片上设有该探针座。驱动装置则连结于第二板块上端，以升降该载台，并使探针座与研磨片接触而对复数根探针进行研磨。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术关于一种探针研磨装置，特别是关于一种可利用驱动装置来 升降探针座的探针研磨装置。
技术介绍
随着科技进步，具有省电、无幅射、体积小、低耗电量、平面直角、高 解析度、画质稳定等多项优势的液晶显示器，为原先处独占地位的传统映像管屏幕(筒称CRT)带来了莫大的沖击，尤其是现今各式信息产品如手机、 笔记型计算机、数字相机、PDA、液晶屏幕等产品越来越普及，亦使得液晶 显示器(LCD)的需求量大大提升。液晶显示器主要由一液晶显示面板以及一背光模块(Backl ight module) 所组成。其中液晶显示面板是由一彩色滤光片基板(Color filter substrate)、 一薄膜晶体管数组基板(TFT array substrate)以及配置于此 两基板之间的液晶层所构成，而背光模块是用以提供此液晶显示面板所需的 面光源，以使液晶显示器达到显示的效果。由此可知，r液晶显示面板J的 优劣，直接影响了整个显示器的质量。因此，面板制造质量的优劣，自然占 有决定性的地位。 、为了解所制造出来的面板其功能是否正常，目前业界最普遍使用的面板 检测方法，乃是利用与面板相同尺寸的一探针组(Pfobe unit)。探针组具有 复数个探针座(Block),而复数根用以检测的探针便是装设于该探针座中。 其中，探针座的位置可经由设计使其对应于该些源极线的复数个源极垫以与 门极线的复数个栅极垫，再藉由探针与面板的源极垫以与门极垫的接触，检 测个别的源极垫或门极垫是否导通，便可得知每一源极线以与门极线是否正 常运作。在^r测完成后，才会进一步切割为个别的面板。请参阅图1A,为公知探针座1的側视剖面示意图。此探针座1主要具有 一电路板ll，以及复数根与电路板11连接的探针12。其中，复数根探针12 均分别具有一与电路板ll固接的连接端121,以及一用于与面板的源极垫或 门极垫做接触的接触端122。当进行面板测试时，探针座1上的每一接触端122必须与其欲接触面板 上的电极垫相互对应。同时，每一根探针12的接触端(即针尖)122到电路板 11的垂直距离T皆须具有一致性，以使每一根探针12都能准确且平均地与 面板上的每一个电极垫做电性接触，而进行不同的电性准位、参数或功能等 种种测试，并得到精确且具有参考价值的测试结果。为使探针座1在进行测试之前，每一根探针12的接触端122均具有一 定程度的平坦度，且其到电路板11的垂直距离T都相同，故必须对探针12 的接触端122进行研磨，使探针座1上的每一个接触端122均位于同一个平 面上。请参考图1B，其绘示一公知探针研磨方法。 一般来说，以往探针研磨作 业大多由操作人员手持一探针座1,将探针座1上的各个接触端122接触研 磨片2(此处为砂纸)以进行研磨。由于各个探针12是呈细针状，且探针座l 上皆设有为数众多的探针12,故操作人员在一一研磨其接触端122时，必须 相当谨慎以使每一接触端122达同一平面，十分耗时且劳心费力。然而，手工研磨探针12的方法，并无法使备接触端122皆以相同的角度被研磨。再者，操作人员亦无法精准地控制其研磨的力道。因此，对于探 针12的接触端122而言，其每一刻所承受的研磨力量以及研磨角度等均有 所不同，进而导致探针12的接触端122不能呈同一平面，如图1C所示。更 甚者，探针12也可能会因为操作人员施力的不当致使发生歪折。倘若探针12的接触端122不呈一水平面，亦即探针座1具有探针参差不齐的问题时，便有可能会在面板检测的过程中产生假情报，例如栅极断 路(Gate open)、源极断路(Source open)、源极线短路(Source line short) 或门极线短路(Gate line short)等，而影响了整颗探针座1的测试精确度， 亦或造成了探针12的损坏而无法再于后续测试作业中使用等状况。此时， 工厂必须买一颗新的探针座l来替换，反而增加了整体耗材成本。因而，在国内面板产业发展蒸蒸日上，面板测试作业的精准度日益受到 重视的同时，如何快速又精准地研磨探针座上的复数根探针，以准确地测量 出面板的各项功能以及电性参数，并控管面板的制造质量，已然成为目前各 相关领域的设计者亟思发展的目标。
技术实现思路
有鉴于此，为了有效解决上述问题，本技术提供一种探针研磨装置,5用以研磨一探针座上的复数根探针，减少探针在研磨过程中因施力不均而导 致的损坏状况。此探针研磨装置至少包含一基座、 一载台以及一驱动装置。上述的基座 具有一底板以及固定于该底板侧面的一立板，且该底板上表面具有一研磨 片。栽台具有一第一板块、 一第二板块以及一连结于该第二板块下端的固定 片，其中该第一板块与该立板之间系呈水平方向的滑动配合，该第二板块与 第一板块之间系呈垂直方向之滑动配合，而该固定片上设有该探针座。驱动 装置则连结于第二板块上端，以升降该载台，并使探针座与研磨片接触而对 复数根〗果针进行研磨。关于本技术的优点与精神，以及更详细的实施方式可以藉由以下的 实施方式以及所附图式得到进一步的了解。附图说明图1A为公知探针座的侧视剖面示意图； 图1B为公知探针研磨方法的示意图1C为利用公知探针研磨方法所研磨的探针侧面示意图2为本技术一实施例的探针研磨装置的正面示意图；以及图3为本技术一实施例的探针研磨装置的側面示意图。主要组件符号说明1 探针座 11 电路12 探针 121 连接端122接触端 T接触端至电路板的垂直距离2 研磨片3探针研磨装置31 基座311底板312 立板32载台321 第一板块3211滑套322 第二板块323固定片3231 板面3232折曲部324 第一锁合件325第二锁合件33驱动装置34定位板341螺孔35转盘36摇柄37第一滑轨38标尺39长杆说明书第4/7页具体实施方式请参考搭配参考图2以及图3,此两图分别绘示了本技术一实施例的 探针研磨装置3的正面与侧面结构示意图。首先，如图2所示，此探针研磨 装置3至少包含一基座31、 一载台32以及一驱动装置33。上述的基座31 具有一底板311以及固定于该底板311侧壁的一立板312,且该底板311上 表面具有一研磨片2。载台32设于立板的一表面，具有一第一板块321、 一连结于第一板块 321的一表面的第二板块322以及一连结于第二板块322下端的固定片323, 其中第一板块321与立板312之间呈水平方向的滑动配合，第二板块322与 第一板块321之间呈垂直方向的滑动配合，而固定片323上设有探针卡座。 如图3所示，进一步指出第一板块321以其反面设于立板312的一表面且沿 该表面水平移动，而第二板块322设于第一板块321的正面且沿第一板块321 的正面上升或下降。而驱动装置33连结于第二板块322上端，以升降载台32。其中，当载 台32下降时，探针座1上可与研磨片2接触，并沿着立板312平移而对探 针座1上的复数根探针12进行研磨。一般而言，探针座1具有复数根探针12,而此处所指的探针12指片状 排列式4笨针。然而，虽以片状排列式探针为一较佳实施例说明，但只要能符 合本技术适用范围的探针种类均应包含在内。另外，在本实施例中该研 磨片2为一砂纸，当探针座1下降时，复数根本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种探针研磨装置，用以研磨一探针座上的复数根探针，其特征在于，该研磨装置包括：　一基座，具有一底板以及固定于该底板侧面的一立板，其中该底板上表面具有一研磨片；　一载台，具有一第一板块、一第二板块以及一连结于该第二板块下端的固定片 ，其中该第一板块与该立板之间呈水平方向的滑动配合，该第二板块与第一板块之间呈垂直方向的滑动配合，而该固定片上设有该探针座；以及　一驱动装置，连结于该第二板块上端以驱动该载台升降。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李福珊，詹进在，林恒昌，邱国诚，
申请(专利权)人：华映视讯吴江有限公司，中华映管股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32[中国|江苏]