测试储存装置的方法及其系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测试储存装置的方法，包含：（ａ）将一特定测试字符串（ｐａｔｔｅｒｎ）写入一储存装置的一储存单位；（ｂ）读取写入该储存单位的该特定测试字符串；（ｃ）判断所读取的该特定测试字符串之一错误位数；以及（ｄ）若该错误位数大于一错误位临界值，则判定该储存单位损坏，其中该错误位临界值系小于该特定测试字符串相对应之一错误校正码之一可校正位数。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试储存装置的方法及其系统，特别涉及先大略测试储存装置是否有缺陷，再测试储存装置是否在某些特性之缺陷的测试储存装置的方法及其系统。
技术介绍
—般在测试如内存之类的储存装置时，皆是将大量的测试字符串(pattern)写入 待测的储存装置中，再一一将写入的测试字符串读出与一标准写入结果比对，以判断储存 装置是否有缺陷。然而，此类的作法往往需要将大量的测试字符串写入至待测储存装置中， 因此会不断的重复读取、写入的动作，如此不但废时，而且内存在写入读取的次数上本身便 有次数限制，因此对内存之耐久度有不好的影响。
技术实现思路
因此，本专利技术之一目的为提供一种测试储存装置的方法及其系统，其不须使用大 量测试字符串来检测储存装置。并提供一种调整错误位数之临界值的机制，使内存的测试 更有效率。 本专利技术之实施例揭露了一种测试储存装置的方法，包含(a)将一特定测试字符 串(pattern)写入一储存装置的一储存单位；(b)读取写入该储存单位的该特定测试字符 串；(c)判断所读取的该特定测试字符串之l错误位数；以及(d)若该错误位数大于一错误 位临界值，则判定该储存单位损坏，其中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试储存装置的方法，其特征在于包含：（ａ）将一特定测试字符串写入一储存装置的一储存单位；（ｂ）读取写入该储存单位的该特定测试字符串；（ｃ）判断所读取的该特定测试字符串之丨错误位数；以及（ｄ）若该错误位数大于一错误位临界值，则判定该储存单位损坏，其中该错误位临界值系小于该特定测试字符串相对应之丨错误校正码之丨可校正位数。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：曾文武，
申请(专利权)人：慧帝科技深圳有限公司，慧荣科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]