用于检测非易失式存储器的相邻区块干扰现象的检测方法技术

用于检测一非易失式存储器的相邻区块干扰现象的检测方法，包含有在一第一时间点，逐一擦除及写入一测试数据至该非易失式存储器中多个待测区块的每一区块；根据该多个待测区块的每一区块所包含的一序号，将该多个待测区块归属于一第一区块群及一第二区块群；在一第二时间点，读取该第一区块群的每一区块所存储的数据，并检查是否与该第一时间点所写入的测试数据相符合，以产生一第一检查结果；以及根据该第一检查结果，判断该第一区块群的每一区块的有效性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于一非易失式存储器的检测方法，尤其涉及一种有效检测快闪存储器相邻区块之间干扰现象的检测方法。
技术介绍
快闪存储器(Flash Memory)属于非易失性存储器的一种，能够执行近乎无数次读 写的功能。同时，由于快闪存储器的读写速度不断增快、容量不断加大，使得快闪存储器的 应用日趋广泛，小至存储卡及随身碟，大至手机、游戏机、数字相机等，以及近来流行的各类 电子产品，几乎都使用到快闪存储器，做为存储数据之用。 快闪存储器是利用浮闸(Floating Gate)的设计，依量子力学原理，将电荷以穿隧 注入(Tunnel Injection)的方式写入浮闸，也可以用反向的穿隧释出(Tunnel Release) 的方式进行擦除浮闸电荷的动作，以此作为存储数据的操作机制。快闪存储器虽然有许多 性能及价格上的优势，但是由于本身设计上的限制，造成快闪存储器的读写动作必须以区 块(Block)为单位进行读写及擦除等动作。除此之外，芯片生产过程中可能发生各种类型 的制造缺陷(Manufacturing Fault)，因而造成快闪存储器的某个记忆区块本身，其写入与 读出数据不符合的异常情况。更特别的是，区块及区块之间也可以有互相干扰的异常情况。 也就是说，当某个快闪存储器的记忆区块的数据被擦除时，其相邻记忆区块的数据也会受 到擦除动作的影响，而造成数据突然发生变化的错误现象。这种现象， 一般通称为快闪存储 器的干扰(Disturb或Crosstalk)现象。 —般而言，已知技术中用以检测及补救快闪存储器制造缺陷的方法都是针对区块 本身数据的正确性，而非就区块及区块之间的干扰现象进行检测。举例来说，已知技术的一 测试方法是针对快闪存储器中的区块逐一擦除并写入数据后，并随即读出该区块的数据比 对，以验证其功能是否正常。如果发现错误，则标示为失效区块(Bad Block)。然而，此种测 试方法不是针对检测快闪存储器中干扰型的制造缺陷而设计。请参考图1，图1为一快闪 存储器10的示意图。快闪存储器10包含有区块BlockJ) Block_2N ;其中，区块Block_K 及区块Block_K+l之间，存在有互相干扰的异常现象。也就是说，当区块Block_K被执行擦 除动作时，区块BlockJ(+l中的部分数据会因干扰现象而发生异常的变化。相反地，当区块 BlockJ(+l被执行擦除动作时，区块BlockJ(中的部分数据也会因干扰现象而发生异常变 化。简言之，区块Block_K及区块Block_K+l之间，可能因为对一相邻区块进行擦除动作， 而对本区块的数据产生电磁作用的干扰而突然变化。然而，如果沿用已知技术中所示的测 试方法，首先对快闪存储器10区块Block_K进行擦除并写入数据，并随即读出区块Block_ K的数据加以比对，由于区块BlockJ(的制造缺陷属于干扰型，其数据检验结果将显示一切 正常。接下来，对区块BlockJ(+l擦除并写入数据，并随即读出区块BlockJ(+l的数据进行 比对，其结果也是一切正常。由此可知，已知技术中所示的测试方法，无法检测得到快闪存 储器中干扰型的制造缺陷。
技术实现思路
