电子探针试验用样品承载与位置调节支架制造技术

本实用新型专利技术属于夹具技术领域，涉及一种针对于电子探针试验用样品承载与位置调节支架。调节支架包括底盘、外框、铜套、调节板、限位块、螺纹顶柱，每个限位块上设有二组螺纹顶柱和一个螺纹杆，两个限位块固定在底盘的两侧，外框放置在底盘上并固定在一起，底盘底部开有燕尾槽；外框的中部开有通孔，铜套置于外框的通孔中，螺纹杆顶在铜套上，铜套与调节板螺纹连接；调节板的底部开有调节槽。本实用新型专利技术采用铜套与调节板的结构，可承载最大至Φ82×17mm大小不等的样品，并利用调节板的高度调节样品分析面的位置，增加了电子探针分析样品取样大小的灵活性，特别适用于某些不宜或不易破坏的分析样品，直接将样品本身放入样品室进行无损伤试验。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于夹具
，涉及一种针对于电子探针试验用样品承载与位置调节支架。
技术介绍
现代社会文明的发展对材料和构件的电子探针微观元素浓度分布特征的分析提出越来越高的要求，材料和构件取样尺寸的大小需得到足够的保证。分析样品承载支架的可承载样品尺寸的能力和高度方向位置可调节的范围对从材料或构件取样的范围至关重要。样品承载支架足够承载所要求尺寸的样品并对其位置进行调节是进行电子探针试验的基本前提。取样的尺寸越大，对材料分析的范围就越广，就越能代表材料整体的特征，越能反映材料真实的数据；另外，对某些样品分析时不宜对其进行破坏取样，如贵重首饰、关键物证等，因此，大尺寸的样品承载支架受到了广大相关试验人员、科研人员和工程技术人员的青睐。而据我们调研发现，现有的电子探针分析试验用的样品承载支架最大可承载的样品大小在Φ25Χ15πιπι以内，很多条件下不能满足对样品的分析试验要求，因此， 有必要提高样品承载支架的承载能力。
技术实现思路
本技术的目的是提出一种能够满足大的承载样品分析试验要求的电子探针试验用样品承载与位置调节支架。本技术的技术方案是调节支架包括底盘、外框、铜套、调节板、限位块、螺纹本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：范映伟，王祺，赵文侠，陶春虎，何玉怀，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司北京航空材料研究院，试金石检测科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：