因此，本专利技术的主要目的即在于提供一种用于检测非易失式存储器的干扰现象的 检测方法。 本专利技术公开一种可用于检测一非易失式存储器的一相邻区块干扰现象的检测方法，该检测方法包含有在一第一时间点，逐一擦除及写入一测试数据至该非易失式存储器 中多个待测区块的每一区块；根据该多个待测区决的每一区块所包含的序号，将该多个待测区块归属于一第一区块群及一第二区块群；在一第二时间点，读取该第一区块群的每一 区块所存储的数据，并检查是否与该第一时间点所写入的测试数据相符合，以产生一第一 检查结果；以及根据该第一检查结果，判断该第一区块群的每一区块的有效性。附图说明 图1为已知一快闪存储器的示意图。 图2为本专利技术实施例的一检测流程的示意图。 图3为本专利技术实施例的另一检测流程的示意图。主要元件符号说明10 快闪存储器Block_0 Block_2N 区块 20 、30 流程 200 、210 、220 、230 、240 、250 、300 、3 10 、320 、330 、340 、350 、360 、370 、380步骤具体实施例方式本专利技术中所言的非易失式存储器，较佳地，可为一NAND型快闪存储器，或其它业 界常见的非易失式存储器。此外，为求简洁，本专利技术中非易失式存储器的区块的分布及标示 相同于图1所示的快闪存储器10。 请参考图2，图2为本专利技术实施例的一检测流程20的示意图。检测流程20用来检 测一非易失式存储器的相邻区块的干扰现象，其包含有以下步骤 步骤200:开始。 步骤210 :在一第一时间点，逐一擦除及写入一测试数据至该非易失式存储器中 多个待测区块的每一区块。 步骤220 :根据该多个待测区块的每一区块所包含的一序号，将该多个待测区块 归属于一第一区块群及一第二区块群。步骤230 :在一第二时间点，读取该第一区块群的每一区块所存储的数据，并检查是否与该第一时间点所写入的测试数据相符合，以产生一第一检查结果。步骤240 :根据该第一检查结果，判断该第一区块群的每一区块的有效性。 步骤250:结束。 根据检测流程20，本专利技术在第一时间点，逐一擦除及写入测试数据至每一待测区 块，并根据每一待测区块所包含的序号，将所有待测区块归属于第一区块群或第二区块群。 接着，在一第二时间点，读取第一区块群的每一区块所存储的数据，并检查是否与该第一时间点所写入的测试数据相符合，并据以判断第一区块群的每一区块的有效性。 较佳地，第一时间点领先于第二时间点，且第一区块群包含所有奇数序号的区 块，而第二区块群包含所有偶数序号的区块。因此，以图1为例，待测流程20逐一对区块 BlockJ) Block—2N进行擦除及写入测试数据的动作。其次，对奇数序号的区块Blockj、 Block_3. . . Block(2N-1)，逐一读取并检查其是否与先前写入的数据相符合。如果一区块 Block_x的数据与先前所写入的测试数据相符，则判断其仍然是一有效区块；如果数据不 完全符合，则判断其为一失效区块。例如，区块Block_K及区块Block_K+l为一成对且会互 相干扰的两个区块。假设依时间顺序，区块BlockJ(比区块BlockJQ较早执行擦除及将测 试数据写入的动作，因此，时间点较后执行擦除动作的区块Block_K+l会干扰区块Block_ K，使区块Block_K的数据发生错误。如果K为一奇数，则奇数序号区块Block_K的数据便 可被检测到错误。值得注意的是，互相干扰的区块Block_K及区块Block_K+l两者之间，当 有一个区块被标示为失效区块而不再被使用时，另一区块仍然有效。也就是说，如果将区块 Block_K标示为失效区块，则系统将不再对区块Block_K进行擦除动作。区块Block_K+l将 不再受到区块BlockJ(擦除动作的干扰而发生错误，换句话说，区块BlockJ(+l仍然可被正 常使用。因此，区块Block_K及区块Block_K+l两者之间祗要择一标示为失效区块即可。 除此之外，检测流程20中的奇数序本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测一非易失式存储器的一相邻区块干扰现象的检测方法，包含有：在一第一时间点，逐一擦除及写入一测试数据至该非易失式存储器中多个待测区块的每一区块；根据该多个待测区块的每一区块所包含的一序号，将该多个待测区块归属于一第一区块群及一第二区块群；在一第二时间点，读取该第一区块群的每一区块所存储的数据，并检查是否与该第一时间点所写入的测试数据相符合，以产生一第一检查结果；以及根据该第一检查结果，判断该第一区块群的每一区块的有效性。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王政斌，
申请(专利权)人：联咏科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